Pendugaan Umur Simpan pada Wafer

Laporan Praktikum Hari/Tanggal : Jumat / 5Juni 2015

Pengemasan Pangan Waktu : 13.00-17.00 WIB

Dosen : Dwi Yuni Hastati, STP,DEA.

Asisten Dosen : Alfredo R. Kresna, A.Md

PENDUGAAN UMUR SIMPAN (ARRHENIUS)

Kelompok 6

Dania Syamsunita Sinaga J3E214099

Melisa Nur Fitriana J3E114018

Tiara Halwa Tsani J3E214125

Tini Anggraeni J3E114042

SUPERVISOR JAMINAN MUTU PANGAN

PROGRAM DIPLOMA

INSTITUT PERTANIAN BOGOR

2015

BAB 1

PENDAHULUAN

1.1 Latar Belakang

Wafer merupakan salah satu jenis biskuit yang

sudah dikenal luas oleh masyarakat. Banyak tipe wafer

yang berada di pasaran tapi dalam penelitian ini

digunakan flat wafer tanpa lapisan coating. Menurut

survei konsumen, rasa dan tekstur wafer merupakan mutu

utama produk wafer. Mutu produk wafer tersebut akan

mengalami reaksi penurunan selama penyimpanan.

Sebanyak 82.5% dari 40 orang konsumen menyatakan bahwa

penurunan mutu wafer yang mudah teridentifikasi secara

organoleptik adalah tekstur wafer yang mulai lembek

(kerenyahan wafer menurun) yang disebabkan penyerapan

uap air oleh wafer sehingga kadar air wafer meningkat.

Tujuan dari penelitian ini adalah menentukan umur

simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis dan

modek kadar air kritis termodifikasi. Selain itu,

penelitian ini bertujuan untuk mendapatkan model dalam

pendekatan kadar air kritis yang sesuai dan efisien

untuk menentukan umur simpan wafer. Kandungan gizi

wafer ditentukan dengan menggunakan analisis

proksimat.

Keterangan umur simpan (masa kadaluarsa) produk

pangan merupakansalah satu informasi yang wajib

dicantumkan oleh produsen pada label kemasanproduk

pangan. Pencantuman informasi umur simpan menjadi

sangat pentingkarena terkait dengan keamanan produk

pangan dan untuk memberikan jaminanmutu pada saat

produk sampai ke tangan konsumen. Kewajiban

pencantumanmasa kadaluarsa pada label pangan diatur

dalam Undang-undang Pangan no.7/1996 serta Peraturan

Pemerintah No. 69/1999 tentang Label dan Iklan

Pangan,dimana setiap industri pangan wajib

mencantumkan tanggal kadaluarsa (expired date) pada

setiap kemasan produk pangan (Tamiang S, 2010)

Pengolahan pangan pada industri komersial antara lain

bertujuan untuk memperpanjang masa simpan. Umur simpan

merupakan salah satu persyaratanyang harus dipenuhi

sebelum produk pangan dipasarkan selain produk

amandikonsumsi oleh masyarakat.

Kriteria atau komponen mutu yang penting

padakomoditas pangan adalah keamanan, kesehatan,

flavor, tekstur, warna, umursimpan, kemudahan,

kehalalan, dan harga (Andarwulan dan Hariyadi

2004).Berkaitan dengan berkembangnya industri pangan

skala usaha kecil-menengah, dipandang perlu untuk

mengembangkan penentuan umur simpan produk sebagai

bentuk jaminan keamanan pangan. Penentuan umur simpan

ditingkat industri pangan skala usaha kecil menengah

sering kali terkendala olehfaktor biaya, waktu,

proses, fasilitas, dan kurangnya pengetahuan produsen

pangan (Herawati, H 2009). Penentuan umur simpan

hendaknya dapat memberikan informasi tentang umur

simpan pada kondisi ideal, umur simpan pada kondisi

tidak ideal, dan umur simpan pada kondisi distribusi

dan penyimpanan normal dan penggunaan oleh konsumen.

Suhu normal untuk penyimpanan yaitu suhu yang tidak

menyebabkan kerusakan atau penurunan mutu produk. Suhu

ekstrim atau tidak normal akan mempercepat terjadinya

penurunan mutu produk dan sering diidentifikasi

sebagai suhu pengujian umur simpan produk (Hariyadi,

2004).

1.2 Tujuan

Tujuan praktikum ini adalah untuk mengetahui

pendugaan umur simpan produk dengan menggunakan

akselerasi dengan model Arrhenius.

BAB 2

METODOLOGI

2.1 Bahan dan Alat

Bahan

o Wafer nabati rasa coklat

o Plastik

Alat

o Inkubator

o Label

2.2 Prosedur Kerja

BAB 3

HASIL DAN PEMBAHASAN

3.1 Hasil

Tabel 1. Data Hasil Uji Hedonik Parameter Rasa

Grafik 1. Grafik Ordo 0 Suhu 30˚C Parameter Rasa



Grafik 5. Grafik Ordo 1 Suhu 45˚ C Parameter Rasa


Grafik 7. Grafik Arrhenius Ordo 0 Parameter Rasa

Grafik 8. Grafik Arrhenius Ordo 1 Parameter Rasa

Tabel 2. Data Hasil Uji Hedonik Parameter Tekstur

Grafik 9. . Grafik Ordo 0 Suhu 30˚ C Parameter Tekstur

Grafik 10. Grafik Ordo 0 Suhu 45˚C Parameter Tekstur



Grafik 15. Grafik Arrhenius Ordo 0 Parameter Tektur

Grafik 16. Grafik Arrhenius Ordo 1 Parameter Tekstur

3.2 Pembahasan

Umur simpan adalah kurun waktu ketika suatu

produk makanan akan tetap aman, mempertahankan sifat

sensori, kimia, fisik, dan mikrobiologi tertentu,

serta esuai dengan keterangan pelabelan data nutrisi,

ketika disimpan pada kondisi tertentu. Wafer adalah

bahan dasar dari

Percobaan umur simpan produk wafer dilakukan

dengan metode ASLT (Accelerated Shelf life Testing) berdasarkan

suhu menggunakan model kinetika Arhenius. Percobaan

dilakukan dengan penyimpanan contoh pada 3 suhu

penyimpanan, yaitu 30oC, 45oC dan 55oC selama 28 hari

dengan waktu pengamatan pada hari ke-0, 7, 14, 21 dan

28. Data perubahan mutu selama penyimpanan diubah ke

dalam model matematika, kemudian umur simpan

ditentukan dengan cara eksplorasi persamaan pada

kondisi penyimpanan normal. Parameter yang diuji

adalah:

Perubahan mutu organoleptik yang diuji oleh

panelis terlatih menggunakan metode uji pembedaan

rating/skala atribut (1-7). Atribut atau parameter

sensori yang diuji meliputi rasa, aroma, dan tekstur

produk wafer. Focus discussion group tim panelis telah

dilakukan sebelum dimulainya pengujian.

1.Sebagai parameter mutu kritis adalah:

(a) Untuk organoleptik digunakan parameter mutu

kritis: rasa (timbul rasa tengik), aroma

menyimpang (muncul aroma gosong), dan tekstur

melempem. Mutu awal yang digunakan adalah Skor

pada hari ke-0 dan mutu akhir adalah skor pada

saat panelis menyatakan tidak dapat menerima

mutu produk wafer setelah disimpan.

(b) Untuk tekstur digunakan patokan tekstur

produk yang disimpan sampai hari ke-28 pada

suhu 30oC karena warna produk sudah tidak dapat

diterima lagi oleh panelis.

2. Hasil pengujian organoleptik produk selama

penyimpanan menunjukkan terjadinya penurunan

aroma menyimpang (gosong), muncul rasa tidak enak

dan tengik setelah mengkonsumsi wafer.

3.2.1 Rasa

Berdasarkan tabel hasil pengamatan mutu rasa

wafer ordo 0, pada suhu 15° didapatkan -2.452 dengan

nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0.086

sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 15°

selama 46.48 atau 46 hari bila dihitung dalam bulan

maka umur simpan wafer selama 1 bulan 2 minggu 2

hari. Pada suhu 20° didapatkan -2.418 dengan nilai

konstanta laju penurunan mutu sebesar 0.089 sehingga

didapatkan umur simpan wafer pada suhu 20° selama

44.92 atau 44 hari bila dihitung dalam bulan maka umur

simpan wafer selama 1 bulan 2 minggu. Pada suhu 25° C

didapatkan LNK sebesar -2.385 dengan nilai konstanta

laju penurunan mutu sebesar 0.092 sehingga didapatkan

umur simpan wafer pada suhu 25° sebesar 43.476 atau

43 hari bila di hitung dalam bulan maka umur simpan

wafer selama 1 bulan 1 minggu 6 hari. Pada suhu 28° C



umur simpan wafer pada suhu 28° sebesar 42.64 atau 42

hari bila di hitung dalam bulan maka umur simpan wafer

selama 1 bulan 12 hari.

Berdasarkan tabel hasil pengamatan mutu rasa

wafer ordo 1, pada suhu 15° C didapatkan LNK sebesar -

4,259418667 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu

sebesar 0,014130515 sehingga didapatkan umur simpan

wafer pada suhu 15° C selama 59,96227927 atau 60 hari

bila dihitung dalam bulan maka umur simpan wafer

selama 2 bulan. Pada suhu 25° C didapatkan LNK sebesar

-4.155 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu

sebesar 0.015 sehingga didapatkan umur simpan wafer

pada suhu 25° sebesar 112.97 atau 112 hari bila di

hitung dalam bulan maka umur simpan wafer selama 3

bulan 3 minggu 1 hari. Pada suhu 20° C didapatkan -4.

207 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar

0.0149 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu

20° selama 118,89 atau 118 hari bila dihitung dalam

bulan maka umur simpan wafer selama 3 bulan 3 minggu.

Pada suhu 28° C didapatkan LNK sebesar -4,12563 dengan

nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar 0,016153

sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 28° C

sebesar 52,45325 atau 52 hari bila dihitung dalam

bulan maka umur simpan wafer selama 1 bulan 3 minggu 1

hari.

Perubahan flavor dan cita rasa pada produk

pangan diakibatkan oleh pertumbuhan bakteri. Suhu

merupakan faktor yang sangat berpengaruh terhadap

perubahan mutu pangan, semakin tinggi suhu

penyimpanan maka laju reaksi berbagai senyawa kimia di

dalam bahan pangan akan semakin cepat. Penyimpanan

suhu yang lebih rendah dapat memperpanjang masa simpan

wafer dibandingkan dengan penyimpanan suhu tinggi

karena pada suhu penyimpanan ini aktifitas

mikroorganisme, reaksi kimia, dan biokimia di dalam

produk terhambat.

3.2.2 Aroma

Berdasarkan tabel hasil pengamatan mutu aroma

pada wafer ordo 0, pada suhu 15° didapatkan LNK

sebesar -2.764 dengan nilai konstanta laju penurunan

mutu sebesar 0.063 sehingga didapatkan umur simpan

wafer pada suhu 15° sebesar 63.46 atau 63 hari bila

di hitung dalam bulan maka umur simpan wafer selama 2

bulan 3 hari. . Pada suhu 20° didapatkan LNK sebesar -

2.668 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu

sebesar 0.069 sehingga didapatkan umur simpan wafer

pada suhu 20° selama 57.66 atau 57 hari bila dihitung

dalam bulan maka umur simpan wafer 1 bulan 3 minggu 6

hari. Pada suhu 25° didapatkan LNK sebesar -2.557

dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar


25° sebesar 52.56 atau 52 hari bila di hitung dalam


hari. Pada suhu 28° didapatkan LNK sebesar -2.521

dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar


28° sebesar 49.79 atau 49 hari bila di hitung dalam


hari.

Berdasarkan tabel hasil pengamatan mutu aroma

pada wafer ordo 1, pada suhu 15° didapatkan LNK

sebesar -4.654 dengan nilai konstanta laju penurunan

mutu sebesar 0.009 sehingga didapatkan umur simpan

wafer pada suhu 15° sebesar 89.045 atau selama 89

hari bila di hitung dalam bulan maka umur simpan wafer

selama 2 bulan 4 minggu 1 hari. Pada suhu 20°

didapatkan LNK -4.521 dengan nilai konstanta laju

penurunan mutu sebesar 0.010 sehingga didapatkan umur

simpan wafer pada suhu 20° sebesar 77.923 atau selama

77 hari bila dihitung dalam bulan maka umur simpan

wafer selama 2 bulan 2 minggu 3 hari. Pada suhu 25°



umur simpan wafer pada suhu 25° sebesar 68.497 atau

selama 68 hari bila di hitung dalam bulan maka umur

simpan wafer selama 2 bulan 1 minggu 1 hari. Pada suhu

28° didapatkan LNK sebesar -4.317 dengan nilai


didapatkan umur simpan wafer pada suhu 28° sebesar

63.528 atau selama 63 hari bila di hitung dalam bulan

maka umur simpan wafer selama 2 bulan 3 hari.

Di antara suhu yang telah dihitung untuk

menentukan umur simpan didapatkan hasil bahwa semakin

rendah suhu maka umur simpan produk lebih lama

dibandingkan suhu yang tinggi. Aroma tengik yang

muncul pada produk dikarenakan pada wafer ini

mengandung lemak. Jika lemak yang terdapat dalam

produk terkena panas yang cukup lama dan suhu tinggi

maka akan timbul aroma tengik pada produk. Bau tengik

tersebut disebabkan oleh pembentukan senyawa – senyawa

hasil pemecahan hidroperoksida. Maka dapat terlihat

bahwa semakin tinggi suhu umur simpan maka aroma wafer

akan menjadi menurun. Hal ini disebabkan karena bila

wafer disimpan pada suhu tinggi maka produk wafer

tersebut akan cepat mengalami ketengikan.

3.2.3 Tekstur

Berdasarkan tabel hasil pengamatan parameter mutu

tekstur wafer ordo 0, pada suhu 150 C didapat LNK sebesar -

2.62017 dengan nilai konstanta laju penurunan mutu sebesar

0.07279 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 150C sebesar 54.95223083 atau selama 55 hari dalam kisaran

bulan kurang lebih selama 1 bulan 3 minggu 4 hari. Pada

suhu 200 C, didapat LNK sebesar -2.55405 dengan nilai


didapatkan umur simpan wafer pada suhu 200 C sebesar

51.4363 atau selama 51 hari dalam kisaran bulan kurang

lebih selama 1 bulan 3 minggu. Pada suhu 250 C, didapat

LNK sebesar - -2.49015 dengan nilai konstanta laju

penurunan mutu sebesar 0.082898 sehingga didapatkan umur

simpan wafer pada suhu 250 C sebesar 48.2522 atau selama 48

hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1 bulan 2

minggu 4 hari. Pada suhu 280 C, didapat LNK sebesar -


0.08605 sehingga didapatkan umur simpan wafer pada suhu 250

C sebesar 46.4845 atau selama 46 hari dalam kisaran bulan

kurang lebih selama 1 bulan 2 minggu 2 hari.

Berdasarkan tabel hasil pengamatan parameter mutu

tekstur wafer ordo 1, pada suhu 150C didapat LNK sebesar -



150C sebesar 73.3429 atau selama 73 hari dalam kisaran

bulan kurang lebih selama 2 bulan 1 minggu 6 hari. Pada

suhu 200C, didapat LNK sebesar -4.36981 dengan nilai


didapatkan umur simpan wafer pada suhu 20 0C sebesar

66.9609 atau selama 67 hari dalam kisaran bulan kurang

lebih selama 2 bulan 1 minggu. Pada suhu 25 0C, didapat

LNK sebesar -4.28183 dengan nilai konstanta laju penurunan

mutu sebesar 0.013817 sehingga didapatkan umur simpan wafer

pada suhu 25 0C sebesar 61.3212 atau selama 61 hari dalam

kisaran bulan kurang lebih selama 2 bulan 1 hari. Pada suhu

28 0C, didapat LNK sebesar -4.23044 dengan nilai konstanta


umur simpan wafer pada suhu 28 0C sebesar 58.2497 atau

selama 58 hari dalam kisaran bulan kurang lebih selama 1

bulan 3 minggu 6 hari.

Hal ini pada kerenyahan wafer dipengaruhi oleh

sejumlah air terikat pada matriks karbohidrat yang

mempengaruhi pergerakan relatif dari kristalin dan amorf,

struktur amorf sendiri terbentuk karena adanya proses salah

satunya yaitu proses pemanggangan. Kerenyahan wafer sendiri

dipengaruhi oleh komposisi utama wafer yang komposisinya

terdiri dari lemak nabati, gula, terigu, pengemulsi, kakao,

dan perisai coklat, selain itu proses pemanggangan, dan

jenis dari kemasan wafer itu sendiri. Komponen yang

berperan sebagai pembentuk struktur wafer adalah tepung

terigu dan air. Lemak yang ditambahkan ke dalam formulasi

wafer untuk memperbaiki tekstur wafer. Kerenyahan wafer

sendiri akan semakin menurun dengan bertambahnya waktu

penyimpanan.

BAB 4

KESIMPULAN DAN SARAN

4.1 Kesimpulan

Dari hasil praktikum pendugaan umur simpan produk

pangan dengan metode Accelerated Shelf Life Testing dapat diketahui

semakin rendah suhu penyimpanan produk wafer, maka umur

simpan (shelf life) produk wafer akan semakin lama. Selain

suhu, komposisi wafer akan mempengaruhi mutu aroma,

tekstur, dan rasa wafer sehingga akan mempengaruhi umur

simpan produk tersebut.

4.2 Saran

Dalam pemberian skor dengan uji skor harus

menggunakan panelis yang terlatih agar penilaian dilakukan

secara subjektif dan objektif. Selain itu, inkubator yang

digunakan sebagai tempat penyimpanan untuk simulasi suhu

penyimpanan harus dijaga dan diawasi agar suhunya tetap

stabil. Hal ini dilakukan karena pada saat tertentu,

inkubator dapat mati mendadak akibatnya mengalami perubahan

suhu sehingga data yang didapat kurang akurat.

DAFTAR PUSTAKA

Andarwulan, N. dan P. Hariyadi. 2004. Perubahan mutu

(fisik, kimia, mikrobiologi) produk pangan selama

pengolahan dan penyimpanan produk pangan.

Pelatihan Pendugaan Waktu Kedaluwarsa (Self Life),

Bogor, 1−2 Desember 2004. Pusat Studi Pangan dan

Gizi, IPB, Bogor.

Fardiaz, S., 1992. Mikrobiologi Pangan I. Gramedia

Pustaka Utama, Jakarta.

Hariyadi, P. 2004. Prinsip-prinsip pendugaan masa

kedaluwarsa dengan metode Accelerated Shelf Life

Test. Di dalam Pelatihan Pendugaan Waktu

Kedaluwarsa (Shelf Life). Bogor: Pusat Studi Pangan

dan Gizi, Institut Pertanian Bogor.

Herawati, H. 2009. Pendugaan umur simpan produk

pangan. Bukit Tegalepek: Balai Pengkajian

Teknologi Pertanian Jawa Tengah.

Karel, M., Fennema, O.R. and Lund. D.B. (1978),

Pyhsical Principles of Food Preservation, Marcel

Dekker, Inc. New York and Basel.

Kusmiadi, Riwan. 2008. Manisan Buah dalam artikel

Rektorat Universitas Bangka Belitung.

Tamiang, S. 2010. Pendugaan umur simpan kemasan

http://resepcarapembuatanpengolahanhasilkue.blogsp

ot.com [7 Juni 2015]

http://resepcarapembuatanpengolahanhasilkue.blogspot.com/

http://resepcarapembuatanpengolahanhasilkue.blogspot.com/

LAMPIRAN

PERHITUNGAN

1. PARAMETER RASA

SkorLn Skor

Skor Mutu Awal 7Batas Mutu 3

Unit Mutu 40,847

3

PENDUGAAN UMUR SIMPAN ORDO 0

T 25 T 20T (k) 298 T (K) 293

ln K-

2,3859234 ln K-

2,41881

K (anti ln)0,0920039

8 K (anti ln)0,08902

8 Umur Simpan (HARI)

43,4763799

Umur Simpan (Hari)

44,92981

T 28 T 15T (k) 301 T (K) 288ln K -2,3667 ln K -2,4528K (anti ln) 0,0938 K (anti ln) 0,0860 Umur Simpan (HARI) 42,6493

Umur Simpan (Hari) 46,4849

PENDUGAAN UMUR SIMPAN ORDO 1

T 25 T 20T (K) 298 T (K) 293

LN K

-4,1554

6 ln K

-4,20655464

4

k (anti ln)0,0156

79 k (anti ln)0,01489760

8 UMUR SIMPAN (HARI) 54,042

Umur Simpan (Hari)

56,87476029

T 28 T 15T (K) 301 T (K) 288

LN K

-4,1256

3 ln K

-4,259418

667

k (anti ln)0,0161

53 k (anti ln)0,014130

515 UMUR SIMPAN (HARI)

52,45325

Umur Simpan (Hari)

59,96227927

2. PARAMETER TEKSTUR

3. PARAMETER AROMA

Suhu Hari Skor hedonik rasaLn skor hedonik rasa30°C 0 6.965517 1.940972

7 6.965517 1.94097214 5.931034 1.78019921 5.413793 1.6889528 4.862069 1.581464

45°C 0 6.896552 1.9310227 6.62069 1.890214 5.689655 1.7386521 4.551724 1.51550628 4.068966 1.403389

55°C 0 6.896552 1.9310227 6.137931 1.81448814 4.862069 1.58146421 4.310345 1.46101828 3.517241 1.257677

Slope (k) Intercept

45

-0.11034 7.110345 0.967304

55

-0.12266 6.862069 0.985582

Ordo 0 (Qo-kt)

30

-0.08227 7.17931 0.946416

�ଶ

Slope (k) Intercept

55

-0.02429 1.949165 0.98988472

Ordo 1 (Ln Qt=Ln Qo-kt)

30

-0.01387 1.980719 0.94938325

45

-0.02043 1.981745 0.96014218

�ଶ

Ln k T 1/Tordo 0

-2.20415

-2.4978 303 0.0033

318 0.003145

-2.09834 328 0.003049

ordo 1Ln k T 1/T

328 0.003049

0.0033

0.003145

-4.27789 303

-3.89085 318

-3.71777

ARRHENIUS

1/T ln k intercept slope0.0033 -2.4978 2.849472 -1616.710.0031 -2.20410.0030 -2.0983

ordo 0

t=15 288 t=20 293 T=25 298 T=28 301Ln K -2.76412 ln k -2.66832 Ln k -2.57574 ln k -2.52167K 0.063032 k 0.069369 k 0.076097 k 0.080325t (hari) 63.46005 t hari 57.66299 t(hari) 52.56419 t (hari) 49.79742

ordo 0Lnk= int-slope (1/T)

ARRHENIUS

1/T ln k intercept slope0.0033 -4.27789 3.163317 -2251.630.0031 -3.89080.0030 -3.7178

ordo 1

t=15 288 t=20 293 T=25 298 T=28 301Ln K -4.65485 ln k -4.52143 Ln k -4.39249 ln k -4.31719K 0.009515 k 0.010873 k 0.01237 k 0.013337t (hari) 89.04527 t hari 77.92362 t(hari) 68.49703 t (hari) 63.52816

Lnk= int-slope (1/T)

Pendugaan Umur Simpan pada Wafer

Documents

Transcript of Pendugaan Umur Simpan pada Wafer