Kel 5
-
Upload
zakariansyah -
Category
Documents
-
view
249 -
download
11
Transcript of Kel 5
BAB I
PENDAHULUAN
1. Latar Belakang
Terdapat beraneka macam unsur-unsur yang ada di bumi ini. Unsur-unsur ini
banyak terkandung didalam suatu bahan galian. Dalam menganalisis bahan galian ini
diperlukan suatu teknik agar dapat diketahui komposisi unsur-unsur yang terkandung di
dalam bahan galian tersebut. Ada banyak teknik yang dapat digunakan untuk menganalisis
komposisi bahan galian antara lain XRF, XRD, EBSD, AES, EDS/EDX dan sebagainya.
Teknik-teknik ini dapat dijumpai dalam berbagai macam alat, antara lain SEM, AFM,
TEM, OM dan sebagainya. Namun untuk mengenali jenis atom dipermukaan yang
mengandung multi atom para peneliti lebih banyak mengunakan teknik EDS (Energy
Dispersive Spectroscopy).
Sebagian besar alat SEM dilengkapi dengan kemampuan ini, namun tidak semua
SEM punya fitur ini. EDS dihasilkan dari Sinar X karakteristik, yaitu dengan
menembakkan sinar X pada posisi yang ingin kita ketahui komposisinya. Maka setelah
ditembakkan pada posisi yang diinginkan maka akan muncul puncak – puncak tertentu
yang mewakili suatu unsur yang terkandung. Dengan EDS juga bisa membuat elemental
mapping (pemetaan elemen) dengan memberikan warna berbeda – beda dari masing –
masing elemen di permukaan bahan atau sampel yang dianalisis. EDS bisa digunakan
untuk menganalisa secara kuantitatif dari persentase masing – masing elemen.
Makalah ini akan menerangkan bagaimana teknik EDS diterapkan pada SEM
meliputi pengertian, prinsip kerja alat hingga pada penampilannya pada monitor, serta
kelebihan dan kekurangan alat dalam teknik ini.
2. Rumusan Masalah
Rumusan masalah dari makalah ini adalah sebagai berikut.
1. Apa pengertian dari Energy Dispersion X-ray spectroscopy (EDS)?
2. Apa pengertian dari Scanning Electron Microscopy (SEM)?
3. Bagaimana prinsip kerja Scanning Electron Microscopy (SEM)?
4. Apa saja komponen Scanning Electron Microscopy (SEM)?
5. Bagaimana metode penggunaan Scanning Electron Microscopy (SEM)?
6. Apa saja aplikasi penggunaan Scanning Electron Microscopy (SEM)?
7. Apa saja kelebihan daan kelemahan Scanning Electron Microscopy (SEM)?
3. Tujuan
Tujuan dari makalah ini ialah sebagai berikut.
1. Mengetahui pengertian dari Energy Dispersion X-ray spectroscopy (EDS).
2. Mengetahui pengertian Scanning Electron Microscopy (SEM).
3. Mengetahui prinsip kerja Scanning Electron Microscopy (SEM).
4. Mengetahui komponen Scanning Electron Microscopy (SEM).
5. Mengetahui metodologi dalam penggunaan Scanning Electron Microscopy (SEM).
6. Mengetahui aplikasi penggunaan Scanning Electron Microscopy (SEM).
7. Mengetahui kelebihan dan kelemahan Scanning Electron Microscopy (SEM).
BAB II
PEMBAHASAN
1. Pengertian Energy Dispersion X-ray spectroscopy (EDS)
Energy Dispersion X-ray spectroscopy (EDS atau EDX) adalah sebuah teknik
analisis yang digunakan untuk menganalisa unsur atau karakterisasi kimia dari sampel. Ini
adalah salah satu varian fluoresensi X-ray spektroskopi yang mengandalkan penyelidikan
sampel melalui interaksi antara radiasi elektromagnetik dan material. Menganalisis sinar-X
yang diemisikan oleh material sebagai respon terhadap tumbukan dari partikel bermuatan.
Kemampuan karakterisasi berdasarkan pada prinsip dasar bahwa setiap elemen memiliki
atom dengan struktur unik memungkinkan sinar X yang merupakan ciri khas dari struktur
atom suatu elemen untuk diidentifikasi secara unik dari satu dengan yang lain.
2.2 Scanning Electron Microscopy (SEM)
Tidak jauh dari lahirnya TEM, SEM dikembangkan pertama kali tahun 1938
boleh Manfred von Ardenne (ilmuwan Jerman). Konsep dasar dari SEM ini sebenarnya
disampaikan oleh Max Knoll (penemu TEM) pada tahun 1935. SEM bekerja berdasarkan
prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel yang selanjutnya informasi yang
didapatkan diubah menjadi gambar. Imajinasi mudahnya gambar yang didapat mirip
sebagaimana gambar pada televisi. Intrumen SEM dan TEM ditampakkan dalam gambar
berikut.
Gambar 1. Alat Scanning Electron Microscopy (SEM)
Gambar 2. Alat Transmission Electron Microscopy (TEM)
Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada
mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru
(elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika
permukaan sampel tersebut discan dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau
elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar
amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode
ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat.
Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan,
sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi.
Ditinjau dari jalannya berkas media , SEM dapat dianalogikan dengan mikroskop
optik metalurgi, sedangkan TEM analog dengan mikroskop optik biologi. SEM dan
mikroskop optik metalurgi menggunakan prinsip refleksi, dalam arti permukaan
spesimen memantulkan berkas media. TEM dan mikroskop optik biologi/kedokteran
memakai prinsip transmisi, artinya berkas media menembus spesimen yang tipis.
Teknik SEM pada hakekatnya merupakan pemeriksaan dan analisis permukaan.
Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan
yang tebalnya sekitar 20 μm dari permukaan. Gambar permukaan yang diperoleh
merupakan gambar topografi dengan segala tonjolan dan lekukan permukaan. Gambar
topogorafi diperoleh dari penangkapan pengolahan elektron sekunder yang dipancarkan
oleh spesimen. Kata kunci dari prinsip kerja SEM adalah scanning yang berarti bahwa
berkas elektron “menyapu” permukaan spesimen, titik demi titik dengan sapuan
membentuk garis demi garis, mirip seperti gerakan mata yang membaca. Sinyal elektron
sekunder yang dihasilkan pun adalah dari titik pada permukaan, yang selanjutnya
ditangkap oleh SE detector dan kemudian diolah dan ditampilkan pada layar CRT (TV).
Scanning coil yang mengarahkan berkas elektron bekerja secara sinkron dengan pengarah
berkas elektron pada tabung layar TV, sehingga didapatkan gambar permukaan spesimen
pada layar TV. Sinyal lain yang penting adalah back scattered electron yang intensitasnya
tergantung pada nomor atom unsur yang ada pada permukaan spesimen. Dengan cara ini
akan diperoleh gambar yang menyatakan perbedaan unsur kimia(warna terang
menunjukkan adanya unsur kimia yang lebih tinggi nomor atomnya)
Komponen SEM
SEM tersusun dari beberapa bagian yang dapat dibuat suatu skema seperti berikut :
Gambar 3. Bagian-bagian SEM
a. Penembak elektron (elektron gun)
Ada dua jenis atau tipe dari electron gun yaitu :
1. Termal
Pada emisi jenis ini, energi luar yang masuk ke bahan ialah dalam bentuk
energi panas. Oleh elektron energi panas ini diubah menjadi energi kinetik. Semakin
besar panas yang diterima oleh bahan maka akan semakin besar pula kenaikan energi
kinetik yang terjadi pada elektron, dengan semakin besarnya kenaikan energi kinetik
dari elektron maka gerakan elektron menjadi semakin cepat dan semakin tidak
menentu. Pada situasi inilah akan terdapat elektron yang pada ahirnya terlepas keluar
melalui permukaan bahan. Pada proses emisi thermionic dan juga pada proses emisi
lainnya, bahan yang digunakan sebagai asal ataupun sumber elektron disebut sebagai
"emiter" atau lebih sering disebut "katoda" (cathode), sedangkan bahan yang
menerima elektron disebut sebagai anoda. Dalam konteks tabung hampa (vacuum
tube) anoda lebih sering disebut sebagai "plate".
Dalam proses emisi thermionik dikenal dua macam jenis katoda yaitu :
a) Katoda panas langsung (Direct Heated Cathode, disingkat DHC)
b) Katoda panas tak langsung (Indirect Heated Cathode, disingkat IHC)
pada katoda jenis ini katoda selain sebagai sumber elektron juga dialiri oleh arus
heater (pemanas).
Material yang digunakan untuk membuat katoda diantaranya adalah :
1. Tungsten Filamen
Material ini adalah material yang pertama kali digunakan untuk membuat
katode. Tungsten memiliki dua kelebihan untuk digunakan sebagai katoda yaitu
memiliki ketahanan mekanik dan juga titik lebur yang tinggi (sekitar 3400 derajat
Celcius), sehingga tungsten banyak digunakan untuk aplikasi khas yaitu tabung XRay
yang bekerja pada tegangan sekitar 5000V dan temperature tinggi. Akan tetapi
untuk aplikasi yang umum terutama untuk aplikasi Tabung Audio dimana tegangan
kerja dan temperature tidak terlalu tinggi maka tungsten bukan material yang ideal,
hal ini disebabkan karena tungsten memilik fungsi kerja yang tinggi( 4,52 eV) dan
juga temperature kerja optimal yang cukup tinggi (sekitar 2200 derajat celcius)
1. LaB6 Filamen
2. Field emission
Pada emisi jenis ini yang menjadi penyebab lepasnya elektron dari bahan ialah
adanya gaya tarik medan listrik luar yang diberikan pada bahan. Pada katoda yang
digunakan pada proses emisi ini dikenakan medan listrik yang cukup besar
sehingga tarikan yang terjadi dari medan listrik pada elektron menyebabkan
elektron memiliki energi yang cukup untuk lompat keluar dari permukaan katoda.
Emisi medan listrik adalah salah satu emisi utama yang terjadi pada vacuum tube
selain emisi thermionic.
Jenis katoda yang digunakan diantaranya adalah :
1. Cold Field Emission
2. Schottky Field Emission Gun
Kedua jenis itu diperlihatkan dalam gambar di bawah ini :
Gambar 4. Dua jenis electron gun
b. Lensa Magnet
Berupa lensa magnetis karena elektron yang bermuatan negatif dapat dibelokkan oleh medan
magnet.
Gambar 5. Lensa Magnet
c. Secondary Electron Detector
Gambar 6. Secondary Electron Detector
d. Backscattered Electron Detector
Gambar 7. Backscattered Electron Detector
Perbedaan kenampakan dari penggunaan elektron detektor tersebut dapat dilihat
dari perbandingan gambar berikut :
Gambar 8. Perbedaan kenampakan anatara detektor
Demikian, SEM mempunyai resolusi tinggi dan familiar untuk mengamati obyek
benda berukuran nano meter. Meskipun demikian, resolusi tinggi tersebut didapatkan
untuk scan dalam arah horizontal, sedangkan scan secara vertikal (tinggi rendahnya
struktur) resolusinya rendah. Mikroskop tipe ini banyak digunakan dalam riset
teknologi nano. Di bawah ini disajikan hasil pengamatan SEM dengan berbagai batas
dan kemungkinan pembesarannya.
Gambar 9. Sampel tembaga
Gambar 10. Emas dalan sampel karbon
SEM berdasarkan penggunaannya dalam analisis material, dapat dibedakan sebagai
berikut :
1) Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX dan EDS)
- Analisis Kombinasi EDX dan WDS
- SEM kolom
- Jenis Tungsten Filamen
- Mikroanalisis
2) Wavelength Dispersive X-Ray Spectroscopy (WDS)
3) Electron Backscattered Diffraction (EBSD dan EBSP)
4) Cathodoluminesence (CL)
5) Backscattered Electron Detector (BSD), dll.
2.3. Metodologi Penggunaan SEM
1. Preparasi Sampel
Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan, sehingga bisa
digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi dan sampel dalam bentuk
padatan.
1. Hindari semua air, larutan atau material material lain yang mudah menguap dalam vakum.
2. Permukaan harus rata untuk BSE dan OIM.
3. Tentukan jumlah sample dengan diameter sampai dengan 8 inc (200 mm)
4. SamplesNon-logam, seperti building materials, insulating ceramics, harus dilapisi agar
konduktivitas listriknya baik. Logam dan samples konduktivitas dapat diletakkan langsung
kedalam SEM.
5. Hasil analisis
Hasil analisis dapat terlihat pada monitor CRT dalam bentuk grafik dan gambar dengan
contoh sebagai berikut.
Gambar 11. Hasil analisis dalam bentuk gambar (tekture)
Gambar 12.hasil analisis dalam bentuk tekture dan grafik
Gambar 13. Bentuk mapping element
1. Aplikasi SEM – EDS
Aplikasi dari SEM – EDS dirangkum sebagai berikut:
1. Topografi: Menganalisis permukaan dan teksture (kekerasan, reflektivitas dsb)
2. Morfologi: Menganalisis bentuk dan ukuran dari benda sampel
3. Komposisi: Menganalisis komposisi dari permukaan benda secara kuantitatif dan
kualitatif.
1. Kristalografi: Menganalisis susunan material dari sampel (konduktivitas,daya hantar
listrik,dsb)
2.5 Kelebihan dan Kekurangan Alat
1. Kelebihan
1. Tidak hanya menganalisis komposisi sampel, bentuk, ukuran, namun juga menganalisis
konduktivitas dan daya hantar listriknya.
2. Resolusi cukup tinggi dan familiar untuk mengamati obyek yang berukuran nanometer.
3. Perbesaran dari 10x –3.000.000x
4. Mempunyai depth of field yang besar, yang dapat memfokuskan jumlah sampel yang
lebih banyak pada satu waktu.
5. Kelemahan
1. Memerlukan kondisi vakum.
2. Resolusi lebih rendah dari TEM (resolusi tinggi tersebut didapatkan untuk scan
dalam arah horizontal, sedangkan scan secara vertikal (tinggi rendahnya struktur)
resolusinya rendah.
3. Sampel harus bahan yang konduktif, jika bukan konduktor maka perlu dilapisi
logam seperti emas.
1. Sampel hanya berupa padatan.
BAB III
KESIMPULAN
Dari uraian diatas dapat disimpulkan sebagai berikut.
1. Energy Dispersion X-ray spectroscopy (EDS atau EDX) adalah salah satu teknik analisis yang
digunakan untuk menganalisis unsur atau karakterisasi kimia dari sampel, khususnya bahan
galian.
2. Scanning Electron Microscopy (SEM) merupakan salah satu alat yang digunakan untuk
menganalisis bentuk permukaan dari material yang dianalisis. Prinsip kerja dari SEM ini adalah
dengan menggambarkan permukaan benda atau material dengan berkas elektron yang
dipantulkan dengan energi tinggi.
3. Metodologi alat ini meliputi persiapan sampel dan hasil analisis. Sampel berupa padatan yang
harus bersifat konduktif dan hasil analisisnya berupa gambar permukaan dan grafik yang dapat
dilihat dalam monitor CRT.
4. Aplikasi dari SEM-EDS meliputi 4 macam, yaitu topologi, morfologi, komposisi dan kristalografi.
5. SEM-EDS memiliki kelebihan antara lain tidak hanya menganalisis komposisi yang terkandung
dalam sampel, tapi juga tekstur, bentuk dan konduktivitas serta resolusi cukup tinggi. Selain itu
juga memiliki kekurangan, misalnya sampelnya harus bersifat konduktif dan berupa padatan
saja.
DAFTAR RUJUKAN
Oktaviana , Aptika. 2009. Tugas Makalah”Teknologi Penginderaan Mikroskopi”(Online)
diakses 28 oktober 2012
Pratiwi, Anggita. 2010. Sinar X (Online)
http://anggitpratiwi.students-blog.undip.ac.id/2010/01/06/sinar-x/ diakses 4 oktober
2012
Octoviawan, Nur Aziz. 2010. Energy Dispersion X-ray spectroscopy(online)
http://nurazizoctoviawan.blogspot.com/2010/05/pendahuluan-energy-dispersion-x-
ray.html diakses 4 oktober 2012
Hartuti, Srie. 2011. XPS (online) diakses 29 oktober