1. Prosedur Dalam Preparasi Sayatan TipisPenyiapan dan pembuatan sayatan tipis membutuhkan peralatan, bahan, dan waktu serta kesabaran. Bahkan, untuk bisa mendapatkan preparat yang baik, dibutuhkan keahlian yang tinggi. Tahapan pembuatan sayatan tipis adalah sebagai berikut.a) Persiapan. Sebelum membuat sayatan tipis, sebaiknya semua peralatan dan bahan yang akan dipakai disiapkan terlebih dahulu. Peralatan dan bahan yang dimaksudkan disini antara lain adalah alat pemotong/gergaji batuan, gerinda kasar dan halus, bubuk silikon karbid, lem epoxy/balsam kanada, slide glass, cover glass, Ultrasonic Washing Machine, hotplate, mikroskop polarisasi, dan batuan yang akan dijadikan preparat untuk sayatan tipis. Cek kebersihan setiap peralatan dan bahan untuk mencegah kontaminasi pada sampel batuan. Slide glass yang akan digunakan disiapkan terlebih dahulu dengan menggosok bagian yang akan ditempel sampel batuan pada gerinda dengan silikon karbid mesh #600/#1000. Batuan yang akan dijadikan sampel disiapkan dengan memberi tanda arah sayatan menggunakan waterproof marker dengan mempertimbangkan arah sayatan, foliasi, variasi mineral, tekstur, atau sifat khas yang lain.b) Pemotongan. Batuan yang akan dijadikan sampel dipotong menggunakan gergaji batuan. Gergaji yang digunakan disesuaikan dengan dimensi sampel (rock chip). Ukuran chip batuan disesuaikan dengan ukuran slide glass yang digunakan. Ukuran standar slide glass yang umumnya digunakan untuk analisis kimia mineral adalah 2.8 x 4.8 mm. Adapun yang tersedia di Indonesia berukuran 2.5 x 7.6 mm atau 3.7 x 7.6 mm.c) Penghalusan. Chip batuan dihaluskan menggunakan gerinda putar dengan silikon karbid mesh #100 sampai mesh #600. Penaburan silikon karbid disesuaikan dengan ketebalan chip. Jika ketebalan chip mencapai 3 mm, permukaan chip dihaluskan menggunakan kaca poles dan silikon karbid mesh #1000.d) Pembersihan. Chip batuan dibersihkan dengan sikat dan air mengalir. Untuk hasil yang lebih maksimal, gunakan Ultrasonic Washing Machine 25C selama 2 menit atau sampai chip bersih dari grit. Keringkan chip pada hotplate dengan suhu >100C selama 1 jam hingga dehidrasi. Alasi hotplate dengan aluminium foil agar permukaannya tetap bersih. Setelah 1 jam, temperatur hotplate diatur menjadi 80C selama 10 menit. Permukaan chip dan slide glass yang akan ditempel dibersihkan menggunakan etanol. e) Pengeleman. Oleskan lem epoxy atau balsam kanada pada permukaan chip, tunggu hingga lem meresap ke dalam pori-pori chip dan tangkupkan dengan slide glass yang permukaannya telah kasar. Untuk petropoxy 154 lebih dahulu dicampur antara resin dan curing agent dengan perbandingan 10:1 mm dan panaskan kembali hingga suhu 120 C selama 30 menit setelah ditempel slide glass. Untuk balsam kanada dan entelan angin-anginkan sampel selama kurang lebih 24 jam/1hari. Terus kontrol permukaan chip agar tidak ada gelembung udara. Tekan permukaan slide glass pada chip dengan ujung karet pensil penghapus.f) Penipisan. Chip yang telah menempel pada slide glass ditipiskan menggunakan gerinda putar dengan silikon karbid mesh #400 mesh #1000 sampai dengan ketebalan yang dibutuhkan. Sayatan tipis yang baik memiliki ketebalan 0.035 mm. Kontrol ketebalan dapat dilakukan dengan menyesuaikan warna interferensi mineral pada mikroskop polarisasi. Sebagai contoh, sayatan kuarsa yang baik memberikan warna interferensi abu-abu.

g) Finishing. Tempelkan cover glass pada sayatan tipis. Sebelumnya, panaskan sejenak sayatan tipis pada hotplate. Pastikan permukaannya bersih dan kering. Olesi permukaan sayatan tipis dengan sedikit lem epoxy atau balsam kanada, kemudian temple dengan cover glass. Pastikan tidak ada gelembung udara dengan menekan cover glass menggunakan pensil. Setelah kering, bersihkan sisa lem menggunakan cutter.

2. Bagian-bagian Mikroskop Polarisasi dan Fungsinya

A. Kaki mikroskop. Tempat tumpuan dari seluruh bagian-bagian mikroskop.B. Lengan mikroskop. Berbentuk melengkung atau miring, berfungsi sebagai tempat untuk memegang tubus mikroskop. Pada lengan bagian bawah terdapat sekrup pengatur fokus (H3 dan H4) yang berfungsi untuk menaik-turunkan meja objek.C. Cermin. Terdiri dari cermin datar dan cembung, berfungsi untuk menangkap dan meneruskan cahaya lampu atau cahaya yang datang dari luar yang kemudian dipantulkan menuju ke dalam sistem optik mikroskop. Pada gambar mikroskop di atas, cermin terletak di dalam kaki mikroskop, tidak terlihat. Sumber cahaya ditunjukkan oleh C1.D. Substage unit. Terdiri dari:E. Polarisator. Berfungsi untuk menyerap dan mengarahkan cahaya datang sehingga cahaya hanya bergetar pada satu arah bidang datar saja.F. Diafragma iris. Berfungsi untuk mengatur intensitas cahaya yang diteruskan ke meja objek.G. Kondensor. Berupa lensa cembung yang berfungsi untuk memusatkan cahaya yang datang dari cermin di bawahnya.H. Meja objek. Berupa piringan berbentuk lingkaran yang tengahnya berlubang untuk jalan cahaya masuk. Tempat untuk meletakkan preparat.I. Tubus mikroskop. Terletak di atas meja objek sebagai perangkat untuk mengamati preparat. Terdiri dari:J. Objective holder. Tempat untuk meletakkan lensa objektif.K. Objectives lens. Lensa yang berada di atas objek. Pada gambar mikroskop di atas, terdapat tiga buah lensa objektif dengan perbesaran masing-masing 10x, 30x, dan 60x.L. Lubang kompensator. Berfungsi sebagai tempat untuk memasukkan kompensator, berupa keping kuarsa, keping gips, dan keping mika.M. Analisator. Berfungsi untuk mengatur arah getar sinar yang menuju mata pengamat menjadi tegak lurus.N. Amici-Bertrand lens. Digunakan untuk pengamatan konoskopik. Berfungsi untuk memperbesar gambar interferensi yang terbentuk pada back focal plane dari lensa objektif dan memfokuskannya pada bidang lensa okuler sehingga dapat diamati pengamat dengan jelas.O. Ocular lens. Lensa yang berada dekat dengan mata pengamat. Bersama lensa objektif, berfungsi untuk memperbesar proyeksi dari preparat. Selain itu, lensa okuler berperan untuk mengurangi kesalahan aberasi yang disebabkan oleh lensa objektif.

3. Keping Kuarsa, Keping Gips, dan Keping MikaA. Keping kuarsa adalah suatu sayatan kuarsa yang dipotong sedemikan rupa sehingga sumbu c-nya searah dengan arah memanjang keping. Dengan demikian, maka nilai dwi-biasnya 0,009. Ketebalan keping kuarsa sekitar 0,1 0,25 mm. Berfungsi untuk melihat pengaruh ketebalan sayatan terhadap retardasi (): = t (n2 n1)dimana t = ketebalan sayatan tipis, n2 dan n1 = harga indeks bias n dan n pada kuarsa. Pengaruh tersebut diamati dari warna interferensi yang Nampak pada setiap bagian keping kuarsa. Misalkan ketebalan kuarsa (t) = 0,1 mm, maka retardasinya () = 0,1 x 0,009 = 0,0009 mm = 900 m, yaitu warna interferensi kuning orde II. Dengan cara yang sama, untuk t = 0,05 mm, didapatkan sebesar 450 m, yaitu warna interferensi jingga orde II.Keping kuarsa dipakai untuk menentukan terjadinya penambahan atau pengurangan warna interferensi pada suatu kristal.B. Keping gips adalah suatu sayatan gipsum yang mempunyai ketebalan sedemikian rupa sehingga menghasilkan retardasi () sebesar 550 m. Jika keping gips dipasang tanpa peraga dengan pengamatan nikol bersilang, maka didapatkan kenampakan warna interferensi merah orde I.C. Keping mika adalah suatu sayatan muskovit yang mempunyai ketebalan sedemikian rupa sehingga menghasilkan retardasi () sebesar 150 m, yaitu seperempat panjang gelombang cahaya natrium. Jika dipasang tanpa peraga, warna interferensi yang tampak adalah abu-abu orde I.Pemakaian keping mika sama dengan pemakaian keping gips. Kedua kompensator ini dipakai untuk membedakan arah bidang getaran sinar lambat dan arah getaran sinar cepat pada suatu kristal yang diamati di atas meja objek. Hal ini diterapkan dalam penentuan banyak sifat optik, seperti tanda rentang, besarnya sudut gelapan dan tanda optik. Bedanya, keping gips dipergunakan untuk penelitian kristal yang memiliki dwi-bias atau warna interferensi yang rendah, sedangkan keping mika digunakan untuk kristal yang mempuyai warna interferensi yang tinggi atau ekstrim.

DAFTAR PUSTAKA

M, Bean Judith; Soetomo, Hadi; Soekardi. 1981. Diktat Kuliah Mineral Optik. Yogyakarta: Pusat Penerbitan Fakultas Teknik Universitas Gadjah MadaSetiawan, Nugroho Imam. 2014. Optical Mineralogy: Polarizing Microscope and Sample Preparation [dokumen PDF]. Diambil dari http://nugroho.setiawan.blog.ugm.ac.id/ lectures/