metode pengantar geologi

7/13/2019 metode pengantar geologi

1/34

TUGAS 5

BERAGAM METODE PEROLEHAN DATA GEOLOGI

I. PETROGRAFI

Pada analisa batuan secara petrografis ini dilakukan untuk menganalisa mineral-mineral yang

terkandung didalam batuan yang kenampakannya tidak bisa dilihat dengan mata biasa sehingga

dilakukan pendeskripsian batuan secara petrografis menggunakan alat bantu mikroskop

polarisasi. Pada analisa yang dilakukan semuanya hampir sama dengan analisa batuan secara

megaskopis, yang membedakan disini adalah menggunakan alat bantu mikroskop, sehingga hasil

yang didapat pun jauh lebih baik dan valid. Setiap mineral memiliki system kristalnya masing

masing dan setiap system kristal memiliki sumbu kristal walaupun sudut yang dibentuk oleh

masing-masing sumbu kristal antara system kristal yang satu dan yang lain berbeda. Untuk itu

setiap mineral memiliki sifat optis tertentu. Analisis sayatan tipis batuan dilakukan karena sifat-

sifat fisik (tekstur dan komposisinya) serta perilaku mineral-mineral penyusun dalam batuan

(beku, sedimen dan metamorf) tersebut tidak dapat diamati secara megaskopis. Jadi mineralogi

optis dan petrografi adalah suatu metode yang sangat mendasar dalam mendukung pembelajaran

dan analisis data geologi.

Alat yang digunakan disebut mikroskop terpolarisasi, karena cahaya yang digunakan pada

mikroskop akan terpolarisasi oleh polarisator sehingga pada saat cahaya melalui suatu mineral

akan menunjukan interferensi warna hasil pembiasan oleh struktur kristal pada mineral tersebut.

Ada beberapa jenis mikroskop polarisasi, yaitu binokuler, trilokuler, baik non-digital maupun

yang digital. Gambar 1 menunjukan bagian dari mikroskop polarisasi.


2/34

Gambar 1 menunjukan bagian dari mikroskop polarisasi.

Pengamatan Nikol Sejajar

Setiap mineral memiliki sistem kristalnya masing-masing: isometrik (sumbu a = sumbu b =

sumbu c;


3/34

2. Ketembusan Cahaya / Transparansi

Berdasar atas sifatnya terhadap cahaya, mineral dapat dibagi menjadi dua golongan yaitu :

Mineral yang tembus cahaya / transparent. Mineral tembus cahaya dapat dibagi menjadi

dua jenis yaitu mineral berwarna dan mineral tidak berwarna

Mineral tidak tembus cahaya / mineral opak / mineral kedap cahaya. Di bawah

ortoskop semua mineral kedap cahaya tampak sebagai butiran yang gelap/hitam. Mineral

jenis ini tidak dapat dideskripsikan dengan mikroskop polarisasi, dan dapat dipelajari

lebih lanjut dengan mikroskop pantulan.

3. Relief

Relief adalah sifat optis mineral atau batuan yang menunjukkan tingkat / besarnya pantulan yang

diterima oleh mata (pengamat). Semakin besar sinar yang dipantulkan atau semakin kecil sinaryang dibiaskan oleh lensa polarisasi, maka makin rendah reliefnya, begitu pula sebaliknya. Jadi,

relief mineral berhubungan erat dengan sifat indek biasnya; Ngelas< Nobyek. Relief kadang-kadang

juga diimplikasikan oleh tebal-tipisnya sayatan. Sayatan yang telah memenuhi standarisasi,

tentunya memiliki relief yang standar juga, sehingga besarnya tertentu.

4. Pleokroisme

Yaitu sifat penyusupan mineral anisotropic dalam menyerap sinar mengikuti sistem

kristalografinya. Ditunjukkan oleh beberapa kali perubahan warna kristal setelah diputar hingga

360O. Dapat diamati pada posisi terpolarisasi maupun nikol sejajar.

Mineral uniaxial disebut dichroic: dua warna yang berbeda dari vibrasi sinar yang parallel

terhadap sumbu vertikal dan sumbu dasar. Mineral biaksial: trichroic, 3 perubahan warna

berhubungan dengan 3 sumbu elastisitas utama. Ct: horenblende pleokrois kuat dan piroksen tak-

pleokrois

5. Bentuk Kristal

Bentuk kristal adalah bentuk suatu kristal mineral mengikuti pertumbuhan / tata aturanpertumbuhan kristal. Bentuk kristal yang ideal pasti mengikuti susunan atom dan pertumbuhan

atom-atom tersebut, atau dapat pula mengikuti arah belahannya. Bentuk kristal dapat digunakan

sebagai parameter untuk mengetahui tingkat kristalisasi mineral secara umum. Namun, mineral

yang berukuran besar bukan berarti tingkat kristalisasinya sempurna. Sebagai contoh adalah

mineral-mineral penyusun batuan gunung api yang terkristalisasi dengan cepat dapat tumbuh


4/34

membentuk mineral dalam diameter yang besar, tetapi bentuk kristalnya anhedral membentuk

fenokris dalam batuan bertekstur porfiritik.

Dalam pendeskripsiannya, bentuk kristal ditentukan dari orientasi tepian mineralnya. Bentuk

kristal yang tidak beraturan pada seluruh sisinya disebut anhedral; jika sebagian sisi kristal yang

tidak beraturan disebut subhedral; dan jika seluruh sisi kristal beraturan disebut euhedral

6. Bentuk mineral

Bentuk mineral tidak harus sama dengan bentuk kristal. Bentuk mineral adalah bentuk secara

fisik, seperti takteratur (irregular), memanjang, prismatik, fibrous, membulat dan lain-lain.

Bentuk-bentuk mineral tersebut tidak berhubungan dengan tingkat kristalisasinya.

7. Belahan

Pada umumnya, suatu mineral memiliki bentuk kristal dari suatu sistem kristal tertentu, sesuai

dengan pertumbuhan kristalnya. Pertumbuhan kristal sendiri dibentuk / dibangun oleh susunan

atom di dalamnya. Sisi-sisi susunan atom-atom tersebut menjadi lebih lemah dibandingkan

dengan ikatannya. Hal itu berpengaruh pada tingkat kerapuhannya. Saat mineral mengalami

benturan / terdeformasi, maka pecahannya akan lebih mudah mengikuti arah belahannya.

Pengamatan Nikol Silang

Pengamatan nikol silang dilakukan jika sayatan berada pada diagonal sumbu C, yaitu denganmemasang prisma polarisasi bagian atas. Sifat-sifat optis mineral yang diamati pada posisi nikol

silang adalah birefringence (interference ganda), twinning (kembaran): tipe kembaran dan arah

orientasinya dan sudut gelapan: sejajar / miring pada sudut berapa.

1. Sifat Birefringence (BF)

Standardisasi sayatan tipis memiliki ketebalan 0,03 mm. Dalam sayatan tipis, interference

mineral harus dapat diamati, yang hanya dapat dalam sayatan tipis 0,03 mm. Ct. warna

interferencekuarsa terrendah berada pada orde pertama putih (abu-abu) atau mendekati warna

kuning orde I. Warna interference dapat dilihat dari posisi horizontal sayatan. Setelah warna

interference diketahui, pengamatan dilanjutkan melalui garis diagonalnya hingga didapatkan sifat

birefringence (BF). Dari posisi birefringence, dengan meluruskan ke bawah melalui garis

diagonal ke perpotongannya, akan diketahui ketebalan standarnya, apakah lebih tebal atau tidak


5/34

dari 0,03 mm. Orde warna interference dan birefringence menggunakan tabel warna Michel-

Levy (Gambar 2).

Birefringence ditentukan dari refraksi ganda pada pantulan sinar maximum (warna orde

tertinggi). BF dapat dilihat jika posisi sayatan berada pada sudut pemadaman 45Oterhadap nikol.

BF dapat digunakan (bertujuan) untuk menguji ketebalan sayatan kristal. Sifat BF mineral dapat

dilihat pada tabelsifat-sifat mineral (Bloss, 1961; Kerr, 1959; Larsen and Berman, 1964; Rogers

and Kerr, 1942) yang disertai dengan perubahan antara indeks refraksi tertinggi dan

terrendahnya.

Gambar 2 Tabel Orde warna dan birefringence interference Michel-Levy

2. Sifat Kembaran (Twinning)

Yaitu sifat yang ditunjukkan oleh mineral akibat pertumbuhan bersama kristal saat

pengkristalannya. Berbentuk kisi-kisi yang dibentuk oleh orientasi pertumbuhan kristalografi.

Sifat ini dapat diamati pada posisi pengamatan nikol silang. Berhubungan dengan sifat

pemadamannya.
http://d/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/sifat%20optis%20mineral.pdfhttp://d/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/sifat%20optis%20mineral.pdfhttp://d/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/sifat%20optis%20mineral.pdfhttp://d/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/sifat%20optis%20mineral.pdf


6/34

Bentuk Kembaran berhubungan dengan bentuk simetri dari dua atau lebih bagian-bagian

(bayangan kembar, sumbu rotasi).

3. Sifat Gelapan (Extinction)

Adalah fungsi hubungan orientasi indikatrik dan orientasi kristalografik. Mineral anisotropik

menunjukkan gelapan pada posisi nikol silang dengan rotasi tiap 90O. Gelapan muncul ketika

kedudukan salah satu vibrasi sejajar polarizer bawah. Dampaknya adalah seluruh sinar datang

ditahan oleh polarizer atas sehingga tidak membentuk getaran. Seluruh sinar yang melalui

mineral terserap pada polarizer atas, dan mineral terlihat gelap. Pada putaran posisi 45,

komponen maximum dari sinar cepat dan sinar lambat mampu dirubah menjadi vibrasi pada

polarizer atas. Hanya perubahan warna interference saja yang menjadi lebih terang atau lebih

gelap saja, warna sebenarnya tidak berubah.

Tipe Pemadaman

Pemadaman Parallel; Mineral menjadi gelap ketika belahannya atau sumbu panjang

searah terhadap salah satu benang silangnya. Sudut pemadaman (EA) = 0; contoh:

Orthopiroksen danBiotite

Pemadaman Miring; mineral gelap ketika belahan membentuk sudut dengan benang

silang, (EA) > 0 ; contoh: Klinopiroksen dan Horenblenda

Pemadaman Simetri; mineral menunjukkan belahan 2 arah atau dua perbedaan muka

kristal memungkinkan untuk mengukur dua sudut gelapan antara masing-masing belahan

atau muka dan kedudukan vibrasi. Jika 2 sudut sama maka akan dijumpai pemadaman

simetri, (EA1 = EA2); contoh: Amfibol dan Kalsit

Tanpa belahan:mineral yang tidak memanjang atau tidak memperlihatkan belahan yang

mencolok, akan memberikan pemadaman setiap diputar 90, tetapi tidak dapat diukur

sudut pemadamannya; contoh: Kuarsa dan olivin

Analisis petrografi merupakan metode untuk mengetahui komposisi mineral dari batuan secara

spesifik, kemudian berdasarkan data tersebut dapat ditentukan jenis batuan yang dikomparasikan

dengan karakteristik pada klasifikasi yang baku. Meskipun tingkat presisi lebih tinggi, namun analisis

ini juga sangat ditentukan oleh pengamatan secara makroskopik yang baik baik dengan skala

singkapan maupun conto setangan.
http://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/granite_lg.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/granite_lg.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/granite_lg.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/granite_lg.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.movhttp://j/dokumentasi/lain-lain/Panduan%20PHK%20Konten%20Internal/bahan%20virtual%20MOP/diorit.mov


7/34

II.SEM, XRD, XRF, PIMA

SEM (SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)

Mikroskop elektron (gambar 3) adalah sebuah mikroskop yang mampu untuk melakukanpembesaran objek sampai 2 juta kali, yang menggunakan elektro statik dan elektro magnetik

untuk mengontrol pencahayaan dan tampilan gambar serta memiliki kemampuan pembesaran

objek serta resolusi yang jauh lebih bagus daripada mikroskop cahaya. Mikroskop elektron ini

menggunakan jauh lebih banyak energi dan radiasi elektromagnetik yang lebih pendek

dibandingkan mikroskopcahaya.

Fenomena elektron

Pada tahun 1920 ditemukan suatu fenomena di mana elektron yang dipercepat dalam suatu

kolom [elektromagnet], dalam suasana hampa udara (vakum) berkarakter seperti cahaya, dengan

panjang gelombang yang 100.000 kali lebih kecil dari cahaya. Selanjutnya ditemukan juga

bahwa medan listrik dan medan magnet dapat berperan sebagai lensa dan cermin seperti pada

lensa gelas dalam mikroskop cahaya.

Gambar 3 Diagram transmisi dari sebuah mikroskop elektron

Mikroskop pemindai elektron (SEM)

Mikroskop pemindai elektron (SEM) yang digunakan untuk studi detail arsitektur permukaansel

(atau strukturjasad renik lainnya), dan obyek diamati secaratiga dimensi.
http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_statik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_magnetik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/wiki/Elektronhttp://id.wikipedia.org/wiki/Energihttp://id.wikipedia.org/wiki/Radiasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Cahayahttp://id.wikipedia.org/wiki/1920http://id.wikipedia.org/wiki/Medan_listrikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Medan_magnethttp://id.wikipedia.org/wiki/Selhttp://id.wikipedia.org/wiki/Jasad_renikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tiga_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/Berkas:Electron_Microscope.pnghttp://id.wikipedia.org/wiki/Tiga_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/Jasad_renikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Selhttp://id.wikipedia.org/wiki/Medan_magnethttp://id.wikipedia.org/wiki/Medan_listrikhttp://id.wikipedia.org/wiki/1920http://id.wikipedia.org/wiki/Cahayahttp://id.wikipedia.org/wiki/Radiasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Energihttp://id.wikipedia.org/wiki/Elektronhttp://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskophttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_magnetik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Elektro_statik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskop


8/34

Cara kerja

Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop optik dan

TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron sekunder) atau

elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut dipindai

dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya

diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada

layar monitorCRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah

diperbesar bisa dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan,

sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang3 dimensi.

Preparasi sediaan

Agar pengamat dapat mengamati preparat dengan baik, diperlukan persiapan sediaan dengan

tahap sebagai berikut : 1. melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpamengubah struktur sel yang akan diamati. fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa

glutaraldehida atau osmium tetroksida. 2. dehidrasi, yang bertujuan untuk memperendah kadar

air dalam sayatan sehingga tidak mengganggu proses pengamatan. 3. pelapisan/pewarnaan,

bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan diamati dengan lingkungan

sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam mulia seperti emas dan platina.

Jenis-jenis mikroskop elektron lain

Mikroskop transmisi elektron (TEM)Mikroskop transmisi elektron (Transmission electron microscope-TEM)adalah sebuah

mikroskop elektron yang cara kerjanya mirip dengan cara kerjaproyektor slide,di mana elektron

ditembuskan ke dalam obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil tembusannya pada

layar.

Mikroskop pemindai transmisi elektron (STEM)

Mikroskop pemindai transmisi elektron (STEM) adalah merupakan salah satu tipe yang

merupakan hasil pengembangan dari mikroskop transmisi elektron (TEM).

Pada sistem STEM ini, electron menembus spesimen namun sebagaimana halnya dengan cara

kerja SEM, optik elektron terfokus langsung pada sudut yang sempit dengan memindai obyek

menggunakan pola pemindaian dimana obyek tersebut dipindai dari satu sisi ke sisi lainnya

(raster) yang menghasilkan lajur-lajur titik (dots)yang membentuk gambar seperti yang

dihasilkan olehCRTpadatelevisi /monitor.
http://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/wiki/3_dimensihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Proyektor_slide&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/wiki/Televisihttp://id.wikipedia.org/wiki/Monitorhttp://id.wikipedia.org/wiki/Monitorhttp://id.wikipedia.org/wiki/Televisihttp://id.wikipedia.org/wiki/CRThttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Proyektor_slide&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/3_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/CRT


9/34

Mikroskop pemindai lingkungan elektron (ESEM)

Mikroskop ini adalah merupakan pengembangan dari SEM, yang dalam bahasa Inggrisnya

disebut Environmental SEM (ESEM) yang dikembangkan guna mengatasi obyek pengamatan

yang tidak memenuhi syarat sebagai obyek TEM maupun SEM.

Obyek yang tidak memenuhi syarat seperti ini biasanya adalah bahan alami yang ingin diamati

secara detail tanpa merusak atau menambah perlakuan yang tidak perlu terhadap obyek yang

apabila menggunakat alat SEM konvensional perlu ditambahkan beberapa trik yang

memungkinkan hal tersebut bisa terlaksana.

Tipe-tipe pengembangan

Mikr oskop refl eksi elektron (REM )

Yang dalam bahasa Inggrisnya disebut Reflection electron microscope (REM), adalah mikroskop

elektron yang memiliki cara kerja yang serupa sebagaimana halnya dengan cara kerja TEMnamun sistem ini menggunakan deteksi pantulan elektron pada permukaan objek. Tehnik ini

secara khusus digunakan dengan menggabungkannya dengan tehnik Refleksi difraksi elektron

energi tinggi (Reflection High Energy Electron Diffraction) dan tehnik Refleksi pelepasan

spektrum energi tinggi (reflection high-energy loss spectrum- RHELS)

Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy(SPLEEM)

Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy(SPLEEM) ini adalah merupakan Variasi lain

yang dikembangkan dari teknik yang sudah ada sebelumnya, yang digunakan untuk melihat

struktur mikro dari medan magnet (en:magnetic domains).

Teknik pembuatan preparat yang digunakan pada mikroskop elektron

Materi yang akan dijadikan objek pemantauan dengan menggunakan mikroskop elektron ini

harus diproses sedemikian rupa sehingga menghasilkan suatu sampel yang memenuhi syarat

untuk dapat digunakan sebagai preparat pada mikroskop elektron.

Teknik yang digunakan dalam pembuatan preparat ada berbagai macam tergantung pada

spesimen dan penelitian yang dibutuhkan, antara lain :

Kriofiksasi yaitu suatu metode persiapan dengan menggunakan teknik pembekuan

spesimen dengan cepat yang menggunakannitrogen cair ataupunhelium cair, dimana air

yang ada akan membentukkristal-kristal yang menyerupai kaca. Suatu bidang ilmu yang

disebut mikroskopi cryo-elektron (cryo-electron microscopy) telah dikembangkan

berdasarkan tehnik ini. Dengan pengembangan dari Mikroskopi cryo-elektron dari
http://en.wikipedia.org/wiki/magnetic_domainshttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Kriofiksasi&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Kriofiksasi&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Nitrogenhttp://id.wikipedia.org/wiki/Heliumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Kristalhttp://id.wikipedia.org/wiki/Kristalhttp://id.wikipedia.org/wiki/Heliumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Nitrogenhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Kriofiksasi&action=edit&redlink=1http://en.wikipedia.org/wiki/magnetic_domains


10/34

potongan menyerupai kaca (vitreous)atau disebut cryo-electron microscopy of vitreous

sections (CEMOVIS), maka sekarang telah dimungkinkan untuk melakukan penelitian

secaravirtual terhadap specimen biologi dalam keadaan aslinya.

Fiksasi - yaitu suatu metode persiapan untuk menyiapkan suatu sampel agar tampak

realistik (seperti kenyataannya ) dengan menggunakan glutaraldehid dan osmium

tetroksida.

Dehidrasi - yaitu suatu metode persiapan dengan cara menggantikan air dengan bahan

pelarutorganik seperti misalnyaethanol atauaceton.

Penanaman (Embedding) - yaitu suatu metode persiapan dengan cara menginfiltrasi

jaringan denganresin seperti misalnyaaraldit atauepoksi untuk pemisahan bagian.

Pembelahan (Sectioning)- yaitu suatu metode persiapan untuk mendapatkan potongan

tipis dari spesimen sehingga menjadikannya semi transparan terhadap elektron.Pemotongan ini bisa dilakukan dengan ultramicrotome dengan menggunakan pisau

berlian untuk menghasilkan potongan yang tipis sekali. Pisau kaca juga biasa digunakan

oleh karena harganya lebih murah.

Pewarnaan (Staining) - yaitu suatu metode persiapan dengan menggunakan metal berat

seperti timah, uranium, atau tungsten untuk menguraikan elektron gambar sehingga

menghasilkan kontras antara struktur yang berlainan di mana khususnya materi biologikal

banyak yang warnanya nyaris transparan terhadap elektron (objek fase lemah).

Pembekuan fraktur (Freeze-fracture) - yaitu suatu metode persiapan yang biasanya

digunakan untuk menguji membran lipid. Jaringan atau sel segar didinginkan dengan

cepat (cryofixed) kemudian dipatah-patahkan atau dengan menggunakan microtome

sewaktu masih berada dalam keadaan suhu nitrogen ( hingga mencapai -100%Celsius).

Patahan beku tersebut lalu diuapi dengan uap platinum atau emas dengan sudut 45 derajat pada

sebuah alat evaporatoren:evaporator tekanan tinggi.

Ion Beam Milling - yaitu suatu metode mempersiapkan sebuah sampel hingga menjadi

transparan terhadap elektron dengan menggunakan cara pembakaran ion( biasanya

digunakan argon) pada permukaan dari suatu sudut hingga memercikkan material dari

permukaannya. Kategori yang lebih rendah dari metode Ion Beam Milling ini adalah

metode berikutnya adalah metode Focused ion beam milling, dimana galium ion
http://id.wikipedia.org/wiki/Vitreoushttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Virtual&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Fiksasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Fiksasihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Glutaraldehid&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Osmium_tetroksida&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Osmium_tetroksida&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Dehidrasihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Organik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Ethanolhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Aceton&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Resinhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Araldit&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Epoksihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Transparan&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Ultramicrotome&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Berlianhttp://id.wikipedia.org/wiki/Timahhttp://id.wikipedia.org/wiki/Uraniumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tungstenhttp://id.wikipedia.org/wiki/Lipidhttp://id.wikipedia.org/wiki/Celsiushttp://en.wikipedia.org/wiki/evaporatorhttp://id.wikipedia.org/wiki/Ionhttp://id.wikipedia.org/wiki/Argonhttp://id.wikipedia.org/wiki/Galiumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Galiumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Argonhttp://id.wikipedia.org/wiki/Ionhttp://en.wikipedia.org/wiki/evaporatorhttp://id.wikipedia.org/wiki/Celsiushttp://id.wikipedia.org/wiki/Lipidhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tungstenhttp://id.wikipedia.org/wiki/Uraniumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Timahhttp://id.wikipedia.org/wiki/Berlianhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Ultramicrotome&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Transparan&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Epoksihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Araldit&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Resinhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Aceton&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Ethanolhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Organik&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Dehidrasihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Osmium_tetroksida&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Osmium_tetroksida&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Glutaraldehid&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Fiksasihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Virtual&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Vitreous


11/34

digunakan untuk menghasilkan selaput elektron transparan pada suatu bagian spesifik

pada sampel.

Pelapisan konduktif (Conductive Coating) - yaitu suatu metode mempersiapkan lapisan

ultra tipis dari suatu material electrically-conducting . Ini dilakukan untuk mencegah

terjadinya akumulasi dari medan elektrik statis pada spesimen sehubungan dengan

elektron irradiasi sewaktu proses penggambaran sampel. Beberapa bahan pelapis

termasukemas,palladium (emas putih),platinum,tungsten,graphite dan lain-lain, secara

khusus sangatlah penting bagi penelitian spesimen dengan SEM.

X-RAY DIFFRACTION(XRD)

Difraksi sinar X atauX-ray diffraction(XRD) adalah suatu metode analisa yang digunakan untuk

mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi

serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Profil XRD juga dapat memberikan data kualitatif dan

semi kuantitatif pada padatan atau sampel. Difraksi sinar X ini digunakan untuk beberapa hal,

diantaranya:

Pengukuran jarak rata-rata antara lapisan atau baris atom

Penentuan kristal tunggal

Penentuan struktur kristal dari material yang tidak diketahui

Mengukur bentuk, ukuran, dan tegangan dalam dari kristal kecil

Difraksi sinar-X terjadi karena pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam

sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan

interferensi yang konstruktif. Penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah

berdasarkan persamaan Bragg berikut ini.

(1)

dimana adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak antara dua bidang

kisi, adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal, dan n adalah bilangan bulat yang

disebut sebagai orde pembiasan.
http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Ultra&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Emashttp://id.wikipedia.org/wiki/Palladiumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Platinumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tungstenhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Graphite&action=edit&redlink=1http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/gb/http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Graphite&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Tungstenhttp://id.wikipedia.org/wiki/Platinumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Palladiumhttp://id.wikipedia.org/wiki/Emashttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Ultra&action=edit&redlink=1


12/34

Gambar 4 Difraksi sinar x (Nelson, 2010)

Jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan

sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut.

Proses difraksi sinar x seperti disajikan pada Gambar 1. Sinar x dibiaskan dan ditangkap oleh

detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Semakin banyak bidang

kristal yang terdapat dalam sampel, semakin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkan. Tiap

puncak yang muncul pada pola difraktogram mewakili satu bidang kristal yang memiliki

orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data

pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk semua jenis material

(Nelson, 2010).

Gambar 5..Proses Analisa Difraksi Sinar X (Nelson, 2010)
http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/xrd02/http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/xrd/http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/xrd02/http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/xrd/


13/34

Gambar 6. Hasil Difraksi Sinar X

Alat analisa XRD terdiri dari tabung sinar X, tempat sampel dan detektor. Tabung sinar X

berfungsi untuk menghasilkan sinar X. Detektor terletak bersebelahan dengan tabung sinar X dan

dapat digerakkan dengan arah dari nilai 0o-90o. Proses analisa dengan sistem difraksi sinar X

disajikan pada gambar 2. Sebuah sampel yang berbentuk serbuk ditaruh ditempat sampel.

Sampel dikenakan sinar X dari sudut sebesar 0-90o. Setiap sinar yang mengenai sampel akan

didifraksi dan ditangkap oleh detektor. Oleh detektor sinar-sinar diubah menjadi hasil dalam

bentuk gelombang-gelombang. Intensitas sinar X dari scan sampel diplotkan dengan sudut (biasanya dinyatakan dalam 2) (Nelson, 2010). Contoh hasil analisa difraksi sinar X disajikan

pada gambar 6.

Selain untuk menunjukkan tingkat kristalitas suatu padatan, difraksi sinar x juga dapat digunakan

untuk mengetahui diameter kristal. Ukuran kristal yang mungkin diukur adalah 3-50 nm. Ukuran

kristal yang diperoleh merupakan diameter rata-rata volum berat. Ukuran kristal dapat dihitung

dengan persamaan Scherrer berikut ini:

(2)
http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/gb2/http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/xrd03/http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/gb2/http://labterpadu.undip.ac.id/difraksi-sinar-x/xrd03/


14/34

dimana K=1.000, b adalah lebar peak yang telah dikoreksi oleh faktor pelebaran alat instrumen,

adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, Dv adalah ukuran kristal dan adalah

sudut antara sinar datang dengan bidang normal.

XRF (X-RAY FLOURESENCE)

Spektroskopi X-Ray Fluorescence (XRF) merupakan teknik analisis unsur yang membentuk

suatu material dengan menjadikan interaksi sinar-X dengan material analit sebagai dasarnya..

Dibutuhkan kalibrasi alat spektrosopi XRF terlebih dahulu sebelum melakukan analisis untuk

memastikan tingkat presisi. Teknik fluoresensi sinar-X dapat dipakai untuk menentukan

kandungan mineral organik maupun non organik. Metode XRF secara luas digunakan untuk

menentukan komposisi unsur suatu material, karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel.

XRF spektroskopi banyak dimanfaatkan dalam analisa batuan karena membutuhkan jumlah

sampel yang relatif kecil (sekitar 1 gram).

Prinsip Kerja

Radiasi sekunder, dihasilkan oleh materi bila terkena sinar-X, adalah karakteristik untuk setiap

elemen yang membentuk spesimen. Teknik spektrometri sinar-X menggunakan fitur ini untuk

karakterisasi bahan, yaitu analisis komposisi kimia.

Apabila terjadi eksitasi sinar X primer yang berasal dari tabung sinar X atau sumber radioaktif

mengenai sampel, sinar X dapat diabsorpsi atau dihamburkan oleh material. Proses dimana sinarX diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer energinya pada elektron yang terdapat pada kulit

yang lebih dalam disebut efek fotolistrik.

Selama proses ini, bila sinar X primer memiliki cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di

dalam menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil.

Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang lebih

dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar X yang tertentu dan berbeda antara dua energi

ikatan pada kulit tersebut. Emisi sinar X dihasilkan dari proses yang disebut X Ray Fluorescence

(XRF). Proses deteksi dan analisa emisi sinar X disebut analisa XRF. Adapun material yang

dianalisa meliputi: padat, cair, serbuk, filtered atau dalam bentuk lain.


15/34

Gambar 7. Interaksi berkas sinar x dengan spesimen. (Shibuya, 2003).

Gambar 8. Prinsip fluoresensi sinar X (Stephenson, 2007)

PIMA (Portable In fr ared Mineral Analyzer)

PIMA atau spectrometer inframerah portabel, digunakan sebagai alat analisis kualitatif pada

mineral dan batuan serta artifak gerabah purba yang kurang mengalami proses pembakaran.

Ukuran hanya sebesar kotak sepatu, dapat digunakan tanpa melakukan preparasi. Dapat

digunakan dan dibawa kemana saja dan merupakan alat analisis non destruktif. Prinsip kerja


16/34

PIMA menggunakanshort wavelength infrared(SWIR) yang merupakan bagian dari gelombang

elektromagnetik (panjang gelombang sekitar 1300-2500 nanometer) serta mengukur pantulan

pancaran dari permukaan objek. Hasil pengukuran tersebut menunjukan tingkat energy ikatan

partikel dari objek.

Gambar 9. PIMA (Portable Infrared Mineral Analyzer)

PIMA sangat efektif digunakan pada mineral dengan gugus hidroksil (OH) seperti mineral

filosilikat (mineral lempung dan serpentin), mineral silikat hidroksilat (epidot dan amfibol),

mineral sulfat (gypsum, alunit, jarosit), dan karbonat. Artefak gerabah yang sangat kering sangat

sulit dianalisis karena kadar air sangat rendah.

III.ANALISIS UKURAN BUTIR (ANALISIS GRANULOMETRI)

Analisis granulometri merupakan suatu analisis tentang ukuran butir sedimen. Analisis ini

dilakukan untuk mengetahui tingkat resistensi butiran sedimen terhadap proses-proses eksogenik

seperti pelapukan erosi dan abrasi dari provenance, serta proses transportasi dan deposisinya.

Hal-hal tersebut merupakan variabel penting dalam melakukan suatu interpretasi.

Tingkat resistensi suatu batuan dapat dilihat dari ukuran butirnya. Proses-proses eksogenik akan

mengubah bentuk dan ukuran suatu partikel sedimen. Nah, yang mungkin awalnya runcing-

runcing, atau ukuran butirnya masih gede-gede, lama kelamaan kan seiring waktu akan berubah

karena proses eksogenik itu. Sedangkan proses transportasi dan deposisi memperlihatkan proses

bagaimana agen utama seperti air menggerakkan dan mengendapkan butiran sedimen.


17/34

Menurut Boggs (1987), ada 3 faktor yang mempengaruhi ukuran butir batuan sedimen, yaitu

variasi ukuran butir sedimen asal, proses transportasi, dan energi pengendapan. Data-data hasil

analisis ukuran butir sedimen tersebut digunakan untuk mengetahui 3 faktor tersebut secara jelas.

Material-material sedimen yang terdapat di permukaaan bumi memiliki ukuran yang sangat

bervariasi. Udden (1898) membuat skala ukuran butiran sedimen, yang kemudian skala tersebut

dimodifikasi oleh Wenworth pada tahun 1922 dan dikenal dengan skala ukuran butir Udden-

Wenworth (1922). Ukuran butiran sedimen yang ditetapkan adalah mulai dari 256mm dan terbagi menjadi 4 kelompok besar, yaitu clay, silt, sand, dangravel.

Setelah skala Udden-Wenworth banyak digunakan, kemudian Krumbein (1934) membuat suatu

transformasi logaritmik dari skala tersebut yang kemudian dikenal dengan skala phi = log2d,

dengan d adalah ukuran butir dalam mm. Skala phi akan menghasilkan nilai positif dan nilai

negatif. Semakin besar ukuran butir dalam mm, maka nilai phi akan semakin negatif. Sebaliknya,semakin kecil ukuran butir dalam mm, maka nilai phi akan semakin positif. Krumbein memilih

logaritma negatif dari ukuran butir (mm) karena ukuran pasir dan butiran halus lebih sering

dijumpai pada batuan sedimen.

Analisis distribusi ukuran sedimen dapat dilakukan dengan cara melakukan pengukuran langsung

terhadap material sedimen berukuran gravel, dan pengayakan kering pada material sedimen

berukuran pasir dan lempung. Untuk mendapatkan sampel yang mampu mewakili semua sampel

itu sendiri, maka dilakukan splitting. Metodesplitting yang digunakan dalam praktikum adalah

quartering. Quartering dilakukan dengan cara menuangkan sampel melalui suatu corong di atas

karton yang disilangkan saling tegak lurus sehingga sampel akan terbagi dalam 4 kuadran. Proses

ini diulang-ulang hinggai diperoleh berat sampel yang diinginkan.

Ada beberapa metode atau cara yang dilakukan untuk menganalisis distribusi ukuran butir, yaitu

cara grafis dan cara matematis. Analisis yang dilakukan bertujuan untuk mendapatkan beberapa

parameter. Parameter nilai pada pengukuran butir sedimen antara lain ukuran butir rata-rata

(mean), keseragaman butir (sorting), skewness, dan kurtosis. Parameter tersebut dapat ditentukan

nilainya berdasarkan perhitungan secara grafis maupun secara matematis. Perhitungan secara

grafis menggunakan persamaan yang berdasarkan nilai phi pada sumbu horizontal kurva

prosentase frekuensi kumulatif. Sedangkan perhitungan matematis menggunakan rumus umum

momen pertama dengan asumsi bahwa kurva distribusi frekuensinya bersifat normal (Gaussian).


18/34

Cara Grafis

Cara grafis dilakukan setelah melakukan pengayakan dan penimbangan terhadap butiran

sedimen. Butiran sedimen yang diayak dan ditimbang berukuran pasir halus hingga pasir kasar.

Setelah dilakukan pengayakan dan penimbangan, data-data tersebut diplot dalam beberapa grafik

dan histogram. Salah satunya adalah kurva frekuensi kumulatif yang digunakan untuk

menentukan nilai phi pada persentil tertentu yang kemudian dimasukkan dalam rumus moment.

Rumus-rumus yang digunakan dalam cara grafis adalah:

Median

Median adalah ukuran butir partikel tepat pada tengah-tengah populasi, yang berarti

separuh dari berat keseluruhan partikel adalah lebih halus sedangkan separuh lainnya lebih kasar

dari ukuran butir tersebut. Median dapat dilihat secara langsung dari kurva komulatif, yaitu nilai

phi pada titik dimana kurva komulatif memotong nilai 50%.

Mode

Mode merupakan ukuran butir yang frekuensi kemunculannya paling sering (paling

banyak). Nilai mode adalah nilai phi pada titik tertinggi kurva frekuensi.

Mean

Mean adalah nilai rata-rata ukuran butir. Pada umumnya ukuran butir ini dinyatakan dalam phi

ataupun dalam satuan mm.

Sortasi

Sortasi adalah nilai standar deviasi distribusi ukuran butir (sebaran nilai di sekitar mean).

Parameter ini menunjukkan tingkat keseragaman butir.

Tabel 1. Nilai standar deviasi sortasi

Nilai Standard Deviasi Klasifikasi

< 0,35 Very well sorted

0,350,50 Well sorted

0,500,71 oderately well sorted

0,711,00 oderately sorted

1,002,00 Poorly sorted

2,004,00 Very poorly sorted

> 4,00 Extremely poorly sorted


19/34

Skewness (Sk)

Skewness menyatakan derajat ketidaksimetrian suatu kurva. Bila Sk berharga positif maka

sedimen yang bersangkutan mempunyai jumlah butir kasar lebih banyak dari jumlah butir yang

halus dan sebaliknya jika berharga negatif maka sedimen tersebut mempunyai jumlah butir halus

lebih banyak dari jumlah butir yang kasar.

Tabel 2. Nilaiskewness

Nilai Skewness Klasifikasi

+1.0 sd +0,3 Very fine skewness

+0,3 sd +0,1 Fine skewness

+0,1 sd -0,1 Near symmetrical

-0,1 sd -0,3 Coarse skewness

-0,3 sd -1,0 Very coarse skewness

Kurtosis

Kurtosis dapat menunjukan harga perbandingan antara pemilahan bagian tengah terhadap bagian

tepi dari suatu kurva. Untuk menentukan harga K digunakan rumus yang diajukan oleh Folk

(1968).

Tabel 3. Nilai kurtosis

Nilai Kurtosis Klasifikasi

3,00 Extremely leptokurtic

Cara MatematisCara matematis menggunakan perhitungan rumus matematis dan sangat berbeda dengan cara

grafis. Cara ini lebih teliti karena tidak perlu melakukan pembacaan kurva kumulatif yang

kemungkinan besar dapat mengalami kesalahan dalam pembacaannya.


20/34

IV. PALEONTOLOGI

Merupakan ilmu yang mempelajari tentang sejarah perkembangan kehidupan di bumi. Objek

yang diteliti berupa fosil yang merupakan jejak rekaman kehidupan di masa lampau yang

mengalami pengawetan secara alami dalam batuan (terhindar dari kerusakan khususnyamikroorganisme pengurai). Studi terhadap fosil mencakup evolusi organism, serta interaksi dan

keterkaitan antar organisme tersebut maupun lingkungan nya. Berdasarkan hal tersebut,

paleontologi memiliki dua kajian keilmuan, yaitu secara geologi (kondisi lingkungan, iklim,

faktor abiotik) dan biologi (evolusi organisme, simbiosis, dan sebagainya).

Fosil yang dikaji memiliki beberapa jenis, diantaranya:

Fosil tubuh (jasad fossil)

Merupakan rekaman kehidupan berupa tubuh bagian tubuh organisme yang terawetkan

maupun cetakan nya pada batuan.

Fosil jejak (trace fossil)

Merupakan rekaman kehidupan berupa jejak atau produk yang dihasilkan pada siklus

hidup organism yang kemudian terawetkan secara alami.

Fosil Geokimia

Merupakan rekaman kehidupan berupa unsur organik yang dihasilkan secara alami oleh

aktivitas serta metabolisme organisme. Kategori ini seringkali tidak dianggap dalam

cakupan paleontologi dan dianggap sebagai cakupan ranah kajian geokimia karena

memiliki ciri penarikhan umur yang absolut, berbeda dengan paleontologi yang bersifat

relatif.

Dalam geologi, kajian paleontologi membahas tentang evolusi kehidupan yang dikaitkan dengan

kejadian pada periode waktu pada skala waktu geologi. Representasi dari waktu dalam geologi

juga dicerminkan dari stratifikasi lapisan batuan.

Identifikasi fosil juga sangat bergantung pada jenis fosil yang digunakan sebagai penanda suatu

garis waktu yang disebut sebagai indeks fosil. Analisis yang digunakan adalah analisis dengansistem taksonomi seperti yang umum dilakukan dalam kajian biologi.


21/34

Gambar 10. Tingkatan taksonomi

Kajian tersebut selanjutnya juga diteliti dengan menggunakan parameter kuantitatif, seperti

kelimpahan dan kepunahan suatu takson. Palentologi merupakan dasar penarikhan umur geologi

secara relatif. Cakupan paleontology berdasarkan skala objek dan pengamatan dibagi menjadi

mikropaleontologi yang menggunakan alat bantu mikroskop, dan makropaleontologi yang

mempelajari fosil megaskopis tanpa menggunakan alat bantu mikroskop.

V.

UJI TRIAXIAL

Triaxial dan uniaxial test merupakan metode yang sering digunakan untuk mempelajari

karakteristik kekuatan batuan dan tanah dalam kajian geologi keteknikan dan teknik sipil.

Perbedaan dengan metode uniaxial ialah kehadiran confining pressure yang bekerja pada

specimen. uji triaxial. Spesimen yang sering digunakan pada uniaxial dan triaxial test dapat

dilihat pada gambar 11 . Pada gambar tersebut terlihat bahwa ketika stress radial (3) tidak sama

dengan nol dikategorikan sebagai sistem triaxial test, sedangkan sistem uniaxial test, stress radial

(3) berharga nol. Triaxial test terbagi menjadi Berdasarkan perlakuan terhadap specimen selama

pengujian, triaxial test dibedakan menjadi dua macam, yaitu Single Stage Triaxial Compressive

Test (SST) dan Multistage Triaxial Compressive test (MST). SST memerlukan cukup banyak

specimen, karena setiap specimen dalam tahap pengujian digunakan hanya untuk pengambilan

satu datafailureakibat beban axial (1) pada tekanan radial (3) tertentu saja, sehingga minimal


22/34

specimen yang diperlukan sebanyak tiga buah, dan idealnya empat atau lima buah. Berbeda

dengan MST, satu specimen dapat digunakan untuk memperoleh beberapa data failure akibat

beban axial (1) pada beberapa harga tekanan radialnya (3).. Data hasil pengukuran dari SST

dan MST samas ama menggambarkan karakteristik batuan baik parameter kekuatannya ataupun

propertiesstatik elastisitasnya. Berdasarkan rule of thumb, akurasi data yang diperoleh dari SST

lebih baik dibandingkan dengan MST.

Gambar 11. gaya yang bekerja pada objek uji kekuatan

Gambar 12. Diagram Mohr dan normal principal stress(1, 2, 3)

Gambar 13. contoh konfigurasi pada triaxial test


23/34

Prosedur Pengukuran

Persiapan Specimen

Sample core atau specimen yang akan di ukur kekuatan batuannya di ukur terlebih dulu panjang

dan diameternya (H/D:2/1) dan sesuai dengan dudukan specimen yang tersedia. Specimen yang

sudah diukur selanjutnya dipanaskan (dioven) sehingga diperoleh berat keringnya. Hal ini

dilakukan agar selama penjenuhan dengan fluida yang diinginkan benar-benar tersaturasi 100%

oleh fluida tersebut. Setelah diperoleh specimen yang sudah tersaturasi langkah selanjutnya ialah

persiapan alat SST.

Pengujian specimen

Apabila specimen dan alat SST sudah siap digunakan, maka pengujian kekuatan batuan dari

specimen tersebut dapat dimulai. Langkah-langkah yang harus diperhatikan selama pengujian

specimen tersebut diantaranya :1. Letakan specimen tepat pada dudukan specimen didalam cell Isi cell dengan fluida yang

diinginkan(misalnya fresh water), apabila cell hampir penuh, pengisian fluida selanjutnya

melalui tabung hidrolik stress radial setelah dipastikan bahwa tutup cell terpasang dengan rapat.

2. Berikan stress radial sesuai yang diharapkan dengan menggunakan hidrolik stress radial,

3. Berikan beban axial sekaligus lakukan pembacaan pada gauge ketika specimen mulai terjadi

failure dan hentikan pengukuran.

Triaxialcell pada SST didesign dengan menggunakan material baja yang mempunyai ketahanan

akibat besarnya beban axial dan radial pada rangkaian tersebut. Sistem pengujian spesimen

dengan memberikan beban dari arah axial dan radial yang dihasilkan oleh sistem hidrolik,

Sistem hidrolik yang digunakan pada SST ini dapat menghasilkan beban axial maksimum

sebesar 10 Ton dan tekanan radialnya 1500 psia. Hasil pengujian selanjutnya akan dimasukan

dalam beberapa formula perhitungan berdasarkan Properties Statik Elastisitas Batuan dan

Failure criterion (Mohr-Coloumb) (Fjaer et al. 1992 dalam Mujib dan Marhaendrajana 2009).

VI.

GEOFISIKA

Geofisika adalah bagian dari ilmu bumi yang mempelajari bumi menggunakan kaidah atau

prinsip-prinsipfisika.Di dalamnya termasuk juga meteorologi, elektrisitas atmosferis dan fisika

ionosfer. Penelitian geofisika untuk mengetahui kondisi di bawah permukaan bumi melibatkan

pengukuran di atas permukaan bumi dari parameter-parameter fisika yang dimiliki oleh batuan di
http://id.wikipedia.org/wiki/Ilmu_bumihttp://id.wikipedia.org/wiki/Bumihttp://id.wikipedia.org/wiki/Fisikahttp://id.wikipedia.org/wiki/Fisikahttp://id.wikipedia.org/wiki/Bumihttp://id.wikipedia.org/wiki/Ilmu_bumi


24/34

dalam bumi. Dari pengukuran ini dapat ditafsirkan bagaimana sifat-sifat dan kondisi di bawah

permukaan bumi baik itu secara vertikal maupun horisontal.

Dalam skala yang berbeda, metode geofisika dapat diterapkan secara global yaitu untuk

menentukan struktur bumi, secara lokal yaitu untuk eksplorasi mineral dan pertambangantermasuk minyak bumi dan dalam skala kecil yaitu untuk aplikasi geoteknik (penentuan pondasi

bangunan dll).

Di Indonesia, ilmu ini dipelajari hampir di semua perguruan tinggi negeri yang ada. Biasaya

geofisika masuk ke dalam fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam (MIPA), karena

memerlukan dasar-dasar ilmu fisika yang kuat, atau ada juga yang memasukkannya ke dalam

bagian dari Geologi. Saat ini, baik geofisika maupun geologi hampir menjadi suatu kesatuan

yang tak terpisahkanIlmu bumi.

Bidang kajian ilmu geofisika meliputi meteorologi (udara), geofisika bumi padat dan

oseanografi(laut).

Beberapa contoh kajian dari geofisika bumi padat misalnya seismologi yang mempelajari

gempabumi, ilmu tentang gunungapi (Gunung Berapi) atau volcanology, geodinamika yang

mempelajari dinamika pergerakan lempeng-lempeng di bumi, dan eksplorasi seismik yang

digunakan dalam pencarian hidrokarbon.

Metode-metode geofisika

Secara umum, metode geofisika dibagi menjadi dua kategori yaitu metode pasif dan aktif.

Metode pasif dilakukan dengan mengukur medan alami yang dipancarkan oleh bumi. Metode

aktif dilakukan dengan membuat medan gangguan kemudian mengukur respons yang dilakukan

oleh bumi. Medan alami yang dimaksud disini misalnya radiasi gelombang gempa bumi, medan

gravitasi bumi, medan magnetik bumi, medan listrik dan elektromagnetik bumi serta radiasi

radioaktivitas bumi. Medan buatan dapat berupa ledakan dinamit, pemberian arus listrik ke

dalam tanah, pengiriman sinyal radar dan lain sebagainya.

Secara praktis, metode yang umum digunakan di dalam geofisika tampak seperti tabel 1 dibawah ini:
http://id.wikipedia.org/wiki/Perguruan_tinggi_negerihttp://id.wikipedia.org/wiki/Fakultashttp://id.wikipedia.org/wiki/Fisikahttp://id.wikipedia.org/wiki/Geologihttp://id.wikipedia.org/wiki/Ilmu_bumihttp://id.wikipedia.org/wiki/Meteorologihttp://id.wikipedia.org/wiki/Oseanografihttp://id.wikipedia.org/wiki/Seismologihttp://id.wikipedia.org/wiki/Gunung_Berapihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Geodinamika&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Eksplorasi_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Eksplorasi_seismikhttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Geodinamika&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Gunung_Berapihttp://id.wikipedia.org/wiki/Seismologihttp://id.wikipedia.org/wiki/Oseanografihttp://id.wikipedia.org/wiki/Meteorologihttp://id.wikipedia.org/wiki/Ilmu_bumihttp://id.wikipedia.org/wiki/Geologihttp://id.wikipedia.org/wiki/Fisikahttp://id.wikipedia.org/wiki/Fakultashttp://id.wikipedia.org/wiki/Perguruan_tinggi_negeri


25/34

Tabel 4. Metode geofisika yang umum digunakan.

Metode Parameter yang diukur Sifat-sifat fisika yang terlibat

Seismik

Waktu tibagelombang seismikpantul atau

bias, amplitudo dan frekuensi gelombangseismik

Densitas dan modulus elastisitas yang

menentukan kecepatan rambatgelombang seismik

GravitasiVariasi harga percepatan gravitasi bumi

pada posisi yang berbedaDensitas

MagnetikVariasi harga intensitas medan magnetik

pada posisi yang berbedaSuseptibilitas atau remanen magnetik

Resistivitas Harga resistansi dari bumi Konduktivitas listrik

Polarisasi

terinduksi

Tegangan polarisasi atau resistivitas batuan

sebagai fungsi dari frekuensiKapasitansi listrik

Potensial diri Potensial listrik Konduktivitas listrik

Elektromagnetik Respon terhadap radiasi elektromagnetik Konduktivitas atau Induktansi listrik

Radar Waktu tiba perambatan gelombang radar Konstanta dielektrik

VII.STRIKEdan DIP

Jurus (Strike) dan Kemiringan (Dip). Strike atau Jurus adalah arah garis yang dibentuk dari

perpotongan bidang planar dengan bidang horizontal ditinjau dari arah utara. Sedangkan

Kemiringan (Dip) adalah besaran sudut atau derajat yang dibentuk antara bidang planar dan

bidang horizontal yang arahnya tegak lurus dari garis strike. Bidang planar ialah bidang yang

relatif lurus yang mewakili struktur geologi secara dua dimensi. contohnya ialah bidang

perlapisan, bidang kekar, bidang sesar. Strike dan Dip pada batuan umumnya muncul pada

batuan hasil pengendapan (sedimen). tetapi juga dapat ditemukan pada batuan metamorf

yang berstruktur foliasi. Penulisan strike dan dip N (Derajat Strike) E/ (Derajat Dip) dan dibaca

North to East (Nilai Strike) and (Nilai Dip).
http://id.wikipedia.org/wiki/Eksplorasi_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gravitasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Konstanta_dielektrikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Konstanta_dielektrikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gravitasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_seismikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Eksplorasi_seismik


26/34

Gambar 14. Menunjukan struktur bidang perlapisan dengan parameter jurus dan kemiringan

Gambar 15. Kompas geologi

Strike dip pada perlapisan batuan dapat diukur dengan menggunakan kompas Geologi. Kompas

Geologi mempunyai kemampuan untuk mengukur strike dip karena memiliki klinometer juga

bulls eye. Klinometer adalah rangkaian alat yang berguna untuk mengukur kemiringan dan Bulls

eye adalah tabung isi gelembung udara berguna untuk memposisikan kompas geologi agar


27/34

menjadi horizontal. Disamping menggunakan kompas Geologi, strike dip bidang dapat

ditentukan dengan metode tiga titik. Intinya adalah mengetahui pelamparan batuan berikut

kemiringannya di lapangan. berikut adalah langkah pengukuran dengan kompas geologi.

Mencari arah jurus pada bidang (strike)

1. Kenali dulu arah utara pada kompas, agar kita tidak terbalik menentukan arah.

2. Tempelkan sisi kompas yang bertanda "E" (sisi kompas bagian timur) pada bidang yang

akan kita ukur.

3. Posisikan kompas secara horizontal dengan memanfaatkan gelembung udara pada bull

eyes berada di tengah.

4. Catat derajat yang di bentuk oleh jarum magnet yang mengarah ke utara. Itulah angka

Strike. Buat garis lurus searah strike untuk menentukan dip.Mencari kemiringan bidang (dip)

1. Pada garis lurus yang dibentuk strike, tempelkan sisi kompas yang bertanda "W" (sisi

kompas bagian barat) secara tegak lurus.

2. Putar tuas klinometer agar gelembung udara di dalam nya berada di tengah.

3. Catat angka yang tertera pada jarum klinometer. Itulah angkaDip.

Aplikasi penggunaan data jurus dan kemiringan adalah sebagai berikut.

1.

Menunjukan pelamparan dan kemenerusan suatu batuan, terutama batuan sedimen, yang

seringkali digunakan dalam eksplorasi dengan metode survey lapangan/observasi,

2. Parameter dalam pengukuran struktur geologi berupa bidang planar, baik untuk

identifikasi kuantitatif (besaran angka pengukuran), identifikasi jenis struktur yang

berkembang, arah gaya dan kemenerusan struktur tersebut.

3. Digunakan juga sebagai parameter identifikasi geomorfologi (tipe sungai, dan jenis

perbukitan).

VIII. PENGINDERAAN JAUH

Penginderaan jauh(atau disingkat inderaja) adalah pengukuran atau akuisisi data dari sebuah

objek atau fenomena oleh sebuah alat yang tidak secara fisik melakukan kontak dengan objek

tersebut atau pengukuran atau akuisisi data dari sebuah objek atau fenomena oleh sebuah alat


28/34

dari jarak jauh, (misalnya daripesawat,pesawat luar angkasa,satelit,kapal atau alat lain. Contoh

dari penginderaan jauh antara lain satelit pengamatan bumi, satelit cuaca, memonitor janin

denganultrasonik dan wahana luar angkasa yang memantau planet dari orbit. Inderaja berasal

daribahasa Inggris remote sensing,bahasa Perancis tldtection,bahasa Jermanfernerkundung,

bahasa Portugis sensoriamento remota, bahasa Spanyol percepcion remote dan bahasa Rusia

distangtionaya. Di masa modern, istilah penginderaan jauh mengacu kepada teknik yang

melibatkan instrumen di pesawat atau pesawat luar angkasa dan dibedakan dengan penginderaan

lainnya seperti penginderaan medis atau fotogrametri.Walaupun semua hal yang berhubungan

dengan astronomi sebenarnya adalah penerapan dari penginderaan jauh (faktanya merupakan

penginderaan jauh yang intensif), istilah "penginderaan jauh" umumnya lebih kepada yang

berhubungan dengan teresterial dan pengamatan cuaca.

Komponen-Komponen Penginderaan Jauh

Gambar 16. Komponen Penginderaan Jauh

Sumber Tenaga

Sumber tenaga dalam proses inderaja terdiri atas :

Sistem pasif adalah sistem yang menggunakan sinar matahari

Sistem aktif adalah sistem yang menggunakan tenaga buatan seperti gelombang mikro

Jumlah tenaga yang diterima oleh obyek di setiap tempat berbeda-beda, hal ini dipengaruhi oleh

beberapa faktor, antara lain :

1. Waktu penyinaran
http://id.wikipedia.org/wiki/Pesawathttp://id.wikipedia.org/wiki/Pesawat_luar_angkasahttp://id.wikipedia.org/wiki/Satelithttp://id.wikipedia.org/wiki/Kapalhttp://id.wikipedia.org/wiki/Satelit_cuacahttp://id.wikipedia.org/wiki/Janinhttp://id.wikipedia.org/wiki/Ultrasonikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Wahana_luar_angkasahttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Inggrishttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Perancishttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Jermanhttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Portugishttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Spanyolhttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Rusiahttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Penginderaan_medis&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Fotogrametrihttp://id.wikipedia.org/wiki/Astronomihttp://id.wikipedia.org/wiki/Berkas:KomponenPJ.jpghttp://id.wikipedia.org/wiki/Astronomihttp://id.wikipedia.org/wiki/Fotogrametrihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Penginderaan_medis&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Rusiahttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Spanyolhttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Portugishttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Jermanhttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Perancishttp://id.wikipedia.org/wiki/Bahasa_Inggrishttp://id.wikipedia.org/wiki/Wahana_luar_angkasahttp://id.wikipedia.org/wiki/Ultrasonikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Janinhttp://id.wikipedia.org/wiki/Satelit_cuacahttp://id.wikipedia.org/wiki/Kapalhttp://id.wikipedia.org/wiki/Satelithttp://id.wikipedia.org/wiki/Pesawat_luar_angkasahttp://id.wikipedia.org/wiki/Pesawat


29/34

Jumlah energi yang diterima oleh objek pada saat matahari tegak lurus (siang hari) lebih besar

daripada saat posisi miring (sore hari). Makin banyak energi yang diterima objek, makin cerah

warna obyek tersebut.

1. Bentuk permukaan bumi

Permukaan bumi yang bertopografi halus dan memiliki warna cerah pada permukaannya lebih

banyak memantulkan sinar matahari dibandingkan permukaan yang bertopografi kasar dan

berwarna gelap. Sehingga daerah bertopografi halus dan cerah terlihat lebih terang dan jelas.

1. Keadaan cuaca

Kondisi cuaca pada saat pemotretan mempengaruhi kemampuan sumber tenaga dalam

memancarkan dan memantulkan. Misalnya kondisi udara yang berkabut menyebabkan hasil

inderaja menjadi tidak begitu jelas atau bahkan tidak terlihat.

Atmosfer

Lapisan udara yang terdiri atas berbagai jenis gas, seperti O2, CO2, nitrogen, hidrogen dan

helium. Molekul-molekul gas yang terdapat di dalam atmosfer tersebut dapat menyerap,

memantulkan dan melewatkan radiasi elektromagnetik.

Di dalam inderaja terdapat istilah Jendela Atmosfer, yaitu bagian spektrum elektromagnetik

yang dapat mencapai bumi. Keadaan di atmosfer dapat menjadi penghalang pancaran sumber

tenaga yang mencapai ke permukaan bumi. Kondisi cuaca yang berawan menyebabkan sumber

tenaga tidak dapat mencapai permukaan bumi.

Gambar 17. Interaksi antara tenaga elektromagnetik dan atmosfer
http://id.wikipedia.org/wiki/Berkas:Elektroatmosfer.gif


30/34

Interaksi antara tenaga dan objek

Interaksi antara tenaga dan obyek dapat dilihat dari rona yang dihasilkan oleh foto udara. Tiap-

tiap obyek memiliki karakterisitik yang berbeda dalam memantulkan atau memancarkan tenaga

ke sensor.

Objek yang mempunyai daya pantul tinggi akan terilhat cerah pada citra, sedangkan

obyek yang daya pantulnya rendah akan terlihat gelap pada citra. Contoh: Permukaan

puncak gunung yang tertutup oleh salju mempunyai daya pantul tinggi yang terlihat lebih

cerah, daripada permukaan puncak gunung yang tertutup oleh lahar dingin.

Sensor danWahana

Sensor

Merupakan alat pemantau yang dipasang pada wahana, baik pesawat maupun satelit. Sensor

dapat dibedakan menjadi dua :1. Sensor fotografik, merekam obyek melalui proses kimiawi. Sensor ini menghasilkan foto.

Sensor yang dipasang pada pesawat menghasilkan citra foto (foto udara), sensor yang

dipasang pada satelit menghasilkan citra satelit (foto satelit)

2. Sensor elektronik, bekerja secara elektrik dalam bentuk sinyal. Sinyal elektrik ini

direkam dalam pada pita magnetik yang kemudian dapat diproses menjadi data visual

atau data digital dengan menggunakan komputer. Kemudian lebih dikenal dengan

sebutan citra.

Wahana

Adalah kendaraan/media yang digunakan untuk membawa sensor guna mendapatkan inderaja.

Berdasarkan ketinggian persedaran dan tempat pemantauannya di angkasa, wahana dapat

dibedakan menjadi tiga kelompok:

1. Pesawat terbang rendah sampai menengah yang ketinggian peredarannya antara 1.000

9.000 meter di atas permukaan bumi

2. Pesawat terbang tinggi, yaitu pesawat yang ketinggian peredarannya lebih dari 18.000

meter di atas permukaan bumi

3. Satelit, wahana yang peredarannya antara 400 km900 km di luar atmosfer bumi.

Perolehan Data

Data yang diperoleh dari inderaja ada 2 jenis :
http://id.wikipedia.org/wiki/Sensorhttp://id.wikipedia.org/wiki/Wahanahttp://id.wikipedia.org/wiki/Wahanahttp://id.wikipedia.org/wiki/Sensor


31/34

Data manual, didapatkan melalui kegiatan interpretasi citra. Guna melakukan interpretasi

citra secara manual diperlukan alat bantu bernama stereoskop. Stereoskop dapat

digunakan untuk melihat objek dalam bentuktiga dimensi.

Data numerik (digital), diperoleh melalui penggunaan software khusus penginderaan jauh

yang diterapkan padakomputer.

Pengguna Data

Pengguna data merupakan komponen akhir yang penting dalam sistem inderaja, yaitu orang atau

lembaga yang memanfaatkan hasil inderaja. Jika tidak ada pengguna, maka data inderaja tidak

ada manfaatnya. Salah satu lembaga yang menggunakan data inderaja misalnya adalah:

Bidang militer

Bidang kependudukan

Bidang pemetaan Bidang meteorologi dan klimatologi

Teknik pengumpulan data

Data dapat dikumpulkan dengan berbagai macam peralatan tergantung kepada objek atau

fenomena yang sedang diamati. Umumnya teknik-teknik penginderaan jauh memanfaatkan

radiasi elektromagnetik yang dipancarkan atau dipantulkan oleh objek yang diamati dalam

frekuensi tertentu sepertiinframerah,cahaya tampak,gelombang mikro,dan sebagainya. Hal ini

memungkinkan karena faktanya objek yang diamati (tumbuhan, rumah, permukaan air, udara dll)

memancarkan atau memantulkan radiasi dalampanjang gelombang dan intensitas yang berbeda-

beda. Metode penginderaan jauh lainnya antara lain yaitu melalui gelombang suara, gravitasi

ataumedan magnet.

Keunggulan, Keterbatasan dan Kelemahan Penginderaan Jauh

Keunggulan Inderaja

Menurut Sutanto (1994:18-23), penggunaan penginderaan jauh baik diukur dari jumlah bidang

penggunaannya maupun dari frekuensi penggunaannya pada tiap bidang mengalami

pengingkatan dengan pesat. Hal ini disebabkan oleh beberapa faktor antara lain :

Citra menggambarkan obyek, daerah, dan gejala di permukaan bumi dengan; wujud dan

letak obyek yang mirip ujud dan letak di permukaan bumi, relatif lengkap, meliputi

daerah yang luas, serta bersifat permanen.
http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Stereoskop&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Tiga_dimensihttp://id.wikipedia.org/wiki/Komputerhttp://id.wikipedia.org/wiki/Radiasi_elektromagnetikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Inframerahhttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_mikrohttp://id.wikipedia.org/wiki/Panjang_gelombanghttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_suarahttp://id.wikipedia.org/wiki/Gravitasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Medan_magnethttp://id.wikipedia.org/wiki/1994http://id.wikipedia.org/wiki/1994http://id.wikipedia.org/wiki/Medan_magnethttp://id.wikipedia.org/wiki/Gravitasihttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_suarahttp://id.wikipedia.org/wiki/Panjang_gelombanghttp://id.wikipedia.org/wiki/Gelombang_mikrohttp://id.wikipedia.org/wiki/Inframerahhttp://id.wikipedia.org/wiki/Radiasi_elektromagnetikhttp://id.wikipedia.org/wiki/Komputerhttp://id.wikipedia.org/wiki/Tiga_dimensihttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=Stereoskop&action=edit&redlink=1


32/34

Dari jenis citra tertentu dapat ditimbulkan gambaran tiga dimensional apabila

pengamatannya dilakukan dengan alat yang disebut stereoskop.

Karaktersitik obyek yang tidak tampak dapat diwujudkan dalam bentukcitra sehingga

dimungkinkan pengenalan obyeknya.

Citra dapat dibuat secara cepat meskipun untuk daerah yang sulit dijelajahi secara

terestrial.

Merupakan satu-satunya cara untuk pemetaan daerah bencana.

Citra sering dibuat dengan periode ulang yang pendek.

Keterbatasan Inderaja

Berupa ketersediaan citra SLAR yang belum sebanyak ketersediaan citra lainnya. Dari citra yang

ada juga belum banyak diketahui serta dimanfaatkan (Lillesand dan Kiefer, 1979). Di samping

itu jugaharganya yang relative mahal dari pengadaan citra lainnya (Curran,1985).

Kelemahan Inderaja

Walaupun mempunyai banyak kelebihan, penginderaan jauh juga memiliki kelemahan antara

lain sebagai berikut

Orang yang menggunakan harus memiliki keahlian khusus;

Peralatan yang digunakan mahal;

Sulit untuk memperoleh citra foto ataupun citra nonfoto.

Manfaat Penginderaan JauhBidang Kelautan (Seasat,MOS)

Pengamatan sifat fisis air laut.

Pengamatan pasang surut air laut dan gelombang laut.

Pemetaan perubahan pantai, abrasi, sedimentasi, dan lain-lain.

Bidang hidrologi (Landsat,SPOT)

Pemanfaatan daerah aliran sungai (DAS) dan konservasi sungai.

Pemetaan sungai dan studi sedimentasi sungai.

Pemanfaatan luas daerah dan intensitas banjir.

Bidang geologi

Menentukan struktur geologi dan macamnya.

Pemantauan daerah bencana (gempa, kebakaran) dan pemantauan debu vulkanik.

Pemantauan distribusi sumber daya alam.
http://id.wikipedia.org/wiki/1979http://id.wikipedia.org/wiki/1985http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=SEASAT&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/MOShttp://id.wikipedia.org/wiki/Landsathttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=SPOT&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/w/index.php?title=SPOT&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/Landsathttp://id.wikipedia.org/wiki/MOShttp://id.wikipedia.org/w/index.php?title=SEASAT&action=edit&redlink=1http://id.wikipedia.org/wiki/1985http://id.wikipedia.org/wiki/1979


33/34

Pemantauan pencemaran laut dan lapisan minyak di laut.

Pemanfaatan di bidang pertahanan dan militer.

Pemantauan permukaan, di samping pemotretan dengan pesawat terbang dan

aplikasisistem informasi geografi (SIG).

Bidang oseanografi

Pengamatan sifat fisis air seperti suhu, warna, kadar garam dan arus laut.

Pengamatan pasang srut dengan gelombang laut (tinggi, frekuensi, arah).

Mencari distribusi suhu permukaan.

Studi perubahan pasir pantai akibat erosi dan sedimentasi

Daftar Pustaka

Asikin, DR. Sukendar.1977.Dasar-Dasar Geologi Struktur. ITB: Bandung.

Boggs, S.2006. Principles of Sedimentary and Stratigraphy 4th Edition. New Jersey PearsonEducation, Inc

Burgess, J. 1987. Under the Microscope: A Hidden World Revealed. CUP Archive. p. 11.ISBN0521399408.

Danilatos, G.D. (1986). "Colour micrographs for backscattered electron signals in the SEM".Scanning9(3): 818.doi:10.1111/j.1365-2818.1986.tb04287.x.

Endarto.D. 2007. Pengantar Geologi Dasar. UNS Press : Surakarta.

Herdianita N.R., Ong H.L., Subroto E.A., Priadi B. 1999. Pengukuran kristalinitas silikaberdasarkan metode difraktometer sinar-X. Proceeding Institut Teknologi Bandung:Bandung

Husein, Salahuddin. 2011. Proses Eksogenik: Erosi dan Sedimentasi. Jurusan Teknik GeologiFakultas Teknik Universitas Gadjah Mada.: Yogyakarta

Huang ,W.T. 1962. Petrology. McGraw-Hill: New York

Lillesland, T. M., Kiefer, R.W. 2007. Penginderaan Jauh dan Interpretasi Citra. Gadjah Mada

University Press. Yogyakarta.

Mujib, E. M., Marhaendrajan, T. 2009. DESIGN LAB APPARATUS: SINGLE STAGECOMPRESSIVE TEST (SST) PADA TEKANAN DAN TEMPERATUR TINGGI. JTM Vol.XVI No. 3/2009

Nelson,J., Huang,X., Steinbrener,J., Shapiro,D.,Janos Kirz,J., Marchesini,S., . Neiman,A.M., Turner, J. J., Jacobsen, C. 2010. PhysicsHigh-resolution x-ray diffraction
http://books.google.com/books?id=30A5AAAAIAAJ&pg=PA11http://books.google.com/books?id=30A5AAAAIAAJ&pg=PA11http://en.wikipedia.org/wiki/International_Standard_Book_Numberhttp://en.wikipedia.org/wiki/Special:BookSources/0521399408http://en.wikipedia.org/wiki/Digital_object_identifierhttp://dx.doi.org/10.1111%2Fj.1365-2818.1986.tb04287.xhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Nelson%20J%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Huang%20X%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Steinbrener%20J%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Shapiro%20D%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Kirz%20J%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Marchesini%20S%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Neiman%20AM%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Neiman%20AM%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Turner%20JJ%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Jacobsen%20C%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Jacobsen%20C%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Turner%20JJ%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Neiman%20AM%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Marchesini%20S%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Kirz%20J%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Shapiro%20D%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Steinbrener%20J%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Huang%20X%5Bauth%5Dhttp://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/?term=Nelson%20J%5Bauth%5Dhttp://dx.doi.org/10.1111%2Fj.1365-2818.1986.tb04287.xhttp://en.wikipedia.org/wiki/Digital_object_identifierhttp://en.wikipedia.org/wiki/Special:BookSources/0521399408http://en.wikipedia.org/wiki/International_Standard_Book_Numberhttp://books.google.com/books?id=30A5AAAAIAAJ&pg=PA11


34/34

microscopy of specifically labeled yeast cells. Proc Natl Acad Sci U S A. Apr 20, 2010;107(16): 72357239

O'Keefe M.A, Allard L.F. "Sub-ngstrom Electron Microscopy for Sub-ngstrom Nano-Metrology" (pdf). Information Bridge: DOE Scientific and Technical Information Sponsored by OSTI. Retrieved 2010-01-31.

Pringgoprawiro, H. Kapid, R. 1999. Foraminifera: Pengenalan Mikrofosil Dan AplikasiBiostratigrafi. Penerbit ITB : Bandung.

Staff Asisten Geomorfologi. 2009. Panduan Praktikum Geomorfologi.. Jurusan Teknik GeologiFakultas Teknik Universitas Gadjah Mada:Yoyakarta

Surjono, Sugeng S. . Buku Ajar Sedimentologi. Jurusan Teknik Geologi Fakultas TeknikUniversitas Gadjah Mada : Yogyakarta

Surjono, Sugeng S., Amijaya, D. Hendra., Winardi, Sarju. 2010 .Analisis Sedimentologi. JurusanTeknik Geologi Fakultas Teknik Universitas Gadjah Mada :Yogyakarta

Sutanto. 1979. Pengetahuan Dasar Interpretasi Citra. Gadjah Mada University Press. :Yogyakarta

http://www.isas.illinois.edu/atam/research/pima/whatispima.html
http://www.osti.gov/bridge/servlets/purl/821768-E3YVgN/native/821768.pdfhttp://www.osti.gov/bridge/servlets/purl/821768-E3YVgN/native/821768.pdfhttp://www.isas.illinois.edu/atam/research/pima/whatispima.htmlhttp://www.isas.illinois.edu/atam/research/pima/whatispima.htmlhttp://www.osti.gov/bridge/servlets/purl/821768-E3YVgN/native/821768.pdfhttp://www.osti.gov/bridge/servlets/purl/821768-E3YVgN/native/821768.pdf

metode pengantar geologi

Documents

Transcript of metode pengantar geologi