LAPORAN PRAKTIKUM PETROLOGI“PENGUKURAN GRAIN SIZE KRISTAL

MENGGUNAKAN XRD”

Dosen Pengampu:Sukir Maryanto, Ph.D

Oleh:Chusnul Fuad | 125090700111020

Asisten:Sukma Wahyu Fitriani

LABORATORIUM FISIKA MATERIALJURUSAN FISIKA

FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAMUNIVERSITAS BRAWIJAYA

MALANG

2015

BAB I

PENDAHULUAN

1.1 Latar BelakangPenentuan karakter structural mineral, baik dalam bentuk

pejal atau partikel, kristalin atau amorf, merupakan intidalam ilmu material. Pendekatan umum yang diambil adalahmeneliti material dengan berkas radiasi atau partikelberenergi tinggi. Radiasi bersifat elektromagnetik dan dapatbersifat monokromatik maupun polikromatik. Dengan memanfaatkanhipotesa De Broglie mengenai dualitas frekuensi radiasi danmomentupartikel, maka gagasan tentang panjang gelombang dapatditerapkan dalam eksitasi electron.

Sinar X adalah suatu radiasi elektromagnetik dengan panjanggelombang ( λ ≈ 0,1 nm) yang lebih pendek dari panjanggelombang cahaya tampak (λ = 400 – 800 nm). apabila electronditembak dengan cepat dalam suatu ruang vakum maka akandihasilkan sinar X. Radiasi yang dipancarkan dapat dipisahkanmenjadi dua kelompok yaitu (a) spectrum kontinu dengan rentangpanjang gelombang yang lebar dan (b) spectrum garis sesuaikarakteristik logam yang ditembak.

Gejala interfrensi dan difraksi adalah hal umum dalam bidangcahaya. Percobaan Fisika dasar standar untuk menentukan jarakantar kisi dilakukan dengan mengukur sudut berkas difraksicahaya yang diketahui panjang gelombangnya. Persyaratan yangharus dipenuhi adalah kisi bersifat periodic dan panjanggelombang cahaya memiliki orde yang sama dengan jarak kisiyang akan ditentukan.

Percobaan ini secara langsung dapat dikaitkan denganpenerapan sinar X untuk menentukan jarak kisi dan jarak antaratom dalam Kristal. Pembahasan difraksi kisi Kristal dengankisi-kisi tiga dimensional cukup rumit, namun Braggmenyederhanaknnya dengan menunjukkan bahwa difraksi ekivalendengan pemantulan simetris oleh berbagai bidang Kristal,asalkan persyaratan tertentu dipenuhi.

Pemanfaatan metode difraksi memegang peranan penting untukanalisis padatan kristalin. Selain untuk meneliti cirri utamastruktur, seperti parameter kisi dan tipe struktur Kristal,juga dimanfaatkan untuk mengetahui rincian lain sepertisusunan berbagai jenis atom dalam Kristal, kehadiran cacat,orientasi, ukuran butir dan lain-lain.

1.2 TujuanTujuan dari percobaan ini adalah untuk mengetahui

pengoprasian instrument difraksi sinar X PHYWE dalamkarakterisasi bahan dan menentukan ukuran buitr (grain size)Kristal LiF dengan prinsip sinar X.

BAB II

Dasar Teori

2.1 Dasar Produksi Sinar X

Sinar-X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm C. Rontgen padatahun 1895dari universitas Worzburg jerman. Penemuan ini berawaldari pemberian bedapotensial antara katoda dan anoda hinggabeberapa kilovolt pada tabung sinar-X.Perbedaan potensial yangbesar ini mampu menimbulkan arus elektron sehinggaelektron-elektron yang dipancarkan akibat pemanasan filamen akandipercepatmenuju target dalam sebuah tabung hampa udara. Gambar2.1 berikut ini adalahgambar skema tabung Sinar-X (Hoxter,1982).

Gambar 2.1 Skema tabung sinar-X (Hoxter,1982)

Keterangan gambar:1. Katoda 4. Keping wolfarm 7. Anoda2. Filamen 5. Ruang hampa 8. Diapragma3. Bidangfokus 6. Selubung 9. Berkas sinar guna

Prinsip kerja dari pembangkit sinar-X dapat dijelaskansebagai berikut, beda potensial yang diberikan antara katoda dananoda menggunakan sumber yang bertegangan tinggi. Produksi sinar-X dihasilkan dalam suatu tabung berisi suatu perlengkapan yangdiperlukan untuk menghasilkan sinar-X yaitu bahan penghenti atausasaran dan ruang hampa.

Elektron bebas terjadi karena emisi dari filamen yangdipanaskan. Dengan sistem fokus, elektron bebas yang dipancarkanterpusat menuju anoda. Gerakan elektron ini akan dipercepat darikatoda menuju anoda bila antara katoda dan anoda diberi bedapotensial yang cukup besar.

Gerakan elektron yang berkecepatan tinggi dihentikan olehsuatu bahan yang ditempatkan pada anoda. Tumbukan antara elektrondengan anoda ini menghasilkan sinar-X, pada tumbukan antaraelektron dengan sasaran akan ada energi yang hilang. Energi iniakan diserap oleh sasaran dan berubah menjadi panas sehinggabahan sasaran akan mudah memuai. Untuk menghindarinya bahansasaran dipilih yang berbentuk padat. Bahan yang biasa digunakansebagai anoda adalah platina, wolfram, atau tungsten.

Untuk menghasilkan energi sinar-X yang lebih besar, teganganyang diberikan ditingkatkan sehingga menghasilkan elektron dengankecepatan yang lebih tinggi. Dengan demikian energi kinetik yangdapat diubah menjadi sinar-X juga lebih besar. (Hoxter,1982)

Wilhelm Conrad Rontgen seorang ahli fisika di UniversitasWurzburg, Jerman pertama kali menemukan sinar Rontgen pada tahun1895, sewaktu melakukan eksperimen dengan sinar katoda saat itudia melihat timbulnya sinar fluorosensi yang berasal Kristalbarium platinosianida dalam tabung Crookes-Hittorf yang dialirilistrik. Kemudian dia melanjutkan penelitiannya dan menemukansinar yang disebutnya sebagai sinar baru atau sinar-X. ( Rasad,2005)

Sinar-X merupakan gelembong elektromegnetik, dimana dalamproses terjadinya memiliki energi yang berbeda-beda. Perbedaantersebut didasarkan pada energi kinetik elektro. Sinar-X yangberbentuk ada yang memiliki energy sangat rendah sesuai denganenergi electron pada saat timbulnya sinar-X. juga ada yangberenergi tinggi, yakni berenergi sama dengan energi kinetikelektro pada saat menumbuk target anode.

Pada dasarnya pesawat sinar-X terdiri dari tiga bagianutama, yaitu tabung sinar-X , sumber tegangan tinggi yang mencatutegangan listrik pada kedua elktrode dalam tabung sinar-X danunit pengatur bagian pesawat sinar-X.

Proses terjadinya sinar-X adalah sebagai berikut Filamenpada katoda dipanaskan dengan pemberian arus generator sehinggaterbentuk elektron - elektron pada permukaan katoda. Dalam halini anoda bermuatan positif terhadap katoda. Ketrika diberikanbeda potensial antara katoda dan anoda, maka electron akanmenumbuk anoda. Dari tumbukan inilah terbentuk sinar-X 1 % dan 99% energi panas. ( Rasad,2005 )

2.2 Difraksi Sinar-X oleh Kristal

Sejarah mengenai difraksi sinar-x telah berjalan hampir satuabad ketikatulisan ini disusun. Tahun 1912 adalah awal dari studiintensif mengenai difraksisinar-x. Dimulai dari pertanyaan M. vanLaue kepada salah seorang kandidat doktor P.P. Ewald yangdibimbing A.Sommerfeld, W. Friedrich (asisten risetSommerfeld) menawarkan dilakukannya eksperimen mengenai'difraksi sinar-x '. Pada saat itu eksperimen mengenai hamburansinar-x sudah dilakukan oleh Barkla.Laue mengawali pekerjaannyadengan menuliskan hasil pemikiran teoretiknya dengan mengacu padahasil eksperimen Barkla Laue berargumentasi,ketika sinar-xmelewati sebuah kristal, atom-atom pada kristal bertindak sebagaisumber-sumber gelombang sekunder, layaknya garis-garis pada geritan optic (optical grating ). Efek-efek difraksibisa jadi menjadi lebih rumit karena atom-atom tersebut membentukpola tigadimensi.

Eksperimen difraksi sinar-x yang pertama dilakukan oleh Herren Friedrich danKnipping menggunakan Kristal tembaga sulfat dan berhasil

memberikan hasil pola difraksi pertama yang kemudian menjadiinduk perkembangan difraksi sinar-x selanjutnya .

Difraksi sinar-x merupakan proses hamburan sinar-x olehbahan kristal. Pembahasan mengenai difraksi sinar-x mencakuppengetahuan yang berhubungan dengan hal-hal berikutini:1.pembentukan sinar-x2. hamburan (scattering) gelombangelektromagnetik 3. sifat kekristalan bahan (kristalografi).Dengan demikian, difraksi sinar-x adalah topik lanjut di bidangfisika(ataukimia) yang memerlukan pengetahuan dasar yang cukupbanyak dan komplek. (Maya, 2015)

Difraksi Sinar X merupakan teknik yang digunakan dalamkarakteristik material untuk mendapatkan informasi tentang ukuranatom dari material kristal maupun nonkristal. Difraksi tergantungpada struktur kristal dan panjang gelombangnya. Jika panjanggelombang jauh lebih dari pada ukuran atom atau konstanta kisikristal maka tidak akan terjadi peristiwa difraksi karena sinarakan dipantulkan sedangkan jika panjang gelombangnya mendekatiatau lebih kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadiperistiwa difraksi. Ukuran atom dalam orde angstrom (Å) makasupaya terjadi peristiwa difraksi maka panjang gelombang darisinar yang melalui kristal harus dalam orde angstrom (Å).(Chorkendroff, 2003)

2.3 Difraktometri Sinar X

Metode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui strukturdari lapisan tipis yang terbentuk. Sampel diletakkan pada sampelholder difraktometer sinar X. Proses difraksi sinar X dimulaidengan menyalakan difraktometer sehingga diperoleh hasil difraksiberupa difraktogram yang menyatakan hubungan antara sudutdifraksi 2θ dengan intensitas sinar X yang dipantulkan. Untukdifraktometer sinar X, sinar X terpancar dari tabung sinar X.Sinar X didifraksikan dari sampel yang konvergen yang diterimaslit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus sinar X. Sinar

X ini ditangkap oleh detektor sintilator dan diubah menjadisinyal listrik. Sinyal tersebut, setelah dieliminasi komponennoisenya, dihitung sebagai analisa pulsa tinggi. Teknik difraksisinar x juga digunakan untuk menentukan ukuran kristal, regangankisi, komposisi kimia dan keadaan lain yang memiliki orde yangsama. (Vanila, 2015)

Hasil analisis dengan XRD adalah berupa difraktogram yangberupa susunan garis atau puncak dengan intensitas dan posisiberbeda-beda yang spesifik pada material yang dianalisis. Tiapfase kristalin mempunyai susunan difraktogram yang karakteristik,maka dapat digunakan sebagai sidik jari untuk uji identifikasi[3]. Penentuan kesesuaian struktur kristal yang terbentukdilakukan dengan mencocokkan setiap puncak yang muncul padadifraktogram pada nilai sudut 2θ dan d tertentu hasil analisisdengan data dari JCPDS (Joint Committee Powder Diffraction Standar)sehingga diperoleh informasi orientasi bidang kristal yangterbentuk. Jika semua orientasi bidang kristal teridentifikasidipastikan struktur kristal terdapat kesesuain.

Difraksi sinar X dapat digunakan untuk menentukan ukurankristal (crystallite size) dengan fase tertentu . (Monshi, 2012)

2.4 Ukuran Butir Kristal

Kristal terbentuk dari komposisi atom-atom, ion-ion ataumolekul molekul zat padat yang memiliki susunan berulang danjarak yang teratur dalam tiga dimensi. Pada hubungan lokal yangteratur, suatu kristal harus memiliki rentang yang panjang padakoordinasi atom-atom atau ion dalam pola tiga dimensi sehinggamenghasilkan rentang yang panjang sebagai karakteristik daribentuk kristal tersebut.

Ditinjau dari struktur atom penyusunnya, bahan padatdibedakan menjadi tiga yaitu kristal tunggal (monocrystal),polikristal (polycrystal), dan amorf (Smallman, 2001). Pada kristaltunggal, atom atau penyusunnya mempunyai struktur tetap karenaatom-atom atau molekul-molekul penyusunnya tersusun secarateratur dalam pola tiga dimensi dan pola-pola ini berulang secaraperiodik dalam rentang yang panjang tak berhingga. Polikristaldapat didefinisikan sebagai kumpulan dari kristal-kristal tunggal

yang memiliki ukuran sangat kecil dan saling menumpuk yangmembentuk benda padat.

Struktur amorf menyerupai pola hampir sama dengan kristal,akan tetapi pola susunan atom-atom, ion-ion atau molekul-molekulyang dimiliki tidak teratur dengan jangka yang pendek. Amorfterbentuk karena proses pendinginan yang terlalu cepat sehinggaatom-atom tidak dapat dengan tepat menempati lokasi kisinya.Bahan seperti gelas, nonkristalin ataupun vitrus 7 yaitu memilikistruktur yang identik dengan amorf . Susunan dua-dimensionalsimetris dari dua jenis atom yang berbeda antara kristal danamorf ditunjukan pada Gambar 2.2

.Gambar 1. (a). Susunan atom kristal, (b). Susunan atom amorf.

(Smallman, 2001)

Susunan khas atom-atom dalam ristal disebut struktur ristal.Struktur ristal dibangun oleh sel satuan (unit cell) yang merupakan sekumpulan atom yang tersusun secara khusus, secara ristal berulang dalam tiga dimensi dalam suatu kisi ristal (crystal lattice).

Geometri ristal dalam ruang dimensi tiga yang merupakan karakteristik ristal memiliki pola yang berbeda-beda. Suatu ristal yang terdiri dari jutaan atom dapat dinyatakan dengan ukuran, bentuk, dan susunan sel satuan yang berulang dengan pola

pengulangan yang menjadi rist khas dari suatu ristal. (West, 1989)

BAB IIITata Laksana Percobaan

3.1 Tata Laksana Percobaan

Percobaan difraksi sinar-X diawali dengan menyalakan tombolpower di bagian belakang sinar-X PHYWE dan di bagian depan akanmuncul tampilan yang menandakan bahwa alat telah menyala.Selanjutnya setelah instrument ini dinyalakan, bagian jendeladibuka dan sempel dipasng. Bila diperlukan collimator maka pasangpula collimator di sebelah kiri bagian dalam ruangan. Setelahsampel dipasang dengan benar lalu jendela ditutup dengan rapat.Jendela ini harus ditutup dengan rapat agar tidak terjadi radiasisumber sinar-X ke bagian luar ketika XRD dijalankan. Selain itujika jendela tidak ditutup dengan rapat maka instrument ini tidakakan bekerja memindai sampel.

Selanjutnya XRD dioperasikan melalui computer dengan program“measure”. Cara menjalankannya adalah klik start, kemudianmeasure dan tampilan awal program akan dimunculkan. Kemudian opsi

“OK” diklik dilanjutkan dengan “file” dan “new measurement.Selanjutnya tampilan yang meminta anda untuk mengisi data sampelyang ingin diuji akan ditampilkan, serta penggunaan daya, domainyang diukur, dan penggunaan filter/collimator. Setelah semuadiisi dengan benar, klik “continue”.

Kemudian jendela baru akan ditampilkan. Klik “startmeasurement” dan pengukuran akan dimulai. Klik “stop measurement”dan pengukuran akan dihentikan. Setelah selesai dilakukanpengukuran, data yang diperoleh disimpan baik grafik maupundatanya:

a. Penyimpanan grafik : file.msrKlik file – save measurement - save

b. Penyimpanan data : file.txtKlik measurement – export data – centang save to file - ok

BAB IVPembahasan

4.1 Data Hasil Percobaan4.1.1 Kolimator Kecil

K = 0,94λ = 54,18 pm2θ = 100°

20 23 26 29 32 35 38 41 44 47 50 53 56 59 62 65 68 71 74 77 80 83 86 89 92 95 980

5

10

15

20

25

30

Chart Title

Gambar 4.1 Grafik percobaan dengan kolimator kecil

4.1.2 Kolimator Sedang

K = 0,94λ = 54,18 pm2θ = 60°

20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42 44 46 48 50 52 54 56 58 600

10

20

30

40

50

60

70

Chart Title

Gambar 4.2 Grafik percobaan dengan kolimator sedang

4.1.3 Kolimator Besar

K = 0,94λ = 54,18 pm2θ = 60°

20.0 24.6 29.2 33.8 38.4 43.0 47.6 52.2 56.8 0

20

40

60

80

100

120

Kolimator Besar

Axis Title

Axis

Tit

le

Gambar 4.3 Grafik percobaan dengan kolimator besar

4.2 Perhitungan4.2.1 Kolimator Kecil

38 38.5 39 39.5 40 40.5 41 41.5 420

5

10

15

20

25

30

Series2

K=0,94λ=54,18pm

2θ=100°θ=50°B=39,4−38,6 ¿0,8°¿0,8180

×π

¿0,014rad

B=Kλ

Lcosθ

L=Kλ

Bcosθ

¿0,94×54,180,014cos50

¿50,920,009

¿5657pm

4.2.2 Kolimator Sedang

35 36 37 38 39 40 41 420

10

20

30

40

50

60

70

Series2

K=0,94λ=54,18pm

2θ=60°θ=30°B=40,3−39,4 ¿0,9°¿0,9180

×π

¿0,0157rad

B= KλLcosθ

L=Kλ

Bcosθ

¿ 0,94×54,180,015cos30

¿50,920,013

¿3916pm

4.2.2 Kolimator Besar

34.0 36.0 38.0 40.0 42.0 0

20

40

60

80

100

120

Series2

K=0,94λ=54,18pm

2θ=60°θ=30°B=40,1−39,3 ¿0,8°¿0,8180

×π

¿0,014rad

B= KλLcosθ

L=Kλ

Bcosθ

¿ 0,94×54,180,014cos30

¿50,920,012

¿4243pm

4.3 Pembahasan4.3.1 Analisa Prosedur

Pada percobaan ini digunakan alat difraksi sinar-X PHYWEunutk menentukan ukuran butir Kristal LiF dengan prinsip sinar X.Peralatan yang digunakan pada percobaan ini selain pendifraksisinar-X PHYWE diantaranya adalah, objek berupa Kristal LiF yangtelah berada dalam wadah yang sesuai dengan tempat objek di dalamalat difraksi. Kemudian ada beberapa kolimator yang berbedaukuran yang berfungsi sebagai pengatur besar kecilnya intensitassinar X yang dipancarkan. Selain itu ada computer yang terhubungdengan alat difraksi yang telah dilengkapi dengan softwaremeasure dan Ms. Excel.

Pada tahap pertama percobaan ini alat difraksi disaipkanterlebih dahulu dengan menyalakan tombol power dibelakang bagianalat hingga ada tampilan di layar bagian depan. Setelahdipastikan alat telah menyala, jendela tempat objek dibukaperlahan karena jendelanya terbuat dari kaca. Selanjutnya objekberupa Kristal LiF yang telah dimasukkan kedalam wadah khususuntuk alat difraksi dipasang di tempat objek diikuti dengan

pemasangan kolimator di bagian kiri jendela dengan ukuran sesuaidengan kebutuhan. Setelah dipastikan objek dan kolimator telahterpasang dengan benar maka jendela ditutup dengan rapat agartidak terjadi radiasi dinar X ke bagian luar ketika percobaandilakukan. Kemudian operasikan software measure untuk melakukanpengaturan mulai dari sudut Kristal, sudut detector, penggunaankolimator, jenis sampel, penggunaan daya, dan domain yang diukur.Pastikan data yang diisaikan pada software benar agar tidakmempengaruhi hasil pengukuran. Selanjutnya setelah dilakukanprosedur pengukuran dengan memulai tombol start pada softwarehingga data didapatkan, data harus disimpan dalam bentuk excelagar dapat dibuat grafik dan dianalisa.

4.3.2 Analisa Hasil

Dari grafik yang telah diperoleh dari pengolahan data mentahdengan Ms. Excel dapat diamati bahwa grafik yang dihasilkan olehmasing-masing kolimator (kecil, sedang, besar) memiliki trendyang serupa dimana terdapat saat dimana grafik mengalami penaikandan penurunan yang signifikan untuk sesaat. Saat dimanaterjadinya penaikan grafik inilah saat dimana Kristal LiFterdeteksi oleh XRD.

Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X dijatuhkan pada sampel kristal, maka bidang kristal itu akanmembiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama denganjarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskanakan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagaisebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang kristal yang terdapatdalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidangkristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tigadimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran inikemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampirsemua jenis material. Standar ini disebut JCPDS.

Dari hasil pengukuran ukuran Kristal melalui prosesperhitungan dengan menggunakan rumus :

L=Kλ

Bcosθ

Didapatkan hasil yang berbeda untuk setiap jenis kolimator yangdigunakan yaitu 5657 pm untuk kolimator kecil, 3916 untukkolimator sedang dan 4243 untuk kolmator besar .

Jika diidentifikasi lebih lanjut dari tahap pengukuran,seharusnya factor besar kecil kolimator yang berbeda tidakmembuat hal ini terjadi karena didalam program telah disettinguntuk jenis kolimator yang berbeda. Maka kemungkinan besar nilaiyang berbeda ini disebabkan oleh kekeliruan pada saat mencarinilai B yang didapatkan dari interpretasi grafik dimana tiaporang akan memiliki interpretasi yang berbeda.

Lithium Flouride adalah senyawa anorganik dengan rumus kimiaLiF. Senyawa ini tidak berwarna atau berwarna bening, strukturnyapadat, transisinya menjadi berwarna putih dengan mengurangiukuran kristalnya. Kristal ini tberbau dan memiliki rasa pahit-asam. Strukturnya kurnag lebih sama dengan natrium klorida namunkurang larut dalam air. Kebanyakan digunakan untuk bahan garambesi.

BAB VPenutup

5.1 Kesimpulan

Pada percobaan ini digunakan XRD jenis PHYWE yangmemanfaatkan prinsip pembiasan cahaya untuk menentukan ukuranbutir Kristal. Ketika sinar X menumbuk kristal, sebenarnyaelektron yang terdapat di sekeliling atom atau ionlah yangmenyebabkan terjadinya pemantulan. Makin banyak jumlah elektronyang terdapat disekeliling atom pada suatu bidang, makin besarintensitas pemantuklan yang disebabkan oleh bidang tersebut danakan mengakibatkan makin jelasnya spot yang terekam. Inidigambarkan oleh trend grafik yang mengalami penaikan sertaoenurunan yang signifikan.

5.2 Saran

Untuk selanjutnya praktikum harap lebih bervariasi lagi

Daftar Pustaka

Chorkendroff, J.W. 2003. Concepts of Modern Catalysis and Kinetics. New York : Wliey-VCH GmbH&Co

Hoxter, Erwin. 1982 . Practical radiography: Principles, applications . New York : John Wiley & Sons Ltd.

Maya, Gita. Difraksi Sinar-X oleh Kristal. 9 Maret 2015. https://www.academia.edu/6206812/Difraksi_BAB_II_DIFRAKSI_SINAR-X_OLEH_KRISTAL

Monshi, Ahmad., Mohammad, R. F., Mohammad, R. M., 2012. Modified Scherrer Eqquation to Estimate More Accurately Nano-Crystallite Size Using XRD. World Journal of Nano Science andEngineering, Vol. 2, pp. 154-160.

Rasad, Sjahriar. 2005. Radiologi Diagnostik (Edisi 2) . Jakarta :Balai Penerbit FK UI.

Smallman.2001. Element of X-Ray Diffraction. Third Edition, New Jersey : Prentice Hall.

Vanila, Alvina. Prinsip Dasar Spektoroskopi Difraksi Sinar-X. 9 Maret 2015 . http://orybun.blogspot.com/2009/05/prinsip-dasar-spekstroskopi-difraksi.html

West, Anthony. R., 1989. Solid State Chemistry and Its Application. New York: John Wiley and Sons.