PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate...

34
PERCOBAAN I GERBANG DASAR I. Tujuan percobaan 1. Memahami sifat komponen gerbang dasar dari IC digital 2. Memahami operasional komponen gerbang dasar dari IC digital II. Alat-alat Percobaan 1. Board Percobaan 1 2. Multimeter digital III. Dasar teori IV. Langkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1 output Y. Indikator untuk input A menggunakan LED L1 dan input B menggunakan LED L2 serta output Y menggunakan LED L3. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’. Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan percobaan ini adalah : 1. Hubungkan catu daya dengan menancapkan konektor ke board dan nyalakan 2. Kemudian isilah tabel berikut , dengan mengatur saklar input A dan B Tabel 4.1 Percobaan Nand gate B A Y 0 0

Transcript of PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate...

Page 1: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

PERCOBAAN IGERBANG DASAR

I. Tujuan percobaan1. Memahami sifat komponen gerbang dasar dari IC digital2. Memahami operasional komponen gerbang dasar dari IC digitalII. Alat-alat Percobaan1. Board Percobaan 1 2. Multimeter digital

III. Dasar teori

IV. Langkah-langkah percobaan

IV.1 Percobaan NAND gate

Gambar 4.1. NAND gate

Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1 output Y. Indikator untuk input A menggunakan LED L1 dan input B menggunakan LED L2 serta output Y menggunakan LED L3. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan percobaan ini adalah :1. Hubungkan catu daya dengan menancapkan konektor ke board dan nyalakan2. Kemudian isilah tabel berikut , dengan mengatur saklar input A dan B

Tabel 4.1 Percobaan Nand gateB A Y0 00 11 01 1

3. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaanIV.2 Percobaan NOT gate

Gambar 4.2. NOT gate

Page 2: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Perhatikan gambar 4.2.. Input NOT gate terdiri dari 1 yaitu A serta 1 output Y. Langkah-langkah percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) dg mengukur tegangan pada pin Vcc2. Kemudian isilah tabel berikut, dengan mengatur saklar input A

Tabel 4.2 Percobaan Not gateA Y Vi

nVout Vin(X) Vout(X)

01

3. Lakukan pengukuran tegangan pada masing masing kombinasi, ukur juga beberapa pin yang mengambang ( tanpa input X) catat hasilnya (Hati3 short).

4. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

IV.3 Percobaan AND gate

Gambar 4.3. AND gate

Perhatikan gambar 4.3. Input AND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1 output Y. Langkah-langkah percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON),2. Kemudian isilah tabel 4.3, dengan mengatur saklar input A dan B

Tabel 4.3 Percobaan And gateB A Y0 00 11 01 1

3. Perhatikan dan catat ipe IC yang anda pakai percobaanIV.4 Percobaan NOR gate

Perhatikan gambar 4.4. Input NOR gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1 output Y. Langkah-langkah percobaan adalah sbb:1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) 2. Kemudian isilah tabel 4.4, dengan mengatur saklar input A dan B

2

Page 3: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Gambar 4.4. NOR gate

Tabel 4.4 Percobaan Nor gateB A Y0 00 11 01 1

3. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

IV.5 Percobaan OR gatePerhatikan gambar 4.5. Input OR gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1

output Y. Langkah-langkah yang dilakukan untuk melakukan percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) dg mengukur tegangan pada pin Vcc2. Kemudian isilah tabel berikut, dengan mengatur saklar input A dan B3. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

Gambar 4.5. OR gate

Tabel 4.5 Percobaan OR gateB A Y0 00 11 01 1

IV.6 Percobaan XOR gatePerhatikan gambar 4.6. Input XOR gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1 output Y.

3

Page 4: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Gambar 4.6. XOR gate

Langkah-langkah percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) 2. Kemudian isilah tabel 4.6, dengan mengatur saklar input A dan B3. Lakukan pengukuran teg output dan teg input pada masing-masing .kombinasi

saklar, catat hasilnya pada tabel 4.64. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

Tabel 4.6 Percobaaan XOR gateB Teg(volt) A Teg(volt) Y Teg(volt)0 00 11 01 1

IV.7 Percobaan XNOR gatePerhatikan gambar 4.7. Input XNOR gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta 1

output Y. Langkah-langkah perrcobaan ini adalah sbb:.

Gambar 4.7. XNOR gate

1. Pastikan catu daya masih menyala (ON),2. Kemudian isilah tabel 4.7, dengan mengatur saklar input A dan B3. Lakukan pengukuran teg output dan teg input pada tiap kombinasi saklar 4. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

Tabel 4.7 Percobaan Xnor gateB A Y VA VB VY

0 00 11 01 1

4

Page 5: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

V. Pertanyaan1. Gerbang Nand dan Nor adalah gerbang universal apa maksudnya dan berikan

contoh gambar gerbang logikanya masing-masing satu.2. Apa yg dimaksud dgn VOH, VIH, VIL,,VOL, IIL, IIH,IOH, IOL 3. Berikan nilai/hargnya sesuai dg soal 2 untuk IC TTL 74LS04 4. Gambarkan rangkain gerbang internal IC74LS04 (connection diagram)5. Gerbang XOR adalah fungsi ganjil apa maksudnya, berikan table kebenarannya

untuk 3 variabel input. 6. Apa arti prefik ALS, LS, HC, HCT pada IC digital 7. Gambarkan rangkain gerbang internal IC74LS00 (connection diagram)8. IC 74LS00 adalah IC ... karena terdiri dari...nand gate pada satu IC9. Gambarkan rangkain gerbang internal IC 74LS86 (connection diagram)10. Berikan 2 perbedaan dan 2 persamaan IC grup HCT dengan HC (khususkan pada

satu tipe IC misalnya 74HCT04 dengan 74HC04 atau yang lainnya)

PERCOBAAN IIREGISTER PIPO DAN SIPO, MULTIPLEKSER DIGITAL

DAN BCD KE TUJUH SEGMEN

I. Tujuan percobaan1. Memahami operasional IC PIPO, SIPO, Multiplekser digital dan BCD to 7

segment2. Memahami sifat IC PIPO, SIPO, Multiplekser digital dan BCD to 7 segmentII. Alat-alat Percobaan1. Board Percobaan 2 2. Multimeter digital

III. Dasar teori

IV. Langkah-langkah percobaan

IV.1 Percobaan Paralel Input Paralel Output (PIPO)Perhatikan gambar 4.1, semua indikator menggunakan LED. Jika LED menyala

berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.Langkah-langkah percobaan ini adalah sbb:1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) 2. Kemudian lakukan percobaan berikut, dng mengatur DIPSWITCH sehingga

sesuai dengan kondisi logika pada tabel 4.1 3. CLK ON berarti tombol push button CLOCK ditekan kemudian dilepas 4. Pada baris ke-1 dari tabel, bagaimanakah kondisi D0 - D7 dan D0’ - D7’ dst

sampai baris ke -6 setelah clock ditekan sekali dan dua kali, catat hasilnya pada kolom disampingnya.

5

Page 6: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

5. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

Gambar 4.1. PIPO 74ALS574

Tabel 4.1 Percobaan PIPONo I0 I1 I2 I3 I4 I5 I6 I7 OE CLK D0-D7 D0’-D7’1 X X X X X X X X 1 X2 X X X X X X X X 0 X3 0 0 0 0 0 0 0 0 0 ON4 1 1 1 1 1 1 1 1 0 ON5 0 1 0 1 0 1 0 1 0 ON6 1 0 1 0 1 0 1 0 0 ON7 0 0 0 0 1 1 1 1 0 ON

IV.2 Percobaan Serial Input Paralel Output (SIPO)Perhatikan gambar 4.2. Input SIPO terdiri dari 1 ENABLE, 1 DATA, 1 CLK

dan 1 MR (Master Reset) sedangkan outputnya terdiri dari 8 Q0 - Q7. Rangkaian tambahan berupa monostable multivibrator 555 yang berfungsi sebagai pembangkit sinyal CLK dimana CLK bersifat rising edge. Semua indikator menggunakan LED. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.Langkah-langkah percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) 2. Atur posisi saklar enable,reset dan data sesuai tabel 4.23. Catat hasilnya dan isikan pada tabel 4.2.

Tabel 4.2 Percobaan SIPO

ENABLE RST DATA CLK Q0 Q1 Q2 Q3 Q4 Q5 Q6 Q70 X X XX 1 X X1 1 0 ON1 1 1 ON

6

Page 7: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

1 1 0 ON1 1 1 ON1 1 0 ON1 1 1 ON1 1 0 ON1 1 1 ON

CLK : ON berarti tekan tombol push button CLOCK kemudian lepas

3. Amati tipe IC yang anda pakai percobaan

Gambar 4.2 SIPO 74LS164

IV.3 Percobaan Multiplekser digital

Perhatikan gambar 4.3 Input multiplekser terdiri dari 2 kelompok yaitu A dan B serta output Y. Input A terdiri dari 1A, 2A, 3A, dan 4A sedangkan input B terdiri dari 1B, 2B, 3B, 4B. Untuk output Y terdiri dari 1Y, 2Y, 3Y dan 4Y. Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan praktikum ini adalah :1. Hubungkan catu daya dengan menancapkan konektor ke board dan nyalakan.2. Kemudian isilah tabel 4.3.

Tabel 4.3 Percobaan Multiplekser digital1A 2A 3A 4A 1B 2B 3B 4B -A/B G 1Y 2Y 3Y 4Y1 0 1 0 0 1 0 1 0 11 0 1 0 0 1 0 1 1 10 1 0 1 1 0 1 0 0 00 1 0 1 1 0 1 0 1 00 0 0 0 1 1 1 1 0 00 0 0 0 1 1 1 1 1 0

3. Perhatikan dan catat tipe IC apa yang anda pakai percobaan

7

Page 8: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Gambar 4.3. Multiplekser 74LS157

IV.4 Percobaan BCD TO 7 SEGMENTPerhatikan gambar 4.4. Input BCD To 7 Segment terdiri dari 4 yaitu A, B, C

dan D serta output a,b,c,d,e,f,g . Semua indikator untuk input menggunakan LED dan output menggunakan 7 Segment. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.Langkah-langkah untuk melakukan praktikum ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON) dg mengukur tegangan pada pin Vcc2. Kemudian isilah tabel 4.4.(Segmen menyala logika H (1) padam logika rendah)3. Isikan dari data 0000 sd 11114. Tipe IC apa yang anda pakai percobaan

Tabel 4.4 Percobaan BCD to 7 segmentLT BI RBI D C B A DISPLAY g f e d c b a0 1 1 X X X X1 0 1 X X X X1 1 0 X X X X1 1 1 0 0 0 01 1 1 0 0 0 11 1 1 0 0 1 01 1 1 0 0 1 11 1 1 0 1 0 01 1 1 0 1 0 11 1 1 0 1 1 01 1 1 0 1 1 11 1 1 1 0 0 01 1 1 1 0 0 11 1 1 1 0 1 0

8

Page 9: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Gambar 4.4. BCD to 7 segment 74LS47. V. PERTANYAAN1. Pin clock pada IC 74LS574 bersifat PGT, apa artinya dan apa kaitannya dengan

sumber clock yang didapat dari IC 5552. Berikan 2 perbedaan IC 74LS574 dengan IC 74LS74 terkait dengan fungsi pin-pin

nya3. Jelaskan arti dua data pada dua baris pertama pada tabel 4.2 (SIPO 74LS164) dan

berikan komentar untuk level logika yang akan terjadi pada outputnya,4. Gambarkan diagram logic internal dari IC 74LS164 serta jelaskan cara kerjanya 5. Apa fungsi IC Multiplekser 74LS157 dan jelaskan cara kerjanya6. Bagaimana hubungan nilai logika pada select input dengan nilai outputnya pada IC

Multiplekser 74LS1577. Apa arti lingkaran (buble) pada pin output dari IC 74LS47 dan apa fungsi pin –

LT?.8. Dari truth table BCD to 7 segment (table 4.11) berikan persamaan aljabar masing-

masing segment dari 7 segment (abaikan input kontrolnya), dari nilai 0 sd 9. 9. Gambarkan diagram logika dari soal nomor 710. Apa perbedaan IC IC 74LS47 dengan IC 74 LS48, berikan penjelasan dari

jawaban anda

9

Page 10: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

PERCOBAAN IIIDEKODER, ENKODER, FLIP-FLOP DAN PISO

I. Tujuan percobaan1. Mengerti dan memahami sifat dan operasional decoder dan enkoder2. Mengerti dan memahami sifat dan operasional JK flip flop3. Mengerti dan memahami sifat dan operasional paralel to serial shift register

II. Alat-alat Percobaan1. Board Percobaan 3 2. Multimeter digital

III. Dasar teori

IV. Langkah-langkah percobaan

IV.1 Percobaan Decoder 2 To 4Perhatikan gambar 4.1. Input Decoder 2 To 4 terdiri dari 2 yaitu A dan B

serta enable E. Semua indikator untuk input menggunakan LED dan output menggunakan LED juga. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan Percobaan ini adalah :1. Hubungkan catu daya dengan menancapkan konektor ke board dan nyalakan2. Kemudian isilah tabel berikut, dengan mengatur saklar input A dan B sesuai

dengan tabel 4.1.

Tabel 4.1 Percobaan decoder 2 ke 4-E B A Y3 Y2 Y1 YO0 0 00 0 10 1 00 1 11 X X

3. Pindahkan jumper E ke 1 seperti pada baris terakhir, apa yang terjadi saat saklar input diubah-ubah, catat hasilnya (sesuai dengan 4 kondisi di atasnya), total ada 8 baris kombinasi input

4. Tipe IC apa yang anda pakai percobaan

Gambar 4.1 Decoder 2 to 4 74LS139

10

Page 11: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

IV.2 Percobaan Decoder 3 ke 8

Gambar 4.2 . Decoder 3 To 8 74LS138Perhatikan gambar 4.2. Input Decoder 3 To 8 terdiri dari 3 yaitu A, B dan C serta enable -E1, -E2 dan E3. Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan Percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON)2. Atur posisi saklar sesuai dg tabel 4.2 dan catat hasilnya3. Lakukan dari 000 sd 1114. Perhatikan dan catat tipe IC yang anda pakai percobaan

Tabel 4.2 Percobaan dekoder 3 ke 8-E1 -E2 E3 C B A Y7 Y6 Y5 Y4 Y3 Y2 Y1 Y01 1 0 X X X1 1 1 X X X0 1 1 X X X0 1 0 X X X1 0 0 X X X1 0 0 X X X0 0 1 0 0 00 0 1 0 0 10 0 1 0 1 00 0 1 0 1 10 0 1 1 0 00 0 1 1 0 10 0 1 1 1 00 0 1 1 1 1

IV.3 Percobaan Decoder 4 ke 16Perhatikan gambar 4.3. Input Decoder 4 To 16 terdiri dari 6 yaitu A, B, C

dan E serta STR dan INH. Semua indikator untuk input menggunakan LED dan output menggunakan LED juga. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan Percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON)2. Atur posisi saklar sesuai dg tabel 4.3.

11

Page 12: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

2. Kemudian isilah tabel 4.3. (ambil data dari 0000 sd 1111)Tabel 4.3 Percobaan decoder 4 ke 16

Gambar 4.3. Decoder 4 To 16 45143. Tukar posisi pin INH pada data 1111 dan catat apa yang terjadi4. Tukar posisi pin STR untuk data 1111, dan catat apa yang terjadi5. Amati tipe IC yang anda pakai percobaan

IV.4 Percobaan JK Flip FLopPerhatikan gambar 4.4. JK Flip-Flop menggunakan IC 74LS73. Input terdiri

dari J, K dan CLOCK serta output Q dan - Q. Semua indikator untuk input dan output menggunakan LED. Untuk input CLOCK menggunakan monostable multivibrator

12

STR

-INH D C B A Y15 Y14 Y13 … Y3 Y2 Y1

Y0

1 0 0 0 0 01 0 0 0 0 11 0 0 0 1 01 0 0 0 1 11 0 0 1 0 01 0 0 1 0 11 0 0 1 1 01 0 0 1 1 11 0 1 0 0 01 0 1 0 0 11 0 1 0 1 01 0 1 0 1 11 0 1 1 0 01 0 1 1 0 11 0 1 1 1 01 0 1 1 1 1

Page 13: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

agar terjadi keadaan pasti pada saat rising edge.. Jika LED menyala berarti logika ‘1’ dan bila padam berarti logika ‘0’.

Gambar 4.4. JK FF

Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan Percobaan ini adalah:1. Pastikan catu daya masih menyala (ON)2. Atur posisi saklar sesuai dg tabel 4.4 dan isilah tabelnya

Tabel 4.4 Percobaan JK flip flopRST J K CLK Q -Q0 X X X1 0 0 ON1 0 1 ON1 1 0 ON1 1 1 ON1 1 1 ON

CLK ON : Tombol CLOCK ditekan kemudian dilepas3. Pindahkan pin RST ke 0 beri trigger lagi untuk data 11, apa yang terjadi pada Q4. Amati tipe IC yang anda pakai percobaan

IV.5 Percobaan encoder 8 ke 3Perhatikan gambar 4.5. Input encoder 8 ke 3 terdiri dari 8 tombol push button

yaitu 0,1,2,3,4,5,6,7 dan enable E1. Semua indicator untuk input dan output menggunakan LED. Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan Percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON)2. Atur posisi sakalr sesuai tabel 4.5 dan isilkan table.3. Kondisi input X bisa 0 atau 1

Tabel 4.5 Hasil percobaan encoder 8 ke 3INPUT OUTPUT

13

Page 14: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

EI 0 1 2 3 4 5 6 7 C B A GS EO1 X X X X X X X X0 1 1 1 1 1 1 1 10 X X X X X X X 00 X X X X X X 0 10 X X X X X 0 1 10 X X X X 0 1 1 10 X X X 0 1 1 1 10 X X 0 1 1 1 1 10 X 0 1 1 1 1 1 10 0 1 1 1 1 1 1 1

Gambar 4.5 Enkoder 8 ke 3 74LS148

3. Amati tipe IC yang anda pakai percobaanIV.6 Percobaan komparator

Perhatikan gambar 4.6. Input komparator terdiri dari 16 dipswitch yaitu P0 – P7 dan Q0 – Q7 dan enable G. Langkah-langkah yang harus dilakukan untuk melakukan Percobaan ini adalah :1. Pastikan catu daya masih menyala (ON)2. Atur posisi saklar sesuai tabel 4.6 dan isikan tabelnya.3. Cobalah 2 kombinasi saklar input lainnya dan amati outputnya.4. Amati tipe IC yang anda pakai percobaan

14

Page 15: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Gambar 4.6 Rangkaian komparator 74LS688

Tabel 4.6 Percobaan comparatorG P

0P1

P2

P3

P4

P5

P6

P7

Q0

Q1

Q2

Q3

Q4

Q5

Q6

Q7

P=Q

1 X X X X X X X X X X X X X X X X0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 00 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 10 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0 00 : close, 1 : open

IV.7 Percobaan Paralel To serial Shift Register Untuk menggunakan modul ini, lakukan langkah-langkah berikut:

1. CLK1 pada posisi CLK2. CLK2 pada posisi 03. PL = 0 kemudian pindah ke 1 (SH/-PL)4. Buat serial input = 05. Buat. D7 = 0, D6 = 1, D5 = 0, D4 = 1, D3 = 0, D2 = 1, D1 = 0, D0 = 16. Tekan trigger 1x , kemudian lihat Q dan –Q dan tekan trigger lagi dan seterusnya

sampai 8 x. Catat hasil pengamatan anda7. Catat hasilnya pada tabel 4.78. Coba 2 kombinasi input data lainnya (data2 dan data3) yaitu 11100000 dan

000010109. Perhatikan data paralel mana yang keluar pertama pada output (Q)

Tabel 4.7 Percobaan PISOclk

Data1(01010101)

Data2(11100000)

Data3(00001010)

1

15

Page 16: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

2345678

10. Amati tipe IC yang anda pakai percobaan

Gambar 4.7 Rangkaian PISO 74LS165

V. PERTANYAAN1. Dari percobaan IV.1 buatlah diagram logic untuk decoder 2 ke 42. Berikan gambar rangkaiannya, cara agar IC 74LS139 menjadi decoder 3 ke 8,

jelaskan jawaban anda3. Dari percobaan IV.2 buatlah diagram logic untuk decoder 3 ke 8, jelaskan cara

operasional IC ini. 4. Apa fungsi pin INH dan STR pada percobaan IV.35. Reset (-RD) adalah input asinkron pada percobaan IV.4 apa maksudnya6. Dari percobaan encoder 8 ke 3 gambarkan diagram logikanya dan berikan

persamaan aljabarnya7. Berikan 2 perbedaan encoder dan decoder8. Apa fungsi pin –EO dan - GS pada percobaan IV.59. Komparator bisa menunjukkan persamaan dan pertidaksamaan, jelaskan

hubungannnya dengan percobaan IV.6 yang anda lakukan10 Ada 2 mode operasi pada percobaan IV.7, sebutkan dan berikan penjelasannya

masing-masing

16

Page 17: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

PERCOBAAN IVCOUNTER, ADDER, DAN MULTIPLEKSER ANALOG

I. Tujuan percobaan

1. Mengerti dan memahami sifat dan operasional counter2. Mengerti dan memahami sifat dan operasional full adder3. Mengerti dan memahami sifat dan operasional multiplekser analogII. Alat-alat Percobaan

1. Board Percobaan 42. Multimeter digital

III. Dasar teori

IV. Langkah-langkah percobaan

IV.1 Percobaan BCD/Decade Up/Down CounterUntuk menggunakan modul ini, lakukan langkah-langkah berikut :

Gambar 4.1 BCD/Decade Up/Down Counter 74LS190

Mode operasi parallel load:1. PL = 0, -CE = -U/D = -CP = X2. Ubah-ubah posisi saklar P dan kemudian tekan trigger secara perlahan 1x dan

catat output Q3 Q2 Q1 Q0. Lakukan secara berulang sampai 16 x. Catat hasilnya pada tabel 4.1

Tabel 4.1 Percobaan mode PLNO P3 P2 P1 P0 Q3 Q2 Q1 Q0 RC TC1 0 0 0 02 0 0 1 03 0 0 1 14 0 1 0 05 sd

17

Page 18: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

1314 1 1 1 015 1 1 1 116 0 0 0 0

Mode operasi count up:3. PL = 1, CE = 0, -U/D = 0, Buat input 0000, kemudian tekan trigger secara

perlahan 1x dan catat output Q3 Q2 Q1 Q0. 4. Lakukan secara berulang sampai 20 x, pehatikan LED pada TC dan –RC, . Catat

hasilnya pada tabel 4.25. Buat input 0011 kemudian tekan trigger secara perlahan 1x dan catat output Q3

Q2 Q1 Q0. Lakukan secara berulang sampai 20 x,

Tabel 4.2 Percobaan mode count upNO P3 P2 P1 P0 Q3 Q2 Q1 Q0 RC TC1 0 0 0 02 0 0 0 03 0 0 0 04 0 0 0 05 sd 1819 0 0 0 020 0 0 0 0

Tabel 4.3 Percobaan mode count upNO P3 P2 P1 P0 Q3 Q2 Q1 Q0 RC TC1 0 0 1 12 0 0 1 13 0 0 1 14 0 0 1 15 sd 1415 0 0 1 116 0 0 1 117 0 0 1 118 0 0 1 119 0 0 1 120 0 0 1 1

Mode operasi count down

18

Page 19: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

6. PL = 1,CE = 0, -U/D = 1, kemudian tekan trigger secara perlahan 1x dan catat output Q3 Q2 Q1 Q0.

7. Lakukan secara berulang sampai 20 x, pehatikan LED pada TC dan –RC, Catat hasilnya pada tabel 4.4

Tabel 4.4 Percobaan mode count downNO P3 P2 P1 P0 Q3 Q2 Q1 Q0 RC TC1 1 1 1 12 1 1 1 13 1 1 1 145 sd 1819 1 1 1 120 1 1 1 1

Tabel 4.5 Percobaan mode count downNO P3 P2 P1 P0 Q3 Q2 Q1 Q0 RC TC1 1 1 0 02 1 1 0 03 1 1 0 04 1 1 0 05 sd 18

1 1 0 0

19 1 1 0 020 1 1 0 0

Mode operasi hold8. Ini hanya memerlukan pin PL = 1dan CE = 1sedangkan pin lainnya don’t care9. Ubah-ubah posisi saklar P apa yang terjadi, Catat hasilnya pada tabel 4.6

Tabel 4.6 Percobaan mode holdNO P3 P2 P1 P0 Q3 Q2 Q1 Q0 RC TC1 0 0 0 02 0 0 0 13 0 0 1 04 0 0 1 15 sd

19

Page 20: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

1415 1 1 1 116 0 0 0 0

IV.2 Percobaan Binary Up/Down CounterUntuk percobaan ini langkah-langkahnya sama dengan percobaan IV.1 sebelumnya. Pindahkan posisi CLK dari 74LS190 ke 74LS191. Catat hasilnya seperti pada tabel sebelunya (TABEL 4.1 SD 4.6)

Gambar 4.2. Binary Up/Down Counter

IV.3 Percobaan Full Adder 4 bit with carryModul percobaan ini adalah menjumlahkan bit A dan B dimana A1 dan B1

adalah LSB dan A4 dan B4 adalah MSB. Carry input ikut dianggap sebagai bit tambahan. Jika hasil penjumlahan lebih besar dari 15, maka carry out = 1 dan sebaliknya.Langkah –langkah dalam percobaan ini adalah mengatur posisi saklar sesuai table di bawah dan catat hasilya pada table outputnya. Buat carry in 0 dulu diikuti dengan 1

20

Page 21: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Gambar 4.3 Full adder 4 bit dengan carry in dan out

Untuk input berikut:Tabel 4.9 Percobaan Full adder 4 bit

No A4 A3 A2 A1 B4 B3 B2 B1 CARRY IN

1 0 0 0 0 0 0 0 0 02 0 0 0 0 0 0 0 0 13 0 0 0 0 0 0 0 1 04 0 0 0 0 0 0 0 1 15 0 0 0 0 0 0 1 0 06 0 0 0 0 0 0 1 0 17 0 0 0 0 0 0 1 1 08 0 0 0 0 0 0 1 1 19 1 0 0 0 0 1 0 0 110 1 0 0 0 0 1 0 0 0 11 1 0 0 0 0 1 0 1 112 1 0 0 0 0 1 0 1 013 1 0 0 0 0 1 1 0 114 1 1 0 0 0 1 1 0 015 1 1 0 0 1 0 0 0 116 1 1 0 0 1 0 0 0 017 1 1 0 0 1 0 0 1 118 1 1 1 0 1 0 0 1 019 1 1 1 0 1 0 0 0 120 1 1 1 0 1 0 0 0 0

Diperoleh output

21

Page 22: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

No S4 S3 S2 S1 CARRY OUT0123

20

IV.4 Percobaan Multiplekser analog 8 to 1

Gambar 4.4 Multiplekser analog 8 to 1

Untuk melakukan percobaan ini dibutuhkan voltmeter. Atur tegangan di CH0 = 0.5 volt dengan mengatur potensimeternya begitu pula dengan yang lain sesuai dengan table di bawah ini. (pasangkan kabel jumpernya menurut channelnya masing-masing). Atur juga pin select input C,B,A sesuai tabelnya. Kemudian ukur tegangan output dengan volt meter dengan keadaan seperti tabel 4.10

Tabel 4.10 Percobaan multipleser analogCH7 CH6 CH

5CH4 CH3 CH2 CH

1CH0 C B A OUTPUT

4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 0 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 0 14.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 1 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 1 14.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 0 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 0 14.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 1 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 1 1

IV.5 Percobaan Demutiplekser analog 1 to 8

Lakukan hal yang sama untuk fungsi demultiplexer dengan meletakkan kabel jumper ke pin output, atur pin select input dan ukur tegangan output pada masing-masing channel. Catat hasil pengamatan anda.

22

Page 23: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

Tabel 4.11 Percobaan demultipleser analog

CH7 CH6 CH5

CH4 CH3 CH2 CH1

CH0 C B A OUTPUT

4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 0 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 0 14.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 1 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0 1 14.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 0 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 0 14.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 1 04.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 1 1 1

IV.6 Percobaan Multiplekser analog 4 to 1 ( cd4052bE)

Pakai nilai input analog seperti seperti pada percobaan IV.4 dan hubungkan analog input dg input multiplexer serta atur posisi selesct input sesuai dengan tabel 4.12 dan catat hasilnya.

Tabel 4.12 Percobaan multipleser analog 4 to 1B A X1 X2 X3 X4 OUT Y0 Y1 Y2 Y3 out0 0 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.50 1 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.51 0 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.51 1 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5

IV.7 Percobaan Demutiplekser analog 1 to 4

Lakukan hal yang sama untuk fungsi demultiplexer dengan meletakkan kabel jumper ke pin output, atur pin select input dan ukur tegangan output pada masing-masing channel. Catat hasil pengamatan anda.

Tabel 4.13 Percobaan multipleser analog 4 to 1B A X1 X2 X3 X4 OUT Y0 Y1 Y2 Y3 out0 0 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.50 1 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.51 0 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.51 1 4.0 3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5

V. Pertanyaan1. Berikan 2 perbedaan operasi sinkron dan asinkron pada counter

23

Page 24: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

2. Berikan caranya sehingga counter 4 bit bisa menjadi counter bcd/decade, gambar rangkaiannya

3. Bandingkan percobaan IV.1 dengan IV.2 berikan dua perbedaan dan dua persamaannya

4. Tentukan persamaan logic untuk full adder 4 bit.5. Berikan satu pemakaian dari multiplekser analog serta berikan gambar

rangkaiannya6. Realisasikan rangkaian full adder 8 bit dan jelaskan cara kerjanya, berikan 1

contoh kondisi input dan outputnya7. Gambarkan rangkaian binary up counter dan jelaskan cara kerjanya8. Gambarkan rangkaian binary down counter dan jelaskan cara kerjanya9. Berikan 3 perbedaan operasi parallel load dan count up pada percobaan IV.10. Berikan 2 perbedaan operasi multipleser dan demultiplexer.

PERCOBAAN VSIMULASI RANGKAIAN(JUDUL BUAT SENDIRI)

I. Tujuan percobaan

1. Dapat mendesaian atau menganalisis peralatan digital serta dapat mensimulasikan atau merealisasikannya, menampilkan unjuk kerjanya serta menganalisis hasil unjuk kerjanya.

2. Buat lebih spesifik sesuai dengan fungsi atau tujuan alat yang didesain yang ingin ditonjolkan

II. Alat-alat PercobaanBuat sendiri sesuai kebutuhan

III. Desain peralatan Desain dari tiori dasar sampai mendapat diagram logikanya, termasuk hubungan pin-pinnya disertai penjelasannya

Untuk percobaan V masing-masing kelompok mengajukan dan mencatatkan judul desain atau analisisnya pada kepala lab dengan mengumpulkan naskah (hardcopy) dari I Tujuan percobaan sd III Desain peralatan. (judul atau desain alat tidak boleh sama). Materi ini sudah dikumpulkan terakhir pada saat pratikum terakhir. Desain/analisis bisa menggunakan simulasi seperti EWB, Multisim atau simulator digital/logika lainnya. Bisa juga dengan realisasi langsung pada PCB atau breadboard. Realisasi dengan IC langsung baik pada PCB atau breadboard ada tambahan nilai 10% (hasilnya dikumpulkan) Desain minimal terdiri dari 2 IC MSI, yang memakai gerbang dasar tidak dibatasi jumlahnya tetapi minimal merealisakan 1 peralatan atau IC. (IC pendukung tidak termasuk). Desain/analisis harus ada indicator masukan dan keluaran atau I/O yang jelas. Demo hasil desain akan diadakan

24

Page 25: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

terakhir saat post tes atau sesuai dengan perjanjian dengan asisten atau dosen bersangkutan. Waktu demo maksimal 10 menit dan tidak ada demo susulan atau ulangan. Lab hanya menyediakan tempat, PC, power supply dan multimeter. Untuk percobaan V desain /laporan boleh diprint computer semua.

Contoh judul/topic desain1. Desain IC 74LS47 2. Desain IC 74LS1383. Desain kombinasional circuit yang mengubah kode gray 4 bit ke biner 4 bit.4. Desain decoder 4 ke 16 dari decoder 2 ke 45. Desain counter sinkron 4 bit dg D FF6. Desain adder 3 bit7. Dll

Tahapan percobaan IV dan spesifikasinya1. Pratikan menyampaikan dan mengkonsultasikan judul sd desain/analisisnya

(subab 1 sd 3) 2. Jika 1 dari 3 item materi tidak diterima pratikan harus melengkapinya atau

menggantikan materi/judulnya. Untuk percobaan IV yang diprioritaskan adalah penguasaan materi percobaan bukan tampilan/unjuk kerjanya alatnya

3. Jika topic sudah diterima pratikan menampilkan unjuk kerja (demo) peralatannya kepada dosen/petugas yang ditunjuk. Pada saat ini akan diadakan tanya jawab tentang unjuk kerja dan latarbelakang/tiori yang menunjang peralatan. Tidak ada demo susulan, jadi saat demo sudah siap dengan peralatan dan jawaban pertanyaan yang mungkin diberikan.

4. Pratikan membuat laporan akhir seperti percobaan lainnya5. Untuk periode tahun 2016, percobaan IV hanya menerima percobaan simulasi

computer saja

25

Page 26: PERCOBAAN I · Web viewLangkah-langkah percobaan IV.1 Percobaan NAND gate Gambar 4.1. NAND gate Perhatikan gambar 4.1. di atas. Input NAND gate terdiri dari 2 yaitu A dan B serta

26