LAPORAN PRAKTIKUM TEKNIK KIMIA IVAYAKAN (SHIEVING)Disusun Oleh : Zeffa AprilasaniNIM : 2008430039Fakultas Teknik Kimia Universitas Muhammadiyah Jakarta2011OPERASI AYAKAN ( SHIEVING )I. MAKSUDDANTUJUAN Memisahkanbahanatas dasar ukuranpartikel, untukmemperolehbahandengan ukuran partikel lebih uniform. Menentukan luas permukaan spesifik bahan.II. TEORIPERCOBAANPengecilanbahanmenjadi ukurantertentubiasanyadisesuaikandengantujuannya. Bahan padat dapat dipecah dengan beberapa cara, antara lain sebagai berikut : Copression Impact Attrition CuttingSetelah bahan itu dipecah tentunya bahan tersebut mempunyai ukuran partikel lebih kecil. Keseragaman ukuran dapat diperoleh melalui operasi ayakan, kemudian bahan tersebut dianalisis dengan perlakuan memisahkannya secara mekanis. Salah satu alat untuk menganalisis ukuran partikel yang telah menjadi ukuran kecil-kecil adalah standar Ayakan Tyler.Karakteristik Partikel Zat Padat.Partikel zat padat secara individu dikarakteristikan dengan ukuran, bentuk dan densitasnya. Partikel zat padat homogenmempunyai densitas yangsama denganbahan bongkahan. Partikel-partikel yang didapatkan dengan memecahkan zat padat campuran, misalnya bijih yang mengandung logam, mempunyai berbagai densitas, biasanya mempunyai densitas yangberbeda dari bahan lindaknya. Untuk partikel yangbentuknya beraturan, misalnya yang berbentukboladan kubus, ukuran dan bentuknya dapat dinyatakan dengan mudah. Tetapi partikel yang bentuknya tidak beraturan (seperti butir-butir pasir dan serpih mika), istilah ukuran (size) dan bentuk (shape) tidak begitu jelas dan harus didefinisikan secara acak.2 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Bentuk PartikelBentuk setiap partikel dikarakteristikkan dengan sferisitas atau kebolaan (Sphericity) S, yangtidakbergantungpadaukuranpartikel. Untukpartikel berbentukboladengan diameter Dp, = 1; untuk partikel yang tidak berbentuk bola, sferisitas didefinisikan oleh hubungan :S = p ppS DV 6(1)

dimana : Dp= diameter ekivalen atau diameter nominal partikelsp= luas permukaan ssatu partikelvp= volume satu partikelDiameter ekivalen kadang-kadang didefinisikan sebagai diameter bola yang volumenya sama dengan volume partikel itu. Tetapi, bahan-bahan berbentuk bijian (granular)halus, volume maupun luas permukaannya tidak mudah ditentukan secara eksak, sehingga Dp biasanya diambil dari ukuran nominal atas dasar analisis ayak (screen analysis) atau melalui pemeriksaan mikroskop. Luas permukaan didapatkan dari pengukuran adsorpsi atau dari penurunan tekanan di dalam hamparan partikel, dan kemudian pers. (1) diterapkan untuk menghitung S. Untuk kebanyakan bahan pecahan, nilaiSberkisar antara 0,6 dan 0,8, seperti terlihat pada tabel 1; tapi untuk partikel yang telah membulat karena abrasiS bisa sampai setinggi 0,95.Untukkubusdansilinder yangpanjangnyaLsamadengandiameternya, diameter ekivalen itu lebih besar dasri L, dan S yang didapatkan dari diameter ekivalen ialah 0,61 untuk kubus dan 0,87 untuk silinder. Untuk bentuk-bentuk itu sebaiknya digunakan diameter nominal L, karena rasio permukaan terhadap volume ialah 6/Dp, sama dengan bola, dan hal ini membuatSsama dengan 1,0. Untuk isian kolom (column packing)seperti cincin dan pelana, juga digunakan ukuran nominal untuk menentukan S.Ukuran PartikelPada umumnya, diameter dapat ditentukan untuk setiap partikel yang ekidimensional. Partikel yangtidak ekidimensional, yaitu yang panjang pada satu arah ketimbang pada arah yang lain, partikel itu dikarakterisasi dengan dimensi utama yang kedua terpanjang. Untuk partikel berbentuk jarum, umpamanya Dp akan menunjukkan tebal partikel, dan bukan pada panjangnya.3 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Ukuranpartikel manurut konvensi, dinyatakandalamberbagai satuan, bergantung pada jangkauan ukuran yang terlibat. Parikel-partikel kasar diukur dalam inci atau milimeter; partikel halusdenganukuranayak, partikelyang sangat halus dengan ukuran mikrometer. Partikel-partikel yang ultra halus kadang-kadang diberikan dengan luas permukaan per satuan massa, biasanya dalam meter persegi per gram.Ukuran Partikel Campuran Dan Analisis Ukuran.Dalam contohyang ukurannya seragam,dengan diameterDp, volume totalpartikel ialahm/p,diametermdanpmasing-masingialahmassa contoh dan densitas partikel. Oleh karena volume satu partikel adalah vp, banyaknya partikel di dalam contoh N ialah : N =p pvm (2)Tabel 1. Sifat bola untuk bermacam-macam bahan.BahanSifat bentuk bolaBahanSifat bentuk bolaBola, kubus, silinder Pasir Rounded0,95pendek (L = Dp) 1,0 Pasir Ottawa 0,83CincinRaschig(L= Dp)Debu Coal 0,73L = Do, Di = 0,5 Do 0,58 Pasir Hitam 0,65L = Do, Di = 0,75 Do 0,33 Gelas Crushed 0,65Pelana Berl 0,3 Sempih Mica 0,28 Luas permukaan partikel-partikel itu ialah, dari pers. (1) dan (2)A = N sp = p p SDm 6 (3)Agar dapat menerapkan pers. (2) dan (3) terhadap partikel yang mempunyai berbagai ukurandanberbagai densitas, campuranitudipilahkanmenjadi fraksi-fraksinya, masing-masingdengan densitas konstan danukuran yangmendekati konstan. Setiap fraksi ini ditimbang,atau partikel-partikelnya dicacah atau diukur dengan salah satu cara yang dapat digunakan. Pers. (2)dan(3)laludapat diterapkanterhadapsetiapfraksi itudanhasilnya kemudian dijumlahkan.Informasi dari analisisukuranpartikel didaftarkanuntukmenunjukkanmassaatau jumlah fraksi yangterdapat didalamsetiaptokokanataupertambahan kecil(increment) ukuran berbagai fungsi ukuran partikel rata-rata (atau jangkauan ukuran) di dalam tokokan 4 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)itu. Analisis yang ditabulasikan dengan cara demikian dinamakan analisis differensial (differensial analysis). Hasilnya biasanya disajikan dalam bentuk histogram, seperti terlihat pada gambar 1a, dengan menggunakan kurva kontinu sebagai pendekatan terhadap distribusi, sepertiditunjukkanolehgarisputus-putus pada gambar itu. Cara kedua untuk menyajikan informasi itu ialah dengan menggunakan analisis kumulatif(Cumulatif Analysis)yang didapatkandenganmenjumlahkantokokan-tokokanitusecaraberurutan, mulai dari yang mengandung partikel terkecil; lalu mendaftarkan atau memetakan jumlah kumulatif tersebut terhadap diameter maksimum dari partikel yang terdapat di dalam tokokan itu. Gambar 1b, merupakanpemetaanterhadapanalisiskumulatif distribusi yangterlihat padagambar 1a. Dalam analisis kumulatif, data itu dapat dinyatakan dengan baik dalam bentuk kurva kontinu.Perhitungan mengenai ukuran partikel rata-rata, luas permukaan partikel, atau populasi partikel itudi dalamcampuranitudapat dibuat berdasarkananalisisdifferensial ataupun analisis kumulatif. Pada prinsipnya, metode yang didasarkan atas analisis kumulatif lebih tepat daripada yang didasarkan atas analisis differensial; sebab, bila kita menggunakn analisis kumulatif, kita tidak perlu lagi mengandaikan bahwa semua partikel yang terdapat di dalamsatufraksi tertentumempunyai ukuranyangsama. Namun, dilainpihakketelitian pengukuran besar partikel biasanya tidak memadai untuk kita menggunakan analisis kumulatif, sehingga perhitungan itu hampir selalu didasarkan atas analisis differensial saja.Permukaan Spesifik CampuranJika densitas partikel p dan sferisitas s diketahui, luas permukaan partikel didalam setiap fraksi dapat dihitung dari pers. (3). Bila hasilnya untuk semua fraksi dijumlahkan kita akan mendapatkan A, yaitu permukaan spesifik (spesific surface), artinya luas permukaan total per satuan massa partikel. Jika p dan s adalah konstan, Aw diberikan oleh :Aw = pn p Sn2 p p S21 p p S1DX 6...DX 6DX 6 + + + (4)= n1 ipiip SDx 6 dimana subkrip= masing-masing tokokan Xi= fraksi massa dalam setiap tokokan tertentu n = jumlah tokokan5 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)0204060801000 10 20 30 40 50 60 70 80 90UKURAN P ART I KELFraksi Massa Kumulatif lebih kecil dari ukuran yang ditetapkan00,050,10,150,20,250 10 20 30 40 50 60 70 80 90UKURAN PARTIKELFRAKSI MASAA Dpi =diameter partikel rata-rata, diambil sebagai rata-rata aritmetik dari diameter terkecil dan terbesar di dalam tokokan itu.Gambar 1. Distribusi ukuran partikel untuk powder :o analisis differensialo analisis kumulatifUkuran Partikel Rata-rataUkuranpartikel rata-ratauntukcampuranpartikel didefinisikanmenurut berbagai cara. Barangkali yangpalinglazimdipakai ialahdiameter pukul-ratavolume-permukaan (volume-surface mean diameter) Dpi, yang dihubungkan dengan luas permukaan spesifik Aw.Didefinisikan oleh :Ds = p w SA6(5)Substitusikan pers. (4) ke dalam pers. (5) memberikan :Ds =

,_

piiDx 1(6)Jika jumlah partikel di dalam setiap fraksi Nidiketahui, dan bukan fraksi massanya. Kadang-kadang, digunakan rata-rata lain. Diameter pukul-rata-rata aritmetik (arithmetic mean diameter) DN ialah :6 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)DN =( ) ( )Tn1 ipiin1 iin1 ipiiND NND N(7)dimana NT ialah jumlah partikel di dalam keseluruhan contoh.Diameter pukul-rata massa (massa mean diameter) Dw didapatkan dari persamaan :Dw = xi Dpi(8)Jika volume total contoh itu dibagi denganjumlah partikel di dalam campuran (lihat di bawah) kita dapatkan volume rata-rata setiap partikel. Diameter partikel itu ialah diameter pukul-rata volume (volume mean diameter) Dv, yang didapatkan dari hubungan :Dv = 31n1 i3piiDx11111]1

,_

(9)Untuk contoh yang terdiri dari partikel seragam, diameter rata-rata, tentu saja sama. Tetapi untuk campuran yang terdiri dari partikel berbagai ukuran, masing-masing diameter rata-rata yang ada itu mungkin sangat berlainan satu sama lain.Jumlah Partikel Di Dalam CampuranUntukmenghitung, darianalisadifferensial, jumlahpartikel yangterdapat didalam campuran, dapat kita gunakan pers. (2), yaitu persamaan untuk menghitung jumlah partikel yang terdapat di dalam setiap fraksi. Kemudian Nw, yaitu populasi total didalam suatu massa contoh, didapatkan dengan menjumlahkan senua fraksi. Untuk suatu bentuk partikel tertentu, volume setiap partikel itu sebanding dengan diameternya pangkat tiga, atauvp = a Dp3(10)dimana a adalah faktor bentuk volume(volume shape factor). Dari pers.(2) dengan mengandaikan bahwa a tidak bergantung pada ukuran, maka Nw = 3vpn1 i3piipD a1Dxa 1 (11)Luas permukaan spesifik, diameter rata-rata yang bermacam-macam itu , serta jumlah partikel dapat dihitungdenganmudahdarianalisisukuranpartikel denganmenggunakan programkomputer yangsederhana.Instrumen-instrumenpengukur untukpartikel-partikel 7 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)yangsangat halusbanyakyangsudahdiprogramkansehinggadapat menyatakanbesaran-besaran itu secara langsung.Analisis Ayak;Deret Ayak StandarAyak(screen)standar digunakan untuk mengukur besarnya partikel (dan distribusinya)dalamjangkauukuran antara3sampai0,0015 in(76mm sampai38 m). Ayak-ayakujiituterbuatdarikawat, sedangrapatanyaman(mesh)danukurankawatnya dibakukan dengan teliti. Bukan ayak itu berbentuk bujur sangkar. Setiap ayak itu diidentifikasi menurut mesh (rapat ayak) per inci. Bukaan sebenarnya tentulah lebih kecil dari angka meshnya, karena tebal kawat tentu harus diperhitungkan juga. Karakteristik dari suatu deret yang lazim yaitu deret ayak standar Tyler (Tyler standar screen series). Perangkat ayak ini didasarkan atas bukaan (lubang) ayak ukuran 200 mesh, yang ditetapkan sebesar 0,074 mm. Luas bukaan pada setiap ayak tertentu adalah persis dua kalibukaan pada ayak ukuran berikutnya yanglebihkecil. Rasiodimensi anyaman yangsebenarnya pada suatuayak terhadap ayak berikut yang lebih kecil, oleh karena itu ialah2= 1,41. Untuk mendapatkan pemisahan ukuran yang lebih rapat, dibuat pula ayak-ayak dengan ukuran-antara yang masing-masingnya mempunyai dimensi mesh 4 2atau 1,189 kali ukuranayakstandar yanglebihkecil berikutnya. Namunbiasanyaayakantaraini tidak banyak dipakai.Dalam melakukan analisis, seperangkat ayak standar disusun secara deret dalam suatu tumpukan, dimana ayak denmgan anyaman paling rapat ditempatkan paling bawah, dan yang anyamannya paling besar ditempatkan paling atas. Contoh yang dianalisis lalu dimasukkan ke dalam ayak yang paling atas dan oengayak itu diguncang secara mekanis selama beberapa waktu tertentu, misalnya selama 20 menit. Partikel yang tertahan pada setiap ayak dikumpulkan dan ditimbang, dan massa pada setiap tokokan ayak itu dikonversikan menjadi fraksi massa atau persen massa dari contoh keseluruhan. Setiap partikel yang dapat lulus dari ayak yang terhalus dikumpulkan didalam suatu panci yang ditempatkan pada dasar susunan itu.Hasildarianalisisayakditabulasikanuntukmenunjukkan fraksimassapadasetiap tokokan ayak sebagai fungsi dari jangkau ukuran mesh pada setiap tokokan itu. Oleh karena partikel yang tertahan pada suatu ayak tertentu adalah yang lulus dari ayak yang di atasnya, makahanyadiperlukanduaangkasajauntukmenentukanjangkauukuransuatutokokan; 8 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)angkayangpertamaberdasarkanayakyangmeluluskannya, danyangkeduaayakyang menahannya. Jadi, notasi 14/20 berarti lulus dari 14 mesh dan tertahan oleh 20 mesh.Contohanalisaayakterlihat pada tabel 2. Dua kolom pertama memberikan ukuran mesh dan lebar bukaan didalamayak, kolomketiga ialahj fraksi massa dari contoh keseluruhanyangtertahanpadaayakyangbersangkutan. Fraksi ituditandai denganxi dimana i ialah nomor ayak dihitung dari bawah; jadii = 1 menunjukkan panci dan ayak i + 1 ialahayakberikut di atas ayaki. LambangDpiberarti diameter partikel, sama dengan besarnya bukaan anyaman pada ayak i.Dua kolom terakhir dalam tebel 2 menunjukkan diameter partikel rata-rata Dpipada setiaptokokandanfraksi kumulatif yanglebihkecil dari masing-masingnilaiDpi.Dalam analisisayak, fraksikumulatifini kadang-kadang dituliskan bertolak dari ayak palingatas dan dinyatakan sebagai fraksi lebih besar dari ukuran tertentu.Pemetaansecaradifferensial datayangterdapat di dalamkolom2dan3. Tabel 2 memberikan gambaran yang salah mengenai distribusi ukuran partikel karena jangkau ukuran partikel yang diliputnya berbeda dari suatu tokokan ke tokokan lain. Bahan yang terkumpul di atas satu tokokan (ayak Tertentu) lebih sedikit bila jangkau ukuran setiap jangkau itu masing-masing sama, dan data itu dapat dipetakan secara langsung. Namun, disini kita akan mendapatkan gambaran yang lebih tepat dengan memetakan xi/(Dpi+1 Dpi), dimana Dpi+1 Dpiialah ukuran partikel dalam tokokan i. Hal ini diilustrasikan oleh gambar 2a yang merupakan pemetaan langsung, dan Gambar 2b yang merupakan pemetaan yangdisesuaikan untuk partikel ukuran 20/28 mesh dan lebih kecil yang didaftarkanpada tableMesh Bukaan ayak Dpi, mmFraksi massa yang tertahan, xiDiameter partikel rata-rata dalam tokokan, Dpi, mmFraksi kumulatif partikel yang lebih kecil dari Dpi46810142028354865100148,6200Pan4,6993,3272,3621,6511,1680,8330,5890,4170,2950,2080,1470,1040,074-0,00000,02510,148,600,32070,25700,15900,05380,02100,01020,00770,00580,00410,00310,0075-4,0132,8452,0071,4091,0010,7110,5030,3560,2520,1780,1260,0890,0371,00000,97490,84990,52920,27220,11320,05940,03840,02820,02050,01470,01060,00750,0000Tabel 2. Analisis Ayak9 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Grafik kumulatif dibuat dari hasil seperti yang didalam kolom 2 dan 5 dalam tabel 2. Bilajangkaumenyeluruhukuranpartikel itubesar, pemetaanituseringdilakukandengan menggunakan skala logaritmik untuk diameter. Pemetaan kumulatif semilogaritmik daripada analisis dari tabel 2 diberikan dalam gambar 3.Pemetaan kumulatif itu dapat pula dibuat di atas kertas probabilitas-logaritmik dimana skala absis dibagi sesuai dengan distribusi probabilitas menurut Gauss. Analisa ukuran terhadap hasil dari mesin pemecah atau penggiling biasanya menghasilkan grafik garis lurus di atas kertas itu, sedikitnya untuk sebagian besar jangkau ukurannya. Grafik seperti itu dulu digunakan untuk ekstrapolasi ke ukuran partikel yang lebih kecil dari jangkau ayak penguji, tetapi karena sekarang sudah ada metode untuk mengukur partikel yang sangat kecil, hal tersebut di atas tidak diperlukan lagi.Penentuan Ukuran Partikel Yang Sangat HalusUkuran partikel yangterlalu halus untuk analisis ayak dapat ditentukan dengan berbagai metode, antaralaindengansedimentasi differensial, pengukuranporositas pada hamparan endapan, absorpsi cahaya di dalam suspensi, adsorpsi gas pada permukaan partikel, dan dengan mencacah secara visual di baah mikroskop. Dalam salah satu peranti pengukur, yaituyangdinamakanpencacahCoulter(CoulterCounter), suspensiencerpartikel dibuat didalamzatcairpembawayang bersifat penghantar listrik.Suspensi itu dilewatkan secara perlahan melalui orifice yang sangat halus. Di dalam zat cair melintas orifice itu diberikan penurunan tegangan listrik; arus yang mengalir diantara hulu dan elektrode hilir lalu diukur.III. ALATDAN BAHAN PERCOBAAN Satu set ayakan dan Timbangan.( 1)Tombol Pengatur Frekuensi( 2 )Tombol pengatur waktu( 3 ) Peganggan/ pengikat Bahan arang aktif10 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Gambar AyakanIV. PROSEDUR PERCOBAAN : Ditimbang tokokan dan pan kosong dari alat ayakan. Alat diset sesuai gambar denganurutanpanpalingbawahdanselanjutnya tokokan yang berurutan semakin ke atas nilai Mesh-nya makin kecil. Bahan padat /arang (coal) ditimbang sebanyak 10 gram. Arang dimasukkan ke dalam tokokan paling atas. Alat ayakan dinyalakan sampai waktu dan frekuensi tertentu. Bahan dianalisis dengan dua percobaan berat konstan dan waktu konstan. Pan yang berisi coal ditimbang.V. DATAPENGAMATANMassa konstan = 5 gramT1= 5 menitT2= 10 menitT3 = 15 menitT4 = 20 menitWaktu konstan = 5 menitMassa 1 = 2.1 gramMassa 2 = 5.2 gramMassa 3 = 7.0 gramMassa 4 = 10.2 gram Data Kalibrasi Mesh 1 inchi = 2.54 cmMeshBerat Kosong (gr) Mesh (inchi) Mesh (cm)# 60235.75 0.0098 0.024892# 80236.32 0.0070 0.017780# 100 225.10 0.0059 0.014986# 120 211.45 0.0049 0.012446# 140 225.06 0.0041 0.010414# 170 214.88 0.0035 0.008890Pan 260.76 - -11 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Tabel Data Pengamatan : Massa Konstan = 5 gramMesh Mesh (inchi)5 menit10 menit 15 menit20 menit# 600.0098 3.24 3.24 3.13 3.15# 800.0070 0.33 0.22 0.29 0.26# 100 0.0059 0.09 0.15 0.12 0.12# 120 0.0049 0.29 0.24 0.22 0.22# 140 0.0041 0.07 0.01 0.07 0.08# 170 0.0035 0.04 0.11 0.01 0.03Pan - 1.05 1.06 1.01 1.10Total 5.11 5.03 4.85 4.96Waktu Konstan = 5 menitMesh Mesh (inchi) 2.10gram5.20 gram7.00 gram10.02 gram# 600.0098 1.27 3.51 5.05 6.36# 800.0070 0.18 0.36 0.34 0.41# 100 0.0059 0.05 0.19 0.14 0.21# 120 0.0049 0.18 0.19 0.25 0.39# 140 0.0041 0.04 0.13 0.1 0.12# 170 0.0035 0 0.05 0.02 0.11Pan - 0.46 0.94 1.36 2.47Total 2.18 5.37 7.35 10.07VI. PERHITUNGANs (sifat kebolaan) Coal= 0,73p (densitas partikel) Coal = 1,47 g/cm3Massa konstan variabel waktuLuas permukaan spesifik (30 Hz dalam 5menit)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 3.24/5.11= 0.6341 3.24/5.11= 0.6341 0,0248922 80 0.33/5.11= 0.0646 (3.24+0.33)/5.11= 0.6986 0,017783 100 0.09/5.11= 0.0176 (0.33+0.09)/5.11= 0.0822 0,0148964 120 0.29/5.11= 0.0568 (0.09+0.29)/5.11= 0.0744 0,0124465 140 0.07/5.11= 0.0137 (0.29+0.07)/5.11= 0.0705 0,0104146 170 0.04/5.11= 0.0078 (0.07+0.04)/5.11=0.0215 0,00889Untuk Differensial:12 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Aw = 6 [ 0,634+0,144+ 0,065 + 0,0 18+ 0,0 14+ 0,0 08 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]=52,224 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,634 +0,699+ 0,082 + 0,074+ 0,071+ 0,0 22 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]=103.933 cm2Luas permukaan spesifik (30Hz dalam 10 menit)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 3.24/5.03= 0.6441 3.24/5.03= 0.6441 0,0248922 80 0.22/5.03= 0.0437 (3.24+0.22)/5.03= 0.6879 0,017783 100 0.15/5.03= 0.0298 (0.22+0.15)/5.03= 0.0736 0,0148964 120 0.24/5.03= 0.0477 (0.15+0.24)/5.03= 0.0775 0,0124465 140 0.01/5.03= 0.0019 (0.24+0.01)/5.03= 0.0497 0,0104146 170 0.11/5.03= 0.0219 (0.01+0.11)/5.03= 0.0239 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,644+0,044+ 0,029 + 0,048+ 0,0 02+ 0,0 22 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

=50,441 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,644+0,018+ 0,0149 + 0,012+ 0,010+ 0,009] 0.73 x 1.4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

= 100,751 cm2Luas permukaan spesifik (30Hz dalam 15menit)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 3.13/4.85= 0.6454 3.13/4.85= 0.6454 0,02489213 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)2 80 0.29/4.85= 0.0598 (3.11+0.29)/4.85= 0.7010 0,017783 100 0.12/4.85= 0.0247 (0.29+0.12)/4.85= 0.0845 0,0148964 120 0.22/4.85= 0.0454 (0.12+0.22)/4.85= 0.0701 0,0124465 140 0.07/4.85= 0.0144 (0.22+0.07)/4.85= 0.5979 0,0104146 170 0.01/4.85= 0.0021 (0.07+0.01)/4.85= 0.0165 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,645+0,059+ 0,025 + 0,045+ 0,014+ 0,002 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

=51,906 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,645+0,701 + 0,085 + 0,070+ 0,598+0,017] 0.73 x 1.4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

= 102,593 cm2Luas permukaan spesifik (30Hz dalam 20 menit)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 3.15/4.96= 0.6351 3.15/4.96= 0.6351 0,0248922 80 0.26/4.96= 0.0524 (3.15+0.26)/4.96= 0.6875 0,017783 100 0.12/4.96= 0.0242 (0.26+0.12)/4.96= 0.0766 0,0148964 120 0.22/4.96= 0.0444 (0.12+0.22)/4.96= 0.0685 0,0124465 140 0.08/4.96= 0.0161 (0.22+0.08)/4.96= 0.0605 0,0104146 170 0.03/4.96= 0.0060 (0.08+0.03)/4.96= 0.0221 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,635+0,052+ 0,024 + 0,044+ 0,016+ 0,006 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

=50,755 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,635+0,678+ 0,077 + 0,069+ 0,061+ 0,022 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

= 100,449 cm2Waktu konstan, variasi beratLuas permukaan spesifik (30Hz dalam 5 menit; 2,1 gram)No. Mesh Fraksi Massa yang yang tertahan, Xi14 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Diameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 1.27/2.18= 0.5826 1.27/2.18= 0.5826 0,0248922 800.18/2.18= 0.0826(1.27+0.18)/ 2.18= 0.6651 0,017783 100 0.05/2.18= 0.0229 (0.18+0.05)/ 2.18= 0.1055 0,0148964 120 0.18/2.18= 0.0826 (0.05+0.18)/ 2.18= 0.1055 0,0124465 140 0.04/2.18= 0.0183 (0.18+0.04)/ 2.18= 0.1092 0,0104146 170 0/2.18= 0 (0.04+0)/ 2.18= 0.0183 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,583 +0,082+ 0,023 + 0,083+ 0,0 18+ 0 ] 0.73 x 1.4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

=51,860 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,309 +0,446+ 0,245+ 0,213+ 0,144 + 0,096 +0,199] 0.73 x 1.4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 0,007366]

= 102,514 cm2Luas permukaan spesifik (30Hz dalam 5 menit; 5,2 gram)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 3.51/5.37= 0.6536 3.51/5.37= 0.6536 0,0248922 80 0.36/5.37= 0.0670 (3.51+0.36)/5.37= 0.7207 0,017783 100 0.19/5.37= 0.0354 (0.36+0.19)/5.37= 0.1024 0,0148964 120 0.19/5.37= 0.0354 (0.19+0.19)/5.37= 0.0708 0,0124465 140 0.13/5.37= 0.0242 (0.19+0.13)/5.37= 0.0596 0,0104146 170 0.05/5.37= 0.0093 (0.13+0.05)/5.37= 0.0335 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,654 +0,067+ 0,035 + 0,035+ 0,024+ 0,009] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

=53,612 cm2Untuk Kumulatif :15 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)Aw = 6 [ 0,654 +0,721+ 0,102+ 0,071+ 0,059+ 0,033] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

= 105,633 cm2Luas permukaan spesifik (30Hz dalam 5 menit; 7,0 gram)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 5.05/7.35= 0.6871 5.05/7.35= 0.6871 0,0248922 80 0.34/7.35= 0.0462 (5.05+0.34)/7.35= 0.7333 0,017783 100 0.14/7.35= 0.0190 (0.34+0.14)/7.35= 0.0653 0,0148964 120 0.25/7.35= 0.0340 (0.14+0.25)/7.35= 0.0531 0,0124465 140 0.1/7.35= 0.0136 (0.25+0.1)/7.35= 0.0476 0,0104146 170 0.02/7.35= 0.0027 (0.1+0.02)/7.35= 0.0163 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,687 +0,046+ 0,019 + 0,034+ 0,034+ 0,003 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

=52,763 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,687 +0,733+ 0,065+ 0,053 + 0,048+ 0,016 ] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 0,007366]

= 105,346 cm2Luas permukaan spesifik (30Hz dalam 5 menit, 10,02 gram)No. MeshFraksi Massa yang yang tertahan, XiDiameter partikel rata-rata dalam totokan, DpiDifferensial Kumulatif1 60 6.36/10.07= 0.6316 6.36/10.07= 0.6316 0,0248922 80 0.41/10.07= 0.0407 (6.36+0.41)/10.07= 0.6722 0,017783 100 0.21/10.07= 0.0209 (0.41+0.21)/10.07= 0.0616 0,0148964 120 0.39/10.07= 0.0387 (0.21+0.39)/10.07= 0.0596 0,0124465 140 0.12/10.07= 0.0119 (0.39+0.12)/10.07= 0.0506 0,0104146 170 0.11/10.07= 0.0109 (0.12+0.11)/10.07= 0.0228 0,00889Untuk Differensial ;Aw = 6 [ 0,632 +0,041+ 0,021 + 0,0 39+ 0,0 12+ 0,0 11] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]16 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)

=49,607 cm2Untuk Kumulatif :Aw = 6 [ 0,632+0,672+ 0,062+ 0,059 + 0,051+ 0,023] 0,73 x 1,4[ 0,0248920,01778 0,0148960,0124460,0104140,00899 ]

= 98,497 cm217 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)VII. PEMBAHASAN Pada praktikumoperasi ayakanyangterjadi ini berdasarkanpada standar ayakan tyler, ayakan disusun secara bertingkat dengan jumlah mesh terkecil sampai terbesar ke bawah. Praktikumini memerlukan ketelitian dalampenimbangan coal yangakan diayak, hal ini dimaksudkan untuk akurasi percobaan agar lebih baik. Akurasi jugadiharuskanpadapenimbangantokokanawal kosongdanbisa dipastikan tokokan dalam kondisi bersih. Dalam opersionalnya didapat hasil yang telah diayak, jumlahnya tidak sesuai padapermulaanbahansebelumdiayakdikarenakanalat yangtidaklayaklagi (harus diganti) sehingga menyulitkan proses penimbangan. Waktudanfrekuensi yangditentukan sangat berpengaruhakanhasil dari pengayakan tersebut.18 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)VIII. KESIMPULAN Dari hasil perhitungan didapatkan bahwa semakin besar guncangan yang diberikan maka luas permukaan spesifik yang didapat semakin besar. Begitupun juga bila semakin lama waktu untuk mengguncangkan maka semakin besar pula luas permukaan spesifik yang didapat. Perhitungan luas permukaan spesifikdenganmetode Analisis Differensial lebih kecil hasilnya bila dibandingkan dengan metode Analisis Kumulatif. Padapercobaanoperasiayakaninidiperlukankelihaiandankejeliandalam penimbangan yang didapat. Faktor penyebab berkurangnya jumlah bahan yang diayak haruslah dihindarkan sedini mungkin, seperti angin, kesalahan penimbangan(bisa diakibatkan oleh alat yang tidak layak), atau faktor akurasi lainnya.IX. DAFTAR PUSTAKAAnonimus. 2003. Petunjuk Praktikum Operasi Teknik Kimia, Lab. Operasi Teknik Kimia FT-UMJ. Fakultas Teknik, Jurusan. Kimia Universitas Muhammadiyah Jakarta.Cabe W.L, Mc. and Smith, J.C. 1956. Unit Operation of Chemical Engineering, Mc.Graw Hill Ltd. New YorkSatibi, Lukman Dr. Ir. 2003. Diktat Kuliah Operasi Teknik Kimia, Fakultas Teknik, Jurusan. Kimia Universitas Muhammadiyah Jakarta.JAWABANTUGAS1. Sebutkan analisa kesalahan pada praktikum ?Analisa yang didapat antara lain : Akurasi penimbangan yang kurang akibat alat sudah tidak layak (rusak). Faktor anginsehinggamenyebabkanpadasaat ditimbangkemungkinanakan jatuh kebawah. Proses pembersihan ayakan sebelum dimulai yang kurang bersih. Penglihatan pada waktu ayakan yang kurang ketelitian.19 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving) Human error.2. Gambar Alat Pemecah!Ball Mill cara cutting20 Praktikum Teknik Kimia IV Ayakan (Shieving)