Analisis komposisi kimia dari keramik

Analisis komposisi kimia dari keramik

Auger Electron Spectroscopy (AES)X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)Auger Electron Spektroskopi(AES)AES adalah teknik spektroskopi yang sensitif untuk menganalisa elemen-elemen pada permukaan dengan mengukur besarnya energy electron augerTransisi elektron dan efek Auger

Ek = E1 - E2 - E3 *Dimana:E1 dan E2 = energi yang mengikat atom yang terionisasi tunggal E3 * = energi yang mengikat ionisasi ganda

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

XPS juga dikenal sebagai spektroskopi electron untuk analisa unsure(ESCA) merupakan suatu teknik yang digunakan untuk memperoleh informasi kimia di berbagai permukaan material, dengan mengukur besarnya energi kinetik elektron setelah beradiasi dengan sinar-XEk = h Eb WDimana:h = energi insiden X ray foton Eb = energi ikat fotoelektron W = fungsi kerja spektrometer

Auger Electron Spektrokopi (AES)

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)Sampel: solid, konduktor, semikonduktorResolusi sisi: 500 nmResolusi kedalaman: 0,5 - 5 nmSensitivitas: 0,1 - 1 atomic %Analisis simpelNilai keluaran cepat

Sampel: solid, konduktor, semikonduktor, isolatorResolusi sisi: 1mm - 40mResolusi kedalaman: 0,5 - 5 nmSensitivitas: 0,1 - 1 atomic %